1、充分分散及驗(yàn)證方法：分散是影響粒度測試重復(fù)性的第 一因素，因此每次測試前都要保證樣品分散充分。分散是介質(zhì)、分散劑、攪拌和超聲波分散同時(shí)作用的結(jié)果，分散劑一般是焦磷酸鈉或六偏磷酸鈉，它與介質(zhì)之間的濃度為0.2%-0.5%。攪拌和超聲波要同時(shí)開啟，可邊分散邊測試，觀察遮光率或粒度結(jié)果，如果遮光率和結(jié)果穩(wěn)定了（下圖中的紅線一下），說明該樣品已經(jīng)分散充分了，可以正式進(jìn)行粒度測試了。

2、介質(zhì)：介質(zhì)是影響粒度測試重復(fù)性的第二因素。濕法粒度測試的介質(zhì)通常是純凈水、無水乙醇或其它溶劑等。要求介質(zhì)與樣品之間不發(fā)生物理（溶解或膨脹）或化學(xué)（反應(yīng)）變化。需要用有機(jī)溶劑時(shí)，要用分析純級的，低純度的郵寄溶劑里含有少量的水，會對重復(fù)性有影響。介質(zhì)影響重復(fù)性的另一個(gè)因素是溫度，如果介質(zhì)溫度低于露點(diǎn)溫度，樣品池上就可能結(jié)霧而影響重復(fù)性，所以除關(guān)注介質(zhì)與樣品之間的適應(yīng)性外，還要關(guān)注介質(zhì)的溫度。要求介質(zhì)溫度與環(huán)境溫度越接近越好。

3、環(huán)境：環(huán)境是影響粒度測試重復(fù)性的第三因素，包括供電電壓（220±10V）、儀器放置處沒有陽光直射、附近沒有電磁干擾（如頻繁啟動的吸塵器、烘箱、電機(jī)等）、沒有震動源、沒有熱源等。環(huán)境因素具有隨機(jī)性，如果有時(shí)重復(fù)性好，有時(shí)不好，請ZD關(guān)注一下環(huán)境因素。

4、儀器：儀器是影響粒度測試重復(fù)性的第四個(gè)因素。判斷儀器是否正常首先看背景值，如果背景值在正常范圍內(nèi)，并且穩(wěn)定，那儀器就是正常狀態(tài)，重復(fù)性也能保證，如果背景過高或過低，或者背景不穩(wěn)定，就要進(jìn)行查找原因并進(jìn)行處理。在儀器不正常時(shí)進(jìn)行粒度測試，將影響重復(fù)性。

發(fā)現(xiàn)背景值不正常后，要首先清洗樣品池，然后進(jìn)行自動對中，如果還不正常，就要與廠家進(jìn)行聯(lián)系了。

（1）激光法

優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。

缺點(diǎn)：Z大與Z小顆粒的粒徑分辨力較低。

（2）動態(tài)圖像法

優(yōu)點(diǎn)：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測量Z大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

缺點(diǎn)：不能分析細(xì)顆粒(如<2μm)，儀器成本較高。

（3）靜態(tài)圖像法

優(yōu)點(diǎn)：成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

缺點(diǎn)：操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細(xì)顆粒(如<2um )。

（4）電鏡法

優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒的粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。

缺點(diǎn)：代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

（5）光阻法

優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。

缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑＜1μm的樣品。

（6）電阻法

優(yōu)點(diǎn)：操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。

缺點(diǎn)：不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品,維護(hù)時(shí)更換小孔管比較麻煩。

（7）沉降法

優(yōu)點(diǎn)：操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格較低,測試范圍較大。

缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長,操作復(fù)雜。

（8）篩分法

優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于38μm(400目)的樣品。

缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

（9）動態(tài)光散射法

優(yōu)點(diǎn)：測試范圍寬(從納米到亞微米)測試速度快，重復(fù)性好，操作簡便。

缺點(diǎn)：測試寬分布的納米材料誤差較大。

（10）超聲波法

優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需稀釋樣品。

缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

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常用的粒度測試方法有哪些？

常用的粒度測試方法有激光散射法（um）、動態(tài)光散射法（nm）、動態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法（um，粒度和粒形）、重力和離心沉降法（um/nm）、庫爾特電阻法（um）、電鏡法（um/nm）、超聲波法(um)、以及篩分法等。目前最常用的是激光散射法和動靜態(tài)圖像分析法。

