本文由 東莞市貝爾試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-09-13 10:00 842閱讀次數(shù)

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• GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

  GB/T2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分給出了確定試驗(yàn)樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時)等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗(yàn)方法。施加應(yīng)力的次序與試驗(yàn)步驟轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強(qiáng)化與自然氣候條件相同的劣化機(jī)理。注:自然界環(huán)境條件的分類分級見GB/T4797和GB/T4798。當(dāng)劣化機(jī)理相同且滿足規(guī)定的試驗(yàn)要求時,本部分也可作為編寫類似試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)。在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗(yàn),并按GB/T2421.12008附錄A規(guī)定的代號分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗(yàn)Db的周期數(shù)(見GB/T2423.42008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗(yàn)方法的每個步驟提供所需的資料(見第8章)。本試驗(yàn)常被安排在與機(jī)械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗(yàn)如端子強(qiáng)度試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)和振動試驗(yàn)之后進(jìn)行,以作為確定試驗(yàn)樣品的密封性是否損壞的方法。替代情況：替代GB/T2423.45-1997[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗(yàn)樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評價試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)簡介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗(yàn)的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ｂｂ和試驗(yàn)Ｂｄ與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗(yàn)樣品”。本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評價試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗(yàn)Ｂｅ，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗(yàn)適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗(yàn)樣品的影響。本試驗(yàn)不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)方法。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

  GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱方法 下載

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱方法下載免費(fèi)下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:02

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• GB/T 2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

  GB/T2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T2423的本部分規(guī)定了適用于在運(yùn)輸、貯存或使用期間可遭受滴水、沖水或浸水的電工電子產(chǎn)品的試驗(yàn)方法，是考核電工電子產(chǎn)品的外殼和遮蓋物等密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和件良好的工作性。本部分所規(guī)定的試驗(yàn)方法不適用于腐蝕試驗(yàn)。本部分不模擬水和試件之間的大溫差作用，例如由于壓力變化的熱沖擊而引起的進(jìn)水增多。本部分包括了以自然條件為基礎(chǔ)的人工淋雨試驗(yàn)，但通常情況下不考慮有強(qiáng)風(fēng)速的自然降雨。本部分對所選擇的試驗(yàn)和嚴(yán)酷等級的應(yīng)用給出了導(dǎo)則。本部分可作為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的引用依據(jù)。GB/T2423.38-2005免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》(英文版)相同，編寫格式與表達(dá)方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。GB/T2423-34-2005第4試驗(yàn)設(shè)備的說明規(guī)定試驗(yàn)樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個試驗(yàn)箱或兩個試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行。若采用一個試驗(yàn)箱，則可以使用高低溫濕熱交變試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)，若需要更惡劣的試驗(yàn)環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗(yàn)箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強(qiáng)度。[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)代替GB/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強(qiáng)度。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A；低溫

  GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A；低溫免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.17-第2部分：試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)

  GB/T2423.17-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)--鹽霧試驗(yàn)機(jī)上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司的高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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