資料庫
儀器網(wǎng)>
資料庫>CDE resmap 168 全自動(dòng)四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
CDE resmap 168 全自動(dòng)四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
-
本文由 上海瞬渺光電技術(shù)有限公司 整理匯編
2016-10-18 14:23 729閱讀次數(shù)
文檔僅可預(yù)覽首頁內(nèi)容，請(qǐng)下載后查看全文信息！
-
立即下載
CDE resmap 168 全自動(dòng)四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
相關(guān)產(chǎn)品
登錄或新用戶注冊(cè)
請(qǐng)用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊(cè)新賬號(hào)
微信掃碼，手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)
更多資料
-
CDE resmap 168 全自動(dòng)四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)- CDE resmap 168 全自動(dòng)四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-18 14:23
專利
-
- CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-30 13:39
期刊論文
-
- 四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-30 00:11
報(bào)價(jià)單
-
四探針電阻率測(cè)試儀DK32-KDY-4- 四探針電阻率測(cè)試儀DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探針電阻率測(cè)試儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測(cè)試儀存在的問題加以改進(jìn)。整套儀器有如下特點(diǎn)：1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示硅片電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表適時(shí)監(jiān)測(cè)全過程中的電流變化，使操作更簡(jiǎn)便，測(cè)量更極ng確。數(shù)字電壓表量程：0199.9mV靈敏度：100μV輸入阻抗：1000ΜΩ基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）2、可測(cè)電阻率范圍：1031.9×103Ωcm。可測(cè)方塊電阻范圍：1021.9×104Ω/□。3、設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測(cè)量電流流過時(shí)，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測(cè)量電流渡過單晶時(shí)，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對(duì)測(cè)量的干擾。4、流經(jīng)硅片的測(cè)量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測(cè)量精度＜3%。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。6、四探針頭采用國際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測(cè)量重復(fù)性提高[詳細(xì)]
-
2018-10-07 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
- 四探針方阻 電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 四探針方阻 電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-27 23:58
報(bào)價(jià)單
-
- 四點(diǎn)探針測(cè)試儀 四點(diǎn)探針 CDE
- 四點(diǎn)探針測(cè)試儀 四點(diǎn)探針 CDE[詳細(xì)]
-
2024-09-28 13:20
報(bào)價(jià)單
-
- 四探針電阻率測(cè)試儀的使用方法
- 一、參數(shù)指標(biāo)
測(cè)量半導(dǎo)電電阻率時(shí)： 電阻率10-5--105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm
測(cè)量其他（電線電纜）電阻時(shí)： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、測(cè)試四探針筆
一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：
1、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接
2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可。
3、特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。
4、安裝時(shí)銅片及絕緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲，
5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部[詳細(xì)]
-
2024-09-11 17:53
其它
-
- 進(jìn)口四探針電阻率測(cè)試儀(4PP)/方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 進(jìn)口四探針電阻率測(cè)試儀(4PP)/方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-16 03:38
課件
-