各種常用粒度測試方法各有哪些優(yōu)缺點(diǎn)？

1、激光衍射/散射法

• 由激光光源、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、信號放大及A/D轉(zhuǎn)換裝置、數(shù)據(jù)處理及控制系統(tǒng)組成。

• 優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍寬泛，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好， 可實(shí)現(xiàn)在線測量和干濕法測量。

• 缺點(diǎn)：結(jié)果受計(jì)算分布模型影響較大，只能得到等效球徑，干法效果一般，儀器造價(jià)較高。
  

2、動態(tài)圖像法

• 隨著計(jì)算機(jī)圖像技術(shù)和視頻軟硬件的飛速發(fā)展，由專 利光路系統(tǒng)，高速攝像系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成的新一代動態(tài)圖像法粒度粒形分析儀出現(xiàn)了。同時(shí)配備重力模塊，氣流模塊和流體模塊。

• 優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰，統(tǒng)計(jì)量非常大，代表性強(qiáng)，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，干法濕法也可重力法測試，測量范圍寬，可測量從微米級到厘米級別的寬范圍顆粒樣本，可進(jìn)行球形度、長徑比，對稱性等形貌分析，應(yīng)用范圍寬泛。
  

3、靜態(tài)圖像法

• 由入射及透射光源、顯微鏡、攝像機(jī)、載物平臺、樣品分散裝置和圖像分析軟件組成。

• 優(yōu)點(diǎn)：操作簡單，圖像清晰、可進(jìn)行球形度、長徑比，對稱性等形貌分析。

• 傳統(tǒng)的靜態(tài)圖像法缺點(diǎn)：分析速度慢，缺乏良好的粉末分散手段，制備復(fù)雜。

• 新一代的全自動靜態(tài)圖像法已經(jīng)可以做到自動化掃描拍攝，并配備專用的粉末制備裝置。大大改善了靜態(tài)圖像法的使用范圍。

4、電鏡法

• 用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行 圖像分析的方法。

• 優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒，圖像清晰，表面紋理 可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。

• 缺點(diǎn)：制備復(fù)雜，單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

5、光阻法

• 優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。

• 缺點(diǎn)：測量誤差較大，進(jìn)樣系統(tǒng)復(fù)雜，不適用粒徑＜10um的樣品。

6、電阻法

• 優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。

• 缺點(diǎn)：取樣代表性較差，測試范圍較窄，約0.5um~200um，且不適合寬分布樣品。

7、沉降法

• 優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)較好，測試范圍較大。

• 缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。

8、篩分法

• 優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于 38μm（400目）的樣品。

• 缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品，結(jié)果受認(rèn)為因素和篩孔變形影響較大。

9、動態(tài)光散射法

• 動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將 納米顆粒放到合適的液體（通常為純凈水）中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒 由于受到水分子熱運(yùn)動（布朗運(yùn)動）的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動。當(dāng)一束水平偏振 的激光照射到這些顆粒上時(shí)，會在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化。這些瞬間變化的 散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關(guān)，對這些信號進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可 以得到呢米顆粒的粒度分布了。

• 優(yōu)點(diǎn)：測試范圍寬（從納米到微米）、測試速度快，重復(fù)性好，操作簡便。

• 缺點(diǎn)：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

10、超聲波法

• 優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需取樣。

• 缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

       使用激光粒度儀進(jìn)行粒度測試，是目前應(yīng)用Z廣泛的一種粒度測試方法。早期的激光粒度儀用弗朗和費(fèi)理論，這種理論不需要樣品折射率，但對小于5微米的樣品誤差較大。為了使激光粒度儀測量細(xì)樣品的精度更高，當(dāng)今大部分粒度儀都采用Mie散射理論，這是一種精確描述顆粒對激光散射規(guī)律的理論，但Mie散射理論進(jìn)行計(jì)算時(shí)需要用到樣品的折射率和吸收率，如果折射率選擇的不對就會影響粒度結(jié)果的準(zhǔn)確性。下面介紹幾個(gè)簡單獲取樣品折射率和吸收率的方法。

       1、軟件中查找。正規(guī)激光粒度儀在出廠時(shí)，軟件中都會提供折射率存儲庫，用戶直接在軟件中搜索樣品名稱，就能得到相對應(yīng)的折射率和吸收率，直接選用就可以了。

       2、測量折射率。丹東百特儀器有限公司Z新研制的Bettersize3000激光粒度粒形分析系統(tǒng)，世 界shou創(chuàng)了測量樣品折射率和吸收率的功能，用戶可以通過這種儀器，精確測量各種樣品的折射率和吸收率。

