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GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品 低溫試驗方法
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本文由 杭州九環(huán)環(huán)境試驗設(shè)備有限公司 整理匯編
2024-09-28 02:41 868閱讀次數(shù)
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GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
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GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品 低溫試驗方法
- GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試規(guī)程試驗A:低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2024-09-28 02:41
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.1-1989 試驗A:低溫試驗方法
- GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試規(guī)程試驗A:低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.1-1989 試驗A:低溫試驗方法
- 附件資料內(nèi)容關(guān)于《GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法》的詳細(xì)分析紹,由東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司提供,下載請注明出處,謝謝合作!了解更多相關(guān)內(nèi)容,可撥打13600248795余小姐,竭誠為您服務(wù)![詳細(xì)]
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2018-10-23 10:31
產(chǎn)品樣冊
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GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法
- GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2014-05-22 00:00
安裝說明
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GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法
- GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2014-03-04 00:00
報價單
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GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法.pdf
- GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法.pdf[詳細(xì)]
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2014-12-11 00:00
選購指南
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GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB/T2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢替代情況:替代GB2423.1-81;被GB/T2423.1-2001[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB2423.01 2001 電工電子產(chǎn)品 試驗A低溫試驗方法
- GB2423.012001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 低溫試驗方法
- 北京恒泰豐科試驗設(shè)備有限公司是專業(yè)生產(chǎn)低溫試驗箱廠家,可以根據(jù)客戶要求訂做非標(biāo)產(chǎn)品。公司主要產(chǎn)品有高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,溫度沖擊試驗箱,鹽霧試驗箱,氙燈耐候試驗箱,紫外老化試驗箱,臭氧老化試驗箱,真空干燥試驗箱,電熱鼓風(fēng)干燥箱,換氣老化試驗箱,電池檢測試驗設(shè)備,淋雨試驗設(shè)備,振動試驗機,藥品穩(wěn)定試驗箱,砂塵試驗箱,培養(yǎng)試驗箱,防銹油脂試驗箱,大型試驗室等[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
- GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2_部分:試驗方法_試驗B:高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標(biāo)準(zhǔn)的第2部分,GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2:2007(環(huán)境試驗第2-2部分:試驗試驗B:干熱)。本部分與IEC60068-2-2:2007相比,主要做了下列編輯性修改:--本部分的名稱改為:(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫);--"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為:"本部分";--刪除了IEC60068-2-2:2007前言;--刪除了IEC60068-2-2:2007引言,將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;[詳細(xì)]
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2018-10-25 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 2423.1-1989 環(huán)境試驗規(guī)程 低溫試驗方法
- GBT2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法.pdf[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電子產(chǎn)品低溫試驗方法
- 電子產(chǎn)品低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2015-08-20 00:00
選購指南
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電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法
- 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2024-09-17 01:54
其它
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GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品 濕熱試驗設(shè)備》
- GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗設(shè)備》為國家標(biāo)準(zhǔn),由信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所起草。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備公司生產(chǎn)的高低溫濕熱交變試驗箱參照改標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn),為廣大用戶滿意產(chǎn)品,成為行業(yè)重要的供應(yīng)商。其中5.1條款對溫度測量儀器、濕度測量儀器、風(fēng)速測量儀器、噪聲測量儀器等都做了詳細(xì)的介紹和規(guī)定。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗碰撞
- GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞[詳細(xì)]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)高溫試驗
- GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)高溫試驗標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定高溫試驗的目的是確認(rèn)電子電工產(chǎn)品元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、儲存、運輸?shù)哪芰?。高溫試驗箱的技術(shù)要求要達到和滿足GB/T2423.2-2008要求。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫試驗箱系列產(chǎn)品執(zhí)行該標(biāo)準(zhǔn)。[詳細(xì)]
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2024-09-28 01:55
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗B:高溫試驗方法
- GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗B:高溫試驗方法標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢代替情況:被GB/T2423.2-2001代替[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 A低溫試驗方法
- GBT2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A 低溫試驗方法
- GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導(dǎo)則[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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