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優(yōu)尼康科技有限公司
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技術(shù)資料
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Unicorn α500 低頻消磁系統(tǒng)
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KLA iMicro 納米壓痕儀
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KLA iNano 納米壓痕儀
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KLA R50 四探針電阻率測量儀
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KLA R54 四探針電阻率測量儀
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HORIBA SZ-100V2激光粒徑分布分析儀
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HORIBA CN-300 離心式納米粒度分析儀
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HORIBA LA-960V2 激光粒徑分布分析儀
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KLA Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡
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KLA D500 探針式表面輪廓儀
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KLA D600 探針式表面輪廓儀
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KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀
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KLA P-170全自動探針式表面輪廓儀
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KLA P-17 探針式臺階儀
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KLA P-7 探針式臺階儀
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Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)
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利用納米壓痕技術(shù)評估襯底和膜層的脆性定期分享KLA Instruments旗下產(chǎn)品的各種技術(shù)資料、應(yīng)用筆記和使用指南。 旗下產(chǎn)品包括：探針式/光學(xué)輪廓儀、納米壓痕儀、薄膜測厚儀、方阻測量儀等測量儀器。
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蔡司sigma500電鏡的隔振方案優(yōu)尼康科技有限公司更新時間：2019-08-01瀏覽次數(shù)：15101
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