       3、通過資料查找樣品折射率。通過材料手冊、書籍、有經(jīng)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室或網(wǎng)絡(luò)查找樣品折射率。如果僅僅查到樣品折射率的實(shí)部，沒有吸收率，就要根據(jù)樣品的顏色自行確定一個(gè)吸收率。確定吸收率的參考圖如下：

       4、近似物質(zhì)的折射率代替所測樣品的折射率。如果無法查到某物質(zhì)的折射率，就要找與該物質(zhì)材料相近的折射率值替代，比如一種金屬粉折射率代替另一種金屬粉折射率，用石墨或碳黑帶代替石墨烯，用一種金屬氧化物的折射率代替另一種金屬氧化物的折射率等。

       5、樣品折射率對粒度結(jié)果的影響。樣品折射率是用Mie散射理論計(jì)算粒度結(jié)果必需的參數(shù)，樣品折射率（特別是吸收率）對粒度測試結(jié)果有著直接的影響。

6、總結(jié)。影響激光粒度分析結(jié)果的因素很多，正確的折射率就是其中的一個(gè)重要因素，并且樣品越細(xì)折射率（特別是吸收率）的影響越大。對于納米材料、合成材料、復(fù)合材料等新的粉體材料要特別重視折射率的正確性，這樣才能得到正確的粒度結(jié)果。

       在粒度測試過程中，有時(shí)會出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如重復(fù)性不好、同一個(gè)樣品結(jié)果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個(gè)原因造成的。

1、環(huán)境異常：

       粒度儀的使用環(huán)境應(yīng)該滿足以下條件，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近，若介質(zhì)與室溫溫相差過大會導(dǎo)致樣品池結(jié)霧而影響測試結(jié)果。二是實(shí)驗(yàn)臺要穩(wěn)固，周圍無振動源。振動會使儀器測試過程中光路發(fā)生變化，導(dǎo)致測試結(jié)果不穩(wěn)。三是電源電壓要穩(wěn)定且有良好的接地，電壓不穩(wěn)會影響儀器內(nèi)部電路運(yùn)行的可靠性和光源的穩(wěn)定性，從而使信號不穩(wěn)或完全錯(cuò)誤，導(dǎo)致結(jié)果異常。下圖為樣品池結(jié)霧時(shí)測試窗口異常的狀態(tài)：

       環(huán)境異常的解決辦法是對癥下藥，消除異常，如加裝空調(diào)、加固工作臺、遠(yuǎn)離振動源、遠(yuǎn)離電磁干擾設(shè)備（如電爐）、加裝穩(wěn)壓電源、加裝接地等。

2、折射率發(fā)生改變：

       現(xiàn)代激光粒度儀一般采用Mie散射理論，選擇正確的折射率直接決定了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，正確的折射率可以通過系統(tǒng)或測量來得到。下圖是同一樣品不同折射率時(shí)的測試結(jié)果差異。

       折射率發(fā)生變化的原因是測試不同的樣品時(shí)忘記把上一個(gè)樣品的折射率修改成現(xiàn)在樣品的折射率，解決辦法是嚴(yán)格按操作規(guī)范進(jìn)行操作，要認(rèn)真細(xì)致，不馬馬虎虎。

3、保養(yǎng)維護(hù)不當(dāng)：

       激光粒度儀是精密儀器，日常使用要按照操作規(guī)程使用，日常保養(yǎng)和維護(hù)不當(dāng)會產(chǎn)生樣品池污染、樣品池劃傷、透鏡污染、管路臟、光電探測器損壞、使用腐蝕性介質(zhì)測試導(dǎo)致循環(huán)系統(tǒng)損壞等，這些原因都會導(dǎo)致儀器測試結(jié)果異常。下圖為樣品池或者透鏡臟時(shí)測試儀器背景。

       解決方法是定期清洗樣品池和管路，及時(shí)更換劃傷的樣品池、不在非耐腐蝕循環(huán)泵中使用腐蝕性介質(zhì)、不用汽油擦儀器表面、不隨便打開儀器上蓋、不使雜物掉到循環(huán)池中等。

4、樣品制備原因：

       一是取樣不具有代表性（包括從車間里取樣和實(shí)驗(yàn)室縮分）。二是所用的介質(zhì)不合適。三是分散劑的種類和用量不正確。四是超聲分散時(shí)間和強(qiáng)度不一致等。下圖是同一種樣品分散前后的對比圖像。

