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2018-09-24 10:01 506閱讀次數(shù)

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• 方阻儀/四探針電阻率檢測儀KDK-KDY-1

  低阻型四探針檢測儀/方阻儀/四探針電阻率檢測儀型號;KDK-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆厘米，分辨率為10-5歐姆厘米方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，Z小分辨率為10-4歐姆/□（3）可測量材料：半導(dǎo)體材料硅鍺棒、塊、片、導(dǎo)電薄膜等可準(zhǔn)確測量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥20可測量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥8（4）測量方式：平面測量。（5）電壓表：雙數(shù)字電壓表，可同時觀察電流、電壓變化A.量程0~19.999mVB.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)C.靈敏度：1uVD輸入阻抗1000MΩE41/2位數(shù)字顯示，0～19999（6）恒流源：A.電流輸出：直流電流0.003～100mA連續(xù)可調(diào)，有交流電源供給B.量程：10uA，100uA，1mA，10mA，100mA五檔C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%（7）四探針測試探頭A.探頭間距1.59B.探針機(jī)械游率：±0.3%C.探針直徑0.8D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。（8）測試架：（選配）手動測試架：KDJ-1A型手動測試架探頭上下由手動操作，可以用作斷面單晶棒和硅片測試，探針頭可上下移動距離：120mm，測試臺面200x200(mm)。（9）精度電器精度：1-1000歐姆≤0.3%整機(jī)測量精度：1-100歐姆厘米≤3%（10）電流：220V±10%，50HZ，功率消耗35W注：如果測金屬粉末電阻率必把樣品壓成塊或片才能測[詳細(xì)]

  2018-09-24 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 四探針 方阻儀 方阻計(jì)產(chǎn)品樣冊

  四探針 方阻儀 方阻計(jì)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-28 03:20

  報價單

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• 四探針電阻率測試儀DK32-KDY-4

  四探針電阻率測試儀DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進(jìn)。整套儀器有如下特點(diǎn)：1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更極ng確。數(shù)字電壓表量程：0199.9mV靈敏度：100μV輸入阻抗：1000ΜΩ基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）2、可測電阻率范圍：1031.9×103Ωcm。可測方塊電阻范圍：1021.9×104Ω/□。3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測量精度＜3%。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。6、四探針頭采用國際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高[詳細(xì)]

  2018-10-07 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 四探針/電阻率/方塊電阻測試

  四探針/電阻率/方塊電阻測試[詳細(xì)]

  2024-09-13 17:06

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-30 00:11

  報價單

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• 四探針電阻率測試儀的使用方法

  一、參數(shù)指標(biāo) 測量半導(dǎo)電電阻率時： 電阻率10-5--105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm 測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ 二、測試四探針筆 一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作： 1、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接 2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可。 3、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。 4、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲， 5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:53

  其它

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• KLA R54 四探針電阻率測量儀

  KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。KLA R54 四探針電阻率測量儀在功能上[詳細(xì)]

  2025-06-27 14:58

  產(chǎn)品樣冊

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• KLA R50 四探針電阻率測量儀

  KLA R50 四探針電阻率測繪系統(tǒng)是KLA電阻測試系列的產(chǎn)品。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。KLA R50 四探針電阻率測量儀在金屬[詳細(xì)]