- 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀測(cè)試原理
- 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器。它采用了四個(gè)探針，通過測(cè)量材料電阻對(duì)電流的響應(yīng)來計(jì)算出材料的電阻率。下面將詳細(xì)介紹這種測(cè)試儀的原理和工作過程。
我們需要了解什么是電阻率。電阻率是材料對(duì)電流的阻礙程度的度量，通常用符號(hào)ρ表示，單位是Ω·m。電阻率越小，材料的導(dǎo)電性越好。而電阻則是電阻率與材料長(zhǎng)度和橫截面積的乘積，可以用來描述材料的電阻大小。
四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀通過將四個(gè)探針嵌入待測(cè)試的材料中，形成一個(gè)測(cè)量電流的電路。其中兩個(gè)探針用于施加電壓，另外兩個(gè)探針用于測(cè)量電流。通過測(cè)量電壓和電流的關(guān)系，就可以計(jì)算出材料的電阻率。
具體的測(cè)試過程如下：
1. 首先，將待測(cè)試的材料放置在測(cè)試儀的測(cè)試臺(tái)上，并將四個(gè)探針插入材料中。為了確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，探針應(yīng)該均勻分布在材料表面，并且彼此之間的距離應(yīng)該足夠遠(yuǎn)。
2. 接下來，通過測(cè)試儀的控制面板設(shè)置測(cè)量參數(shù)，包括施加的電壓和測(cè)量的電流范圍。通常，電壓的大小應(yīng)該適中，既能夠產(chǎn)生足夠大的電流，又不會(huì)損壞材料。
3. 當(dāng)設(shè)置好參數(shù)后，開始進(jìn)行測(cè)量。測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)施加電壓，并通過另外兩個(gè)探針測(cè)量電流。根據(jù)歐姆定律，[詳細(xì)]
-
2023-10-11 16:18
其它
-
- 高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊(cè)
- 高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-11 17:59
其它
-
- 四探針/電阻率/方塊電阻測(cè)試
- 四探針/電阻率/方塊電阻測(cè)試[詳細(xì)]
-
2024-09-13 17:06
標(biāo)準(zhǔn)
-
- jjg 508-2004 四探針電阻率測(cè)試儀檢定規(guī)程.pdf
- jjg 508-2004 四探針電阻率測(cè)試儀檢定規(guī)程.pdf[詳細(xì)]
-
2015-05-12 00:00
專利
-
- 玖久便攜式四探針電阻率測(cè)試儀簡(jiǎn)單介紹
- 玖久便攜式四探針電阻率測(cè)試儀簡(jiǎn)單介紹我公司向您介紹的便攜式電阻測(cè)度儀是用來測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ωcm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。產(chǎn)品技術(shù)性能：（1）測(cè)量范圍：可測(cè)量電阻率：0.01～199.9Ωcm?？蓽y(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ωcm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC0.1mA～10mA分兩檔10mA量程：0.1～1mA連續(xù)可調(diào)10mA量程：1mA～10mA連續(xù)可調(diào)恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%適合測(cè)量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測(cè)量范圍：0～199.9mv靈敏度：100μv準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）（4）供電電源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用環(huán)境：相對(duì)濕度≤80%（6）重量、體積重量：2.2公斤體積：寬210×高100×深240（mm）（7）KD探針頭壓痕直徑：30/50μm間距：1.00mm探針合力：8±1N針材：TC[詳細(xì)]
-
2018-10-07 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
- 方阻儀/四探針電阻率檢測(cè)儀KDK-KDY-1
- 低阻型四探針檢測(cè)儀/方阻儀/四探針電阻率檢測(cè)儀型號(hào);KDK-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆厘米，分辨率為10-5歐姆厘米方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，Z小分辨率為10-4歐姆/□（3）可測(cè)量材料：半導(dǎo)體材料硅鍺棒、塊、片、導(dǎo)電薄膜等可準(zhǔn)確測(cè)量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥20可測(cè)量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥8（4）測(cè)量方式：平面測(cè)量。（5）電壓表：雙數(shù)字電壓表，可同時(shí)觀察電流、電壓變化A.量程0~19.999mVB.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)C.靈敏度：1uVD輸入阻抗1000MΩE41/2位數(shù)字顯示，0～19999（6）恒流源：A.電流輸出：直流電流0.003～100mA連續(xù)可調(diào)，有交流電源供給B.量程：10uA，100uA，1mA，10mA，100mA五檔C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%（7）四探針測(cè)試探頭A.探頭間距1.59B.探針機(jī)械游率：±0.3%C.探針直徑0.8D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。（8）測(cè)試架：（選配）手動(dòng)測(cè)試架：KDJ-1A型手動(dòng)測(cè)試架探頭上下由手動(dòng)操作，可以用作斷面單晶棒和硅片測(cè)試，探針頭可上下移動(dòng)距離：120mm，測(cè)試臺(tái)面200x200(mm)。（9）精度電器精度：1-1000歐姆≤0.3%整機(jī)測(cè)量精度：1-100歐姆厘米≤3%（10）電流：220V±10%，50HZ，功率消耗35W注：如果測(cè)金屬粉末電阻率必把樣品壓成塊或片才能測(cè)[詳細(xì)]