       解決方法還是對癥下藥，一是從車間取樣時(shí)要盡量從料流中取樣而不要在堆積狀態(tài)下取樣，如果不得不在堆積狀態(tài)下取樣，必須進(jìn)行多點(diǎn)取樣（至少4點(diǎn)），即從不同位置、不同深度取樣后混合到一起。二是從實(shí)驗(yàn)室樣品中取測試樣時(shí)，要先攪拌均勻，用小勺多點(diǎn)（至少4點(diǎn)）取樣放到儀器中進(jìn)行分散測試。三是懸浮液取樣時(shí)，要先用電動攪拌器攪拌均勻，然后用液體取樣器從中部抽取。對比重較大、較粗、粒度分布很寬的特殊樣品，要先加很少量的介質(zhì)制成膏狀物，混合均勻后再取樣。四是介質(zhì)要純凈、不與顆粒發(fā)生物理和化學(xué)反應(yīng)、對顆粒表面具有良好的潤濕作用、使顆粒具有適當(dāng)?shù)膽腋顟B(tài)、介質(zhì)與室溫的溫差要盡量小等。五是干法粒度測試時(shí)對氣體介質(zhì)的要求是純凈、干燥、無油、壓力適中等。六是選擇合適的分散劑并控制好用量。七是確定并使用Z佳超聲功率和時(shí)間。 

       以上四個(gè)方面討論了激光粒度測試過程中出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的常見原因，并給出了相應(yīng)的解決方法。但引起數(shù)據(jù)異常的原因很多，情況也不一樣，本文無法一一列舉，如出現(xiàn)類似問題，可求教于專業(yè)人士，丹東百特也愿意以“專業(yè)、迅速、熱情、周到”的服務(wù)理念，為您排憂解難。

       在相同測量條件下對同一被測樣品連續(xù)多次測量所得結(jié)果之間的偏差叫重復(fù)性。重復(fù)性條件包括以下幾個(gè)方面：相同的測量流程,相同的操作者,相同的樣品在相同的地點(diǎn),使用相同的儀器，在短時(shí)間內(nèi)多次測量。重復(fù)性是衡量粒度儀器和粒度測試方法穩(wěn)定性的主要指標(biāo)。重復(fù)性誤差的計(jì)算方法如下：

       重復(fù)性或重現(xiàn)性為：

       其中，n為實(shí)際測量次數(shù)(一般n≥10 )；xi為每次測試的結(jié)果；x為多次測量的平均值；σ為標(biāo)準(zhǔn)差；

       ISO13320規(guī)定激光粒度儀重復(fù)性允許偏差：D10≤5%、D90≤5%，D50≤3%,如果它們的數(shù)值小于10μm ,誤差可放大一倍。

       如果假設(shè)涉及的是理想、WM的樣品表面，那么這里的重復(fù)性所指的純粹是測量方法的重復(fù)性。在這種情況下，目前好的儀器可以達(dá)到的測量測量重復(fù)性在0.1-0.3°。而這一結(jié)果也得到許多實(shí)際測量的支撐，有不少學(xué)者研究過液體在相當(dāng)WM的固體樣品表面（同一晶面）的接觸角值，測量結(jié)果的重復(fù)性基本上符合這里提及的數(shù)值。

       對于通常的樣品表面，我們遇到過的比較WM的工業(yè)產(chǎn)品表面的接觸角測量的可重復(fù)性在1°以內(nèi)（接觸角值在100-120°范圍），這一重復(fù)性包括前進(jìn)接觸角測量的可重復(fù)性和采用固定操作步驟而獲得的所謂的靜態(tài)接觸角值的可重復(fù)性。但我們也時(shí)常遇到一些樣品，即使同樣采用固定操作步驟，獲得的靜態(tài)接觸角值的可重復(fù)性或波動幅度在3-5°。

       對于普通的表面，如果其接觸角滯后性的幅度在幾十度的范圍，一般情況下，前進(jìn)接觸角值的可重復(fù)性要比通過簡單測量獲得的靜態(tài)接觸角值的可重復(fù)性好得多。后者的可重復(fù)性，即使采用固定操作步驟，在很大程度上取決于難免存在的、微小的操作上的差異可能對液滴ZH展現(xiàn)的接觸角值的影響，而這又與樣品本身的屬性緊密相關(guān)。

