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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

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2018-09-03 10:00 804閱讀次數(shù)

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中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法【濕熱試驗設備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設備領域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關標準或產(chǎn)品技術資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！

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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法【濕熱試驗設備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設備領域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關標準或產(chǎn)品技術資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]
2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

【雅士林品牌】恒溫恒濕試驗箱規(guī)格型號:型號工作室尺寸D×W×H外型尺寸D×W×HYSL-DHS-100450×450×500mm1150×900×1650mmYSL-DHS-225500×600×750mm1200×1100×1900mmYSL-DHS-500800×700×900mm1350×1280×2200mmYSL-DHS-800800×1000×1000mm1450×1480×2300mmYSL-DHS-0101000×1000×1000mm1650×1480×2300mmhttp://www.bjyashilin.com/product_show-37.html恒溫恒濕箱技術參數(shù)：溫度范圍：0℃～150℃溫度均勻度：±2℃（空載時）溫度波動度：±0.5℃（空載時）濕度范圍：30%～98%RH（溫度在25℃～80℃時）濕度偏差：+2、-3%RH升溫速率：1.0℃～3.0℃/min降溫速率：0.7℃～1.0℃/min時間設定范圍：1～9999小時[詳細]
2018-09-15 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備標準簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。[詳細]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕

GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕[詳細]
2024-09-20 13:38
安裝說明
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2013-12-27 00:00
其它
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GBT 5170.5-2008 濕熱試驗設備檢驗方法

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2013-11-19 00:00
標準
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備標準

本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]
2018-10-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備

GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-2008 設備檢驗方法濕熱試驗設備

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

標準編號:GB/T5170.11-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備代替標準號:GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13檢驗項目14術語和定義15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):20次標準上傳日期:2010-11-24發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Corrosivegastestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備

標準編號:GB/T5170.9-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備代替標準號:GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術語和定義………………………………………14　檢驗項目…………………………………………15　檢驗用主要儀器及要求…………………………16　檢驗負載…………………………………………27　檢驗條件…………………………………………28　檢驗方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果………………………610　檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗項目的選擇…………7引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):39次標準上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

標準編號:GB/T5170.2-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備代替標準號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備,標準簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備。與GB/T5170.21996相比,技術內容主要有如下變化:標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;增加了“術語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗項目;增加了“溫度均勻度”檢驗項目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗項目;增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;增加了“溫度過沖量”檢驗項目;增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目;增加了“噪聲”檢驗項目;刪除了“相對濕度”檢驗項目;在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗負載”一章;修改了“溫度變化速率”的計算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗.試驗B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗.第2-14部分:試驗.試驗N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認,IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):7次標準上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗設備》

GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗設備》為國家標準，由信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所起草。本標準規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。武漢尚測試驗設備公司生產(chǎn)的高低溫濕熱交變試驗箱參照改標準生產(chǎn)，為廣大用戶滿意產(chǎn)品，成為行業(yè)重要的供應商。其中5.1條款對溫度測量儀器、濕度測量儀器、風速測量儀器、噪聲測量儀器等都做了詳細的介紹和規(guī)定。[詳細]
2018-10-08 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5 環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
2018-10-10 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備

GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備[詳細]
2014-01-09 00:00
標準
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備[詳細]
2013-11-15 00:00
標準
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_溫度試驗設備

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2018-09-04 10:00
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

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2024-09-28 00:31
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