本文由 上海瞬渺光電技術(shù)有限公司 整理匯編

2024-09-28 13:20 796閱讀次數(shù)

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  四點(diǎn)探針測試儀 四點(diǎn)探針 CDE[詳細(xì)]

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  氣相色譜儀四點(diǎn)操作需注意[詳細(xì)]

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  2024-09-30 13:39

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  2024-09-16 12:30

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  CDE resmap 168 全自動四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2016-10-18 14:23

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  手機(jī)玻璃四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:48

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  四探針電阻率測試儀DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進(jìn)。整套儀器有如下特點(diǎn)：1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更極ng確。數(shù)字電壓表量程：0199.9mV靈敏度：100μV輸入阻抗：1000ΜΩ基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）2、可測電阻率范圍：1031.9×103Ωcm?？蓽y方塊電阻范圍：1021.9×104Ω/□。3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測量精度＜3%。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。6、四探針頭采用國際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高[詳細(xì)]

  2018-10-07 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 探針微定位器,適合各種探針和探針臺的定位器.

  探針微定位器,適合各種探針和探針臺的定位器.[詳細(xì)]

  2013-10-24 00:00

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  液晶屏玻璃三/四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2016-10-19 17:08

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• 四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-30 00:11

  報(bào)價(jià)單

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• 四探針電阻率測試儀的使用方法

  一、參數(shù)指標(biāo) 測量半導(dǎo)電電阻率時： 電阻率10-5--105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm 測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ 二、測試四探針筆 一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作： 1、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接 2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可。 3、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。 4、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲， 5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:53

  其它

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• JB-T 7716-1995 焊接接頭 四點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)方法

  JB-T7716-1995焊接接頭四點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-09-20 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 探針電子束光刻機(jī)（掃描探針電子束光刻系統(tǒng)P-SPL21）

  公司推出的探針電子束光刻機(jī)P-SPL21,利用探針在近光刻膠表面發(fā)射低能電子的原理實(shí)現(xiàn)光刻效果。該系統(tǒng)的主要特點(diǎn)在于： （1）幾乎無鄰近效應(yīng)，能實(shí)現(xiàn)3-5nm線寬的超精細(xì)光刻結(jié)構(gòu)； （2）用于發(fā)射電子的探針同時具有原子力顯微鏡功能，能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級精準(zhǔn)定位并原位測量曝光圖型； （3）超高寫場拼接精度（≤2nm），且能夠抑制電子束長時間產(chǎn)生的空間漂移（≤5nm）。 百及納米科技的探針電子束光刻系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)光刻與原子力顯微鏡表征的雙重功能，是一款理想的用于微納制造和表征尺寸小于5nm線寬結(jié)構(gòu)的一體化系統(tǒng)。[詳細(xì)]

  2024-09-14 06:17

  產(chǎn)品樣冊

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• 探針測試臺 GSZ-ST-102A

  探針測試臺/測試臺/中測臺/點(diǎn)測機(jī)型號；GSZ-ST-102AGSZ-ST-102A型探針測試臺、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技　術(shù)　指　標(biāo)：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4"光學(xué)參數(shù)總放大率：50-100倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；精密旋轉(zhuǎn)臺粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；Z小刻劃：1°；銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制；Z多可布三維探針座6個；探針臂伸出長度：60mm；探針長度：40mm；探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調(diào)架2個、探針臂2支、探針2支。可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。[詳細(xì)]

  2018-09-24 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 開爾文探針掃描系統(tǒng)

  開爾文探針掃描系統(tǒng)[詳細(xì)]

  2024-09-21 18:29

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 三點(diǎn)彎曲和四點(diǎn)彎曲的試驗(yàn)方法區(qū)別

  三點(diǎn)彎曲和四點(diǎn)彎曲的試驗(yàn)方法區(qū)別[詳細(xì)]

  2013-05-07 00:00

  選購指南

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• 在山區(qū)使用蟲情測報(bào)燈應(yīng)注意四點(diǎn)

  在山區(qū)使用蟲情測報(bào)燈應(yīng)注意四點(diǎn)[詳細(xì)]

  2015-05-05 00:00

  安裝說明

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• 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀測試原理

  四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器。它采用了四個探針，通過測量材料電阻對電流的響應(yīng)來計(jì)算出材料的電阻率。下面將詳細(xì)介紹這種測試儀的原理和工作過程。 我們需要了解什么是電阻率。電阻率是材料對電流的阻礙程度的度量，通常用符號ρ表示，單位是Ω·m。電阻率越小，材料的導(dǎo)電性越好。而電阻則是電阻率與材料長度和橫截面積的乘積，可以用來描述材料的電阻大小。 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀通過將四個探針嵌入待測試的材料中，形成一個測量電流的電路。其中兩個探針用于施加電壓，另外兩個探針用于測量電流。通過測量電壓和電流的關(guān)系，就可以計(jì)算出材料的電阻率。 具體的測試過程如下： 1. 首先，將待測試的材料放置在測試儀的測試臺上，并將四個探針插入材料中。為了確保測量的準(zhǔn)確性，探針應(yīng)該均勻分布在材料表面，并且彼此之間的距離應(yīng)該足夠遠(yuǎn)。 2. 接下來，通過測試儀的控制面板設(shè)置測量參數(shù)，包括施加的電壓和測量的電流范圍。通常，電壓的大小應(yīng)該適中，既能夠產(chǎn)生足夠大的電流，又不會損壞材料。 3. 當(dāng)設(shè)置好參數(shù)后，開始進(jìn)行測量。測試儀會自動施加電壓，并通過另外兩個探針測量電流。根據(jù)歐姆定律，[詳細(xì)]

  2023-10-11 16:18

  其它

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• 四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-27 23:58

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