       另外，前面討論的結(jié)論都是基于樣品表面屬性基本均勻（化學(xué)/物理/幾何均勻性）的前提。如果樣品表面本身就不符合這一前提，那么測量得到的數(shù)值的波動幅度不但包含了前面提及的測量的因素，更是包括了樣品表面本身的屬性波動，這也是為什么通過測量液滴在固體表面不同位置上的接觸角值，可以樣品對表面均一性或不均一性進(jìn)行表征的基礎(chǔ)。

       激光粒度測試分干法測試和濕法測量兩種方式。干法是以氣體（一般為空氣或惰性氣體）為介質(zhì)，通過文丘里技術(shù)將干粉與氣體均勻混合并從測量區(qū)噴過，再由吸塵器收集起來，從而實(shí)現(xiàn)粒度測試的粒度測試方式。濕法是以液體（一般為水或有機(jī)溶劑）為介質(zhì)，通過循環(huán)分散系統(tǒng)將樣品與液體均勻混合并輸送到測量區(qū)，再返回循環(huán)分散系統(tǒng)的粒度測試方式。干法和濕法哪種進(jìn)樣方式更好，從用戶角度講應(yīng)該是”首先用濕法，其次用干法”。

       對于不溶于水的粉體材料，濕法優(yōu)于干法。不溶于水的粉體材料包括金屬粉（鋁粉、鎂粉、銅粉、部分稀土金屬）、金屬氧化物粉（氧化鋯、氧化鋅、二氧化鈦、氧化鈰等）、非金屬粉（碳酸鈣、高嶺土、滑石粉、硅灰石等）、硅材料（二氧化硅、碳化硅等）、鋰電池正負(fù)極材料（石墨粉、碳粉、三元材料、磷酸鐵鋰、鈷酸鋰等）、研磨材料（剛玉、金剛石、碳化硅、氮化硼等、化工材料（立德粉、催化劑、火炸 藥等）......

       用濕法進(jìn)行粒度測試的優(yōu)點(diǎn)如下：diyi，水的潤濕作用更有利于顆粒的分散。顆粒團(tuán)聚的原因，是顆粒之間的靜電、勾連、范德華力等綜合作用的結(jié)果，潤濕可減少甚至釋放顆粒靜電、浸潤團(tuán)聚體的縫隙降低勾連強(qiáng)度和范德華力，促進(jìn)顆粒分散。第二，便于施加外力，如加分散劑、加超聲波分散和攪拌等方式，使顆粒充分分散。第三，濕法循環(huán)系統(tǒng)可根據(jù)需要延長分散時(shí)間，保證樣品充分分散，從而保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。第四，濕法分散作用都是通過液體傳遞到顆粒上的，不會“打碎”顆粒，干法分散作用是顆?！芭鲎病薄w粒間碰撞和顆粒與器壁碰撞，有“打碎”顆粒的風(fēng)險(xiǎn)，鎂粉和火炸 藥還有爆炸的風(fēng)險(xiǎn)。第五，濕法測試的儀器價(jià)格更低（濕法只需要一臺循環(huán)分散系統(tǒng)，干法則需要干法進(jìn)樣器、吸塵器、空壓機(jī)、過濾器等）。一般地，干法激光粒度儀的價(jià)格比濕法高30%-50%。所以，對不溶于水的粉體材料進(jìn)行粒度測試時(shí)，濕法優(yōu)于干法。

       對于溶于水或遇水“反應(yīng)”的粉體材料和磁性材料，干法優(yōu)于濕法。溶于水的粉體材料包括藥品（含中藥粉）、食品（咖啡、淀粉、糖）、水泥、磁性材料（釹鐵硼材料、鐵磁性材料）等。這些粉體材料都不能用水介質(zhì)（溶解、水化、團(tuán)聚）進(jìn)行濕法粒度測試，有的雖可用有機(jī)溶劑做介質(zhì)進(jìn)行濕法粒度測試，但有毒有污染成本又高。所以，對上述粉體材料進(jìn)行粒度測試時(shí)，干法優(yōu)于濕法。

       據(jù)統(tǒng)計(jì)，激光粒度測試的濕法系統(tǒng)占80%，干法系統(tǒng)占20%。判斷激光粒度測試干法和濕法哪個(gè)更好，主要看所測樣品是否溶解于水，或是否與水發(fā)生“反應(yīng)”。不溶和不“反應(yīng)”的就用濕法，溶解和“反應(yīng)”的就用干法。

       需要特別指出的是，磁性材料必須用干法進(jìn)行粒度測試，不能用濕法進(jìn)行粒度測試。