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高低溫低氣壓試驗設(shè)備

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2018-10-05 10:00 518閱讀次數(shù)

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SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

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高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備[詳細]
2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗設(shè)備

GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗設(shè)備免費下載地址：北京中科環(huán)試儀器有限公司http://www.bjzkhs.com[詳細]
2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.10-2008 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

GBT5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽:[詳細]
2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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SJT 10212-1991 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備.pdf[詳細]
2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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SJT Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備[詳細]
2018-10-10 10:00
產(chǎn)品樣冊
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SJT 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備[詳細]
2014-08-12 00:00
其它
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SJT 10212 Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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SJT 31129-1994 G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

SJT 31129-1994 G高低溫低氣壓試驗設(shè)備[詳細]
2024-09-11 17:56
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢測方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢測方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備。[詳細]
2024-09-28 02:47
產(chǎn)品樣冊
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SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗設(shè)備通用技術(shù)條件

SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗設(shè)備通用技術(shù)條件[詳細]
2024-09-18 02:54
實驗操作
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GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

標準編號:GB/T5170.10-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備,標準簡介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗第2-13部分:試驗試驗M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-40部分:試驗試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-41部分:試驗試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關(guān)注次數(shù):49次標準上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備標準簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。檢驗設(shè)備包括高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等溫度試驗設(shè)備。[詳細]
2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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高低溫低氣壓試驗箱操作說明書

TH-100 型恒溫恒濕低氣壓試驗箱，可模擬特殊環(huán)境。精準控溫濕與氣壓，結(jié)構(gòu)優(yōu)良，操作需按步驟進行。注意放置位置與安全事項，定期維護保養(yǎng)。為產(chǎn)品可靠性測試提供有力保障，是航空航天等領(lǐng)域的重要試驗設(shè)備。[詳細]
2024-09-18 18:14
操作手冊
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高低溫低氣壓的測試標準

高低溫低氣壓測試用于評估產(chǎn)品在極端溫度與低氣壓環(huán)境下的性能，廣泛應(yīng)用于航空、航天、電子、汽車等領(lǐng)域。以下是常見的測試標準：[詳細]
2025-02-26 11:13
標準
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高低溫試驗設(shè)備產(chǎn)品樣冊

高低溫試驗設(shè)備產(chǎn)品樣冊[詳細]
2016-10-18 14:40
應(yīng)用文章
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GBT10590-2006 高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GBT10590-2006高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB-T_10590-2006_高低溫-低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB-T_10590-2006_高低溫-低氣壓試驗箱技術(shù)條件(文前頁)[詳細]
2018-11-17 10:00
產(chǎn)品樣冊
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高低溫低氣壓可以做濕度嗎？

高低溫低氣壓試驗箱通常不具備濕度控制功能，因為其設(shè)計主要針對溫度和氣壓的模擬。然而，某些高端或定制型號可能集成濕度控制功能，以支持更復雜的測試需求。[詳細]
2025-02-28 10:54
選購指南
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環(huán)境試驗設(shè)備溫度_低氣壓綜合試驗導則

GB_T2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度_低氣壓綜合試驗導則.pdf[詳細]
2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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該會員其他資料: 武器裝備使用進口電子元器件管理辦法實施細則; TENSOR II 傅立葉變換紅外光譜儀產(chǎn)品樣冊; TLTP高壓取能裝置; 吖啶紅3B熒光熄滅法測定痕量亞硝酸根; 垂柳葉黃酮的微波提取工藝; 常用的數(shù)理統(tǒng)計術(shù)語介紹; 藥物納米混懸劑譜寫納米釋藥系統(tǒng)燦爛前景; 海洋監(jiān)測規(guī)范—數(shù)據(jù)處理與分析質(zhì)量控制; 化工產(chǎn)品和產(chǎn)品詞匯; 戶外鋼結(jié)構(gòu)廣告設(shè)施安全檢測及評定

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