本文由 杭州九環(huán)環(huán)境試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-10 10:00 301閱讀次數(shù)

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• GBT 5170.5 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2018-10-10 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2018-09-14 10:00

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• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法【濕熱試驗設(shè)備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  【雅士林品牌】恒溫恒濕試驗箱規(guī)格型號:型號工作室尺寸D×W×H外型尺寸D×W×HYSL-DHS-100450×450×500mm1150×900×1650mmYSL-DHS-225500×600×750mm1200×1100×1900mmYSL-DHS-500800×700×900mm1350×1280×2200mmYSL-DHS-800800×1000×1000mm1450×1480×2300mmYSL-DHS-0101000×1000×1000mm1650×1480×2300mmhttp://www.bjyashilin.com/product_show-37.html恒溫恒濕箱技術(shù)參數(shù)：溫度范圍：0℃～150℃溫度均勻度：±2℃（空載時）溫度波動度：±0.5℃（空載時）濕度范圍：30%～98%RH（溫度在25℃～80℃時）濕度偏差：+2、-3%RH升溫速率：1.0℃～3.0℃/min降溫速率：0.7℃～1.0℃/min時間設(shè)定范圍：1～9999小時[詳細]

  2018-09-15 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2013-12-27 00:00

  其它

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• 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170濕熱試驗設(shè)備檢測方法規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。GB/T5170濕熱試驗設(shè)備檢測方法部分適用于GB/T2423.3電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗》所用試驗設(shè)備的S次檢驗、驗收檢驗和周期檢驗。[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備檢驗方法

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-19 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

  本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 濕熱試驗設(shè)備檢驗方法

  GB/T5170本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載，檢驗條件，檢驗方法，數(shù)據(jù)處理結(jié)果和檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GBT 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.11-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13檢驗項目14術(shù)語和定義15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):20次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-11-24發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Corrosivegastestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.9-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術(shù)語和定義………………………………………14　檢驗項目…………………………………………15　檢驗用主要儀器及要求…………………………16　檢驗負載…………………………………………27　檢驗條件…………………………………………28　檢驗方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果………………………610　檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗項目的選擇…………7引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):39次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.2-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備。與GB/T5170.21996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;增加了“術(shù)語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗項目;增加了“溫度均勻度”檢驗項目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗項目;增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;增加了“溫度過沖量”檢驗項目;增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目;增加了“噪聲”檢驗項目;刪除了“相對濕度”檢驗項目;在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗負載”一章;修改了“溫度變化速率”的計算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗.試驗B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗.第2-14部分:試驗.試驗N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認,IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):7次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2014-01-09 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備.pdf[詳細]

  2015-06-08 00:00

  操作手冊

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  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備.pdf[詳細]

  2014-10-28 00:00

  課件

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• GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.10-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗第2-13部分:試驗試驗M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-40部分:試驗試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-41部分:試驗試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):49次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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