  2025-06-27 14:59

  產(chǎn)品樣冊

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• KDY-1A四探針電阻率測定儀使用說明書

  使用方法：（1）在背板上電源插座插好電源線、四探針頭連接線，檢查保險絲管有無松動。（2）打開背板上的電源開關(guān)（將I按下）此時面板上的數(shù)字表及各控制開關(guān)上均有指示燈點(diǎn)亮。（3）從左向右，察看控制開關(guān)，先將電流換檔開關(guān)置于“1mA”,在測硅片、硅塊時ρ/R置于“ρ”，在測方塊電阻時ρ/R置于“R”，校準(zhǔn)/測量檔選在“校準(zhǔn)”。（4）將四探針頭壓在樣品上，此時數(shù)字表上顯示的是測量電流;如選用間距為1.00mm的四探針頭，在10mA檔時,調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，即I=6.28mA。在1mA檔時,調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示62.8，即I=0.628mA。如選用間距為1.59mm的四探針頭，在10mA檔時,調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示10.0，即I=10mA。在1mA檔時,調(diào)節(jié)粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示100.0，即I=1mA。（5）將Z右邊的按鈕按下，測量燈亮。此時數(shù)字表上顯示的是欲測樣品電阻率，樣品電阻率在1.0Ωcm至199.9Ωcm之間均可用此檔（1mA）測量，如數(shù)字表顯示1，后三位全不顯示時，表示材料電阻率大于200Ωcm。（6）電流選擇電阻率≥1Ωcm時選用1mA檔測量。方塊電阻≥10Ω/□時選用1mA檔測量。電阻率≤1Ωcm時選用10mA檔測量。方塊電阻≤10Ω/□時選用10mA檔測量。例如:選用間距為1.00mm的四探針頭，當(dāng)電流換檔開關(guān)按到10mA檔燈亮，將測量/校準(zhǔn)開關(guān)按至“校準(zhǔn)”燈亮，調(diào)節(jié)下面的粗、細(xì)調(diào)旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，此時測量電流即為6.28mA。將測量/校準(zhǔn)開關(guān)按至測量時燈亮，此時讀出的數(shù)即是電阻率值，測量范圍在0.01至1.00Ωcm，如數(shù)字表顯示0.00時，即表示材料電阻率很低，已小于0.01Ωcm。測量硅片電阻率時，請先用卡尺測出厚度，再在校準(zhǔn)檔按附表調(diào)節(jié)好電流后，轉(zhuǎn)到測量檔即可方便讀出電阻率數(shù)。文章來源：北京綠野創(chuàng)能機(jī)電設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀測試原理

  四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器。它采用了四個探針，通過測量材料電阻對電流的響應(yīng)來計(jì)算出材料的電阻率。下面將詳細(xì)介紹這種測試儀的原理和工作過程。 我們需要了解什么是電阻率。電阻率是材料對電流的阻礙程度的度量，通常用符號ρ表示，單位是Ω·m。電阻率越小，材料的導(dǎo)電性越好。而電阻則是電阻率與材料長度和橫截面積的乘積，可以用來描述材料的電阻大小。 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀通過將四個探針嵌入待測試的材料中，形成一個測量電流的電路。其中兩個探針用于施加電壓，另外兩個探針用于測量電流。通過測量電壓和電流的關(guān)系，就可以計(jì)算出材料的電阻率。 具體的測試過程如下： 1. 首先，將待測試的材料放置在測試儀的測試臺上，并將四個探針插入材料中。為了確保測量的準(zhǔn)確性，探針應(yīng)該均勻分布在材料表面，并且彼此之間的距離應(yīng)該足夠遠(yuǎn)。 2. 接下來，通過測試儀的控制面板設(shè)置測量參數(shù)，包括施加的電壓和測量的電流范圍。通常，電壓的大小應(yīng)該適中，既能夠產(chǎn)生足夠大的電流，又不會損壞材料。 3. 當(dāng)設(shè)置好參數(shù)后，開始進(jìn)行測量。測試儀會自動施加電壓，并通過另外兩個探針測量電流。根據(jù)歐姆定律，[詳細(xì)]

  2023-10-11 16:18

  其它

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• 四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-27 23:58

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• 高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:59

  其它

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• jjg 508-2004 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程.pdf

  jjg 508-2004 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程.pdf[詳細(xì)]

