日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備ZG分辨率1nm、ZD探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。

JSM-IT800的場發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可GX觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。 JSM-IT800SHL分辨率可...

JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/...

JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個(gè)新開發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個(gè)創(chuàng)新的Live-AI fi...

JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗(yàn)，使用起來非常直觀。此外，JCM-6000plus標(biāo)準(zhǔn)配置了低真空模式，還可以安裝EDS等附件，是一款功能豐富的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。

JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 EDS通過...

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與View?2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行三...

JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其**性能。

JEOL InTouchScope?系列的新機(jī)型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大...

廣受好評的JSM-7610F的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power O...

JSM-IT200 InTouchScope? 是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。