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• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法【濕熱試驗設(shè)備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細(xì)節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  【雅士林品牌】恒溫恒濕試驗箱規(guī)格型號:型號工作室尺寸D×W×H外型尺寸D×W×HYSL-DHS-100450×450×500mm1150×900×1650mmYSL-DHS-225500×600×750mm1200×1100×1900mmYSL-DHS-500800×700×900mm1350×1280×2200mmYSL-DHS-800800×1000×1000mm1450×1480×2300mmYSL-DHS-0101000×1000×1000mm1650×1480×2300mmhttp://www.bjyashilin.com/product_show-37.html恒溫恒濕箱技術(shù)參數(shù)：溫度范圍：0℃～150℃溫度均勻度：±2℃（空載時）溫度波動度：±0.5℃（空載時）濕度范圍：30%～98%RH（溫度在25℃～80℃時）濕度偏差：+2、-3%RH升溫速率：1.0℃～3.0℃/min降溫速率：0.7℃～1.0℃/min時間設(shè)定范圍：1～9999小時[詳細(xì)]

  2018-09-15 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕

  GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕[詳細(xì)]

  2024-09-20 13:38

  安裝說明

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-12-27 00:00

  其它

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• GBT 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備檢驗方法

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-19 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

  本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-2008 設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.11-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13檢驗項目14術(shù)語和定義15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負(fù)載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):20次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-11-24發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Corrosivegastestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.9-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術(shù)語和定義………………………………………14　檢驗項目…………………………………………15　檢驗用主要儀器及要求…………………………16　檢驗負(fù)載…………………………………………27　檢驗條件…………………………………………28　檢驗方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果………………………610　檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗項目的選擇…………7引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):39次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.2-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備。與GB/T5170.21996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;增加了“術(shù)語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗項目;增加了“溫度均勻度”檢驗項目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗項目;增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;增加了“溫度過沖量”檢驗項目;增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目;增加了“噪聲”檢驗項目;刪除了“相對濕度”檢驗項目;在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗負(fù)載”一章;修改了“溫度變化速率”的計算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負(fù)載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗.試驗B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗.第2-14部分:試驗.試驗N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認(rèn)（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認(rèn),IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):7次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品 濕熱試驗設(shè)備》

  GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗設(shè)備》為國家標(biāo)準(zhǔn)，由信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所起草。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備公司生產(chǎn)的高低溫濕熱交變試驗箱參照改標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，為廣大用戶滿意產(chǎn)品，成為行業(yè)重要的供應(yīng)商。其中5.1條款對溫度測量儀器、濕度測量儀器、風(fēng)速測量儀器、噪聲測量儀器等都做了詳細(xì)的介紹和規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-10-10 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2014-01-09 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-15 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_溫度試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_溫度試驗設(shè)備售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營:溫度試驗箱;高溫試驗箱;低溫試驗箱;高低溫試驗箱;高低溫交變試驗箱;濕熱試驗箱;高溫高濕試驗箱;恒定濕熱試驗箱;高低溫恒定濕熱試驗箱;高低溫交變濕熱試驗箱;溫變試驗箱;快速溫度變化試驗箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗箱;環(huán)境試驗室;步入式高溫試驗室;步入式高低溫試驗室;步入式高低溫恒定濕熱試驗室;步入式高低溫交變濕熱試驗室;高溫試驗箱;真空干燥箱;耐候試驗箱;紫外耐候試驗箱;鹽霧試驗箱;鹽霧腐蝕試驗箱；模擬運(yùn)輸振動臺;跌落試驗臺;蒸氣老化試驗機(jī)等其它環(huán)境試驗設(shè)備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)1號樓7單元502室　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系電話：010-6799652067957820　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系傳真：010-67965617聯(lián)系手機(jī)：15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人：李　慧（小姐）聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址：http://www.a5317.com　http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛儀器熱線：400-0000-217[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-28 00:31

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