場發(fā)射掃描電鏡 JEOL FE-SEM采用了Z佳光闌角控制鏡,因此,即使在很大的探針電流下也能獲得很小的電子束斑。此外,使用低加速電壓進行元素分析,可以減小電子束在樣品中的擴展區(qū)域,能進行高空間分辨率的微區(qū)分析。

探針電流增大時,通過光闌角控制鏡 能獲得小的探針直徑。
探針電流增大時, 探針直徑也變大。

低加速電壓下減少電子束在樣品中的擴展,同時利用大探針電流進行快速分析。
能夠在微區(qū)進行高空間分辨率的分析
全部評論(0條)
高速分析熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 3253次
JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 1736次
JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 2291次
JSM-F100 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 1658次
JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 1340次
JCM-6000plus NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡
報價:面議 已咨詢 1446次
BS-EBM系列多用途電子束熔煉爐
報價:面議 已咨詢 1360次
JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
報價:面議 已咨詢 2200次
2023-02-02
2023-01-31
2022-02-09
2022-03-01
2025-03-04
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000X特點
2025-12-23
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權均屬于儀器網(wǎng),轉載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內容的真實性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負版權等法律責任。
④若本站內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
參與評論
登錄后參與評論