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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
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FR-pRoThetametrisis膜厚測量儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-pRoThetametrisis
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
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FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Scanner
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
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FR-Mic全自動帶顯微鏡多點(diǎn)測量膜厚儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Mic
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
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UltraFilm薄膜測量系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：UltraFilm
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動檢測的系統(tǒng)。
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QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀價(jià)格：面議- 品牌：Opto Alignment
- 型號：QuickOCT-4D
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
QuickOCT-4D? 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平...
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FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Ultra
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
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FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
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FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-InLine
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。
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FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-pRo
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
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FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點(diǎn)測量膜厚儀價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Mic
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
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FR-Scanner-AIO-Mic-XY300價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Scanner-AIO-Mic-XY300
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統(tǒng)，用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程，通...
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FR-uProbe-LC光學(xué)顯微鏡適配器價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-uProbe-LC
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率、透射率和吸光度。
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FR-Mic全自動帶顯微鏡多點(diǎn)測量價(jià)格：面議- 品牌：希臘ThetaMetrisis
- 型號：FR-Mic
- 產(chǎn)地：歐洲 希臘
FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個(gè)微米，進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
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