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SJT Y60600-G高低溫低氣壓試驗設備

本文由杭州九環(huán)環(huán)境試驗設備有限公司整理匯編

2018-10-10 10:00 165閱讀次數(shù)

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SJT Y60600-G高低溫低氣壓試驗設備

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2018-10-10 10:00
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SJT 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗設備

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2014-08-12 00:00
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2018-10-05 10:00
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SJT 31129-1994 G高低溫低氣壓試驗設備

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2024-09-11 17:56
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高低溫低氣壓試驗設備

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2018-10-05 10:00
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GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗設備

GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗設備免費下載地址：北京中科環(huán)試儀器有限公司http://www.bjzkhs.com[詳細]
2018-09-29 10:01
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GBT 5170.10-2008 高低溫低氣壓試驗設備

GBT5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備上海覽浩儀器設備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產品信息請瀏覽:[詳細]
2018-09-03 10:00
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電工電子產品環(huán)境試驗設備檢測方法高低溫低氣壓試驗設備

中華人民共和國國家標準：電工電子產品環(huán)境試驗設備檢測方法高低溫低氣壓試驗設備。[詳細]
2024-09-28 02:47
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SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗設備通用技術條件

SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗設備通用技術條件[詳細]
2024-09-18 02:54
實驗操作
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GBT 5170.10-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

標準編號:GB/T5170.10-2008中文標準名稱:電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備代替標準號:GB/T5170.10-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設備,標準簡介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗第2-13部分:試驗試驗M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.25-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-40部分:試驗試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.26-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-41部分:試驗試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T5170.2電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):49次標準上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產品樣冊
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GB/T 5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

GB/T5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備標準簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。[詳細]
2018-09-13 10:00
產品樣冊
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GB/T 5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

GB/T5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。檢驗設備包括高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等溫度試驗設備。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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高低溫低氣壓試驗箱操作說明書

TH-100 型恒溫恒濕低氣壓試驗箱，可模擬特殊環(huán)境。精準控溫濕與氣壓，結構優(yōu)良，操作需按步驟進行。注意放置位置與安全事項，定期維護保養(yǎng)。為產品可靠性測試提供有力保障，是航空航天等領域的重要試驗設備。[詳細]
2024-09-18 18:14
操作手冊
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高低溫低氣壓的測試標準

高低溫低氣壓測試用于評估產品在極端溫度與低氣壓環(huán)境下的性能，廣泛應用于航空、航天、電子、汽車等領域。以下是常見的測試標準：[詳細]
2025-02-26 11:13
標準
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高低溫試驗設備產品樣冊

高低溫試驗設備產品樣冊[詳細]
2016-10-18 14:40
應用文章
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GBT10590-2006 高低溫低氣壓試驗箱技術條件

GBT10590-2006高低溫低氣壓試驗箱技術條件[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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GB-T_10590-2006_高低溫-低氣壓試驗箱技術條件

GB-T_10590-2006_高低溫-低氣壓試驗箱技術條件(文前頁)[詳細]
2018-11-17 10:00
產品樣冊
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高低溫低氣壓可以做濕度嗎？

高低溫低氣壓試驗箱通常不具備濕度控制功能，因為其設計主要針對溫度和氣壓的模擬。然而，某些高端或定制型號可能集成濕度控制功能，以支持更復雜的測試需求。[詳細]
2025-02-28 10:54
選購指南
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環(huán)境試驗設備溫度_低氣壓綜合試驗導則

GB_T2424.15-2008電工電子產品環(huán)境試驗溫度_低氣壓綜合試驗導則.pdf[詳細]
2018-10-05 10:00
產品樣冊
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該會員其他資料: GB/T 2423.1-1989 電工電子產品低溫試驗方法; GB-T5170電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗; GB 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備; GJB 150 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第11部分：鹽霧試驗; GBT 電工電子產品環(huán)境參數(shù)測量方法第1部分：振動; GB 電工電子產品環(huán)境參數(shù)測量方法振動數(shù)據(jù)處理和歸納; GB 10593 電工電子產品環(huán)境參數(shù)測量方法鹽霧; GJB 150.18-1986 設備環(huán)境試驗方法沖擊試驗; GB 10593 電工電子產品環(huán)境參數(shù)測量方法鹽霧; GJB 150.25 環(huán)境試驗方法振動－噪聲－溫度試驗

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