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• GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ZBM：高溫低氣壓綜合試驗

  GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ZBM：高溫低氣壓綜合試驗免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗

  GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗[詳細]

  2014-03-12 00:00

  標準

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• GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗M：低氣壓

  GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗M：低氣壓本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的低氣壓高低溫試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓

  GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗

  GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗.pdf

  GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗.pdf[詳細]

  2024-09-12 18:29

  安裝說明

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕[詳細]

  2011-07-19 00:00

  安裝說明

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版本無實質(zhì)上的差異。本高溫試驗的目的于用來確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗綜合試驗方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗的基本要求，嚴酷等級，試驗程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存，運輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。更多資料信息請下載瀏覽附件[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法高溫

  本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或儲存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧

  GB_T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的智能型全自動鹽霧試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標準代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧

  GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L 沙法試驗

  GBT2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L沙法試驗免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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