本文由 中科美其（北京）科技有限公司 整理匯編

2018-09-05 10:00 727閱讀次數(shù)

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• GB_T2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第二部分.試驗(yàn)方法.試驗(yàn)FC：（正弦）

  GB_T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第二部分.試驗(yàn)方法.試驗(yàn)FC：（正弦）本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的電磁式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB_T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)

  GB_T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司提供的高低溫試驗(yàn)箱或高溫恒溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。高低試驗(yàn)箱可以做150℃以下的高低溫試驗(yàn)，高溫恒溫箱可以做室溫+10℃~200；300；400℃的試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）

  GBT2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）

  GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法》按試驗(yàn)方法分為若干部分。本部分為GB/T2423的第10部分。GB/T2423.10-2008代替GB/T2423.10-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）》，與其相比，本部分增加了數(shù)字信號(hào)控制和數(shù)字濾波方面的技術(shù)內(nèi)容。對(duì)原有的內(nèi)容也有刪改和補(bǔ)充。本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-6：1995，是對(duì)GB/T2423.10-1995的修訂。本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了用以確定件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷度正弦振動(dòng)的能力的試驗(yàn)方法，目的是確定樣品機(jī)械薄弱環(huán)節(jié)和特性降低情況。電磁振動(dòng)臺(tái)通過電磁感應(yīng)現(xiàn)象，試驗(yàn)臺(tái)產(chǎn)生機(jī)械式振動(dòng)，模擬產(chǎn)品在產(chǎn)生、運(yùn)輸和使用過程中所遭受的振動(dòng)環(huán)境，從而對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行篩選和改進(jìn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）

  GBT2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

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• GB/T2423.10-2008代替GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）

  GB/T2423.10-2008代替GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）本部分等同采用IEC60068-2-6：1995《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）》免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)(正弦).pdf

  GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)(正弦).pdf[詳細(xì)]

  2015-01-12 00:00

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• GBT 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg：撞擊 彈簧錘

  GB/T2423.44-1995《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試樣方法試驗(yàn)Eg：撞擊彈簧錘》為中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)，與1995年實(shí)施。GB/T2423.44-1995提供了一種確定電子電工產(chǎn)品經(jīng)受嚴(yán)酷等級(jí)撞擊能力的標(biāo)準(zhǔn)方法，在評(píng)定產(chǎn)品的安全性是，用以論證可接受的強(qiáng)度等級(jí)。符合GB/T2423.44-1995的撞擊試驗(yàn)用于手持彈簧錘對(duì)家用及類似用途的電工電子設(shè)備及其附件以及類似設(shè)備按規(guī)定方向、能量和次數(shù)進(jìn)行撞擊的試驗(yàn)方法。GB/T2423.44-1995采用了GB/T2298-91中的機(jī)械振動(dòng)與沖擊術(shù)語。GB/T2423.44-1995由上海市電子儀表標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量測(cè)試所、機(jī)械部上海電器科學(xué)研究所起草，主要起草人：尹兆明、何錦康、于占泉。武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供參照GB/T2423.44-1995《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試樣方法試驗(yàn)Eg：撞擊彈簧錘》標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的各種彈簧錘，并免費(fèi)一年維修服務(wù)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則 長(zhǎng)霉

  GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則長(zhǎng)霉免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:02

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司的高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫

  GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫免費(fèi)下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)綜合試驗(yàn)方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)的基本要求，嚴(yán)酷等級(jí)，試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動(dòng)（正弦）綜合作用下的貯存，運(yùn)輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。更多資料信息請(qǐng)下載瀏覽附件[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法沙塵試驗(yàn)

  本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對(duì)產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)方法不適用于檢測(cè)空氣過濾器，只有試驗(yàn)方法Lc2適用于模擬高速粒子的腐蝕效應(yīng)。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法高溫

  本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：[詳細(xì)]

  2024-10-03 20:15

  專利

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• GB-T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試

  GB-T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異。本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法高濃度二氧化硫試驗(yàn)

  本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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