-
2018-09-24 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
- KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x
- KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA的電阻率測(cè)量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x在功能上[詳細(xì)]
-
2025-06-27 14:58
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
- KLA R50 四探針電阻率測(cè)量?jī)x
- KLA R50 四探針電阻率測(cè)繪系統(tǒng)是KLA電阻測(cè)試系列的產(chǎn)品。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。KLA R50 四探針電阻率測(cè)量?jī)x在金屬[詳細(xì)]
-
2025-06-27 14:59
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
- 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)
- 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-19 17:05
選購指南
-
- 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)
- 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-19 17:45
選購指南
-
- 在線電導(dǎo)率/電阻率/鹽濃度 (電導(dǎo)率·電阻率)（DDG-3080）產(chǎn)品樣冊(cè)
- 在線電導(dǎo)率/電阻率/鹽濃度 (電導(dǎo)率·電阻率)（DDG-3080）產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-28 06:53
其它
-
- KDY-1A四探針電阻率測(cè)定儀使用說明書
- 使用方法：（1）在背板上電源插座插好電源線、四探針頭連接線，檢查保險(xiǎn)絲管有無松動(dòng)。（2）打開背板上的電源開關(guān)（將I按下）此時(shí)面板上的數(shù)字表及各控制開關(guān)上均有指示燈點(diǎn)亮。（3）從左向右，察看控制開關(guān)，先將電流換檔開關(guān)置于“1mA”,在測(cè)硅片、硅塊時(shí)ρ/R置于“ρ”，在測(cè)方塊電阻時(shí)ρ/R置于“R”，校準(zhǔn)/測(cè)量檔選在“校準(zhǔn)”。（4）將四探針頭壓在樣品上，此時(shí)數(shù)字表上顯示的是測(cè)量電流;如選用間距為1.00mm的四探針頭，在10mA檔時(shí),調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，即I=6.28mA。在1mA檔時(shí),調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示62.8，即I=0.628mA。如選用間距為1.59mm的四探針頭，在10mA檔時(shí),調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示10.0，即I=10mA。在1mA檔時(shí),調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示100.0，即I=1mA。（5）將Z右邊的按鈕按下，測(cè)量燈亮。此時(shí)數(shù)字表上顯示的是欲測(cè)樣品電阻率，樣品電阻率在1.0Ωcm至199.9Ωcm之間均可用此檔（1mA）測(cè)量，如數(shù)字表顯示1，后三位全不顯示時(shí)，表示材料電阻率大于200Ωcm。（6）電流選擇電阻率≥1Ωcm時(shí)選用1mA檔測(cè)量。方塊電阻≥10Ω/□時(shí)選用1mA檔測(cè)量。電阻率≤1Ωcm時(shí)選用10mA檔測(cè)量。方塊電阻≤10Ω/□時(shí)選用10mA檔測(cè)量。例如:選用間距為1.00mm的四探針頭，當(dāng)電流換檔開關(guān)按到10mA檔燈亮，將測(cè)量/校準(zhǔn)開關(guān)按至“校準(zhǔn)”燈亮，調(diào)節(jié)下面的粗、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，此時(shí)測(cè)量電流即為6.28mA。將測(cè)量/校準(zhǔn)開關(guān)按至測(cè)量時(shí)燈亮，此時(shí)讀出的數(shù)即是電阻率值，測(cè)量范圍在0.01至1.00Ωcm，如數(shù)字表顯示0.00時(shí)，即表示材料電阻率很低，已小于0.01Ωcm。測(cè)量硅片電阻率時(shí)，請(qǐng)先用卡尺測(cè)出厚度，再在校準(zhǔn)檔按附表調(diào)節(jié)好電流后，轉(zhuǎn)到測(cè)量檔即可方便讀出電阻率數(shù)。文章來源：北京綠野創(chuàng)能機(jī)電設(shè)備有限公司[詳細(xì)]
-
2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
Copyright 2004-2026 yiqi.com All Rights Reserved , 未經(jīng)書面授權(quán) , 頁面內(nèi)容不得以任何形式進(jìn)行復(fù)制
在線留言
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)
參與評(píng)論
登錄后參與評(píng)論