  2015-05-12 00:00

  專利

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• 玖久便攜式四探針電阻率測試儀簡單介紹

  玖久便攜式四探針電阻率測試儀簡單介紹我公司向您介紹的便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ωcm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級機(jī)的水平。產(chǎn)品技術(shù)性能：（1）測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9Ωcm。可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口當(dāng)被測材料電阻率≥200Ωcm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC0.1mA～10mA分兩檔10mA量程：0.1～1mA連續(xù)可調(diào)10mA量程：1mA～10mA連續(xù)可調(diào)恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv靈敏度：100μv準(zhǔn)確度：0.2%（±2個字）（4）供電電源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用環(huán)境：相對濕度≤80%（6）重量、體積重量：2.2公斤體積：寬210×高100×深240（mm）（7）KD探針頭壓痕直徑：30/50μm間距：1.00mm探針合力：8±1N針材：TC[詳細(xì)]

  2018-10-07 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 進(jìn)口四探針電阻率測試儀(4PP)/方塊電阻測試儀產(chǎn)品樣冊

  進(jìn)口四探針電阻率測試儀(4PP)/方塊電阻測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-16 03:38

  課件

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• CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測試儀產(chǎn)品樣冊

  CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2024-09-30 13:39

  期刊論文

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• CDE resmap 168 全自動四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測試儀產(chǎn)品樣冊

  CDE resmap 168 全自動四探針面掃描電阻率電導(dǎo)率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2016-10-18 14:23

  專利

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• 美國四探針電阻測試課件講義

  四探針電阻測試儀，可程序編排任意測量點(diǎn)位置和測量點(diǎn)數(shù)量，具有邊緣修正功能，可以測試不規(guī)整樣片單點(diǎn)測量，可以測量方塊電阻/電阻率/薄膜厚度。[詳細(xì)]

  2021-04-25 11:27

  課件

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• 污水四參數(shù)檢測儀

  污水四參數(shù)檢測儀主要測定污水中CODCr、總磷、氨氮和濁度四個參數(shù)，CODCr采用快速消解法，操作過程簡單、快速、經(jīng)濟(jì)，測定結(jié)果與傳統(tǒng)滴定法有良好的對比性；總磷采用國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的鉬酸銨分光光度法，運(yùn)用過硫酸鉀將水樣中含磷全部氧化為正磷鹽從而進(jìn)行測定，此方法測量準(zhǔn)確，符合水質(zhì)檢測要求；氨氮采用納氏試劑分光光度法，測量時，被測水樣加入試劑時，水樣變成黃色，儀器根據(jù)黃色的深淺讀取氨氮的值。此儀器適合大、中、小型污水處理廠的水質(zhì)檢測，可廣泛用于工業(yè)，化工、環(huán)保及制藥行業(yè)等部門的污水檢測，是常用的實(shí)驗(yàn)室儀器。[詳細(xì)]

  2024-10-03 06:21

  產(chǎn)品樣冊

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• 粉末電阻率測試儀（四探針法）簡介

  粉末電阻率測試儀（四探針法） 產(chǎn)品名稱：粉末電阻率試驗(yàn)儀（四探針法） 產(chǎn)品型號：FTDZS-I 參考標(biāo)準(zhǔn)：YS T 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6 部分：粉末電阻率的測定.pdf GB/T 24525-2009 炭素材料電阻率測定方法 GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復(fù)合磷酸鐵鋰正極材料》中關(guān)于粉末電導(dǎo)率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作 粉末電阻率試驗(yàn)儀主要用于測量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測試粉末電阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測試及對比. 儀器由主機(jī)、測試架兩大部分組成。主機(jī)包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源測量試驗(yàn)設(shè)置通過觸摸屏進(jìn)行操作和設(shè)置，頁面布局合理，人性化設(shè)計(jì)，可對測試結(jié)果進(jìn)行打印。 儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)，符合國際和國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。 儀器適用于導(dǎo)體粉末、半導(dǎo)體粉末、炭素材料等行業(yè)，進(jìn)行檢測測試設(shè)備。[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:47

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