日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備ZG分辨率1nm、ZD探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息，用戶(hù)界面操作簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。

JSM-IT800的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可GX觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。 JSM-IT800SHL分辨率可...

JPS-9030 光電子能譜儀 JPS-9030配有靜電透鏡和分析器等JEOL多年的成功技術(shù)，具有高靈敏度和高分辨率，設(shè)計(jì)緊湊。特別是低加速電壓和大束流離子槍使這款光電子能譜儀可以對(duì)不同厚度的薄...

JAMP-9510F這款場(chǎng)發(fā)射俄歇電鏡具有世界上zui高的空間分辨率：zui小束斑直徑3nm（二次電子圖像）和8nm（俄歇電子圖像）。使用多通道探頭的新的半球靜電能量分析器（HAS）優(yōu)化了俄歇分析，適...

JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無(wú)論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體...

用于光學(xué)薄膜及電極膜等各種薄膜形成的電子束蒸鍍用電子槍/電源。

軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了極高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測(cè)，...

XA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

XA-iHP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化EPMA。

JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無(wú)論是在高/...

JCM-7000是以"誰(shuí)都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個(gè)新開(kāi)發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個(gè)創(chuàng)新的Live-AI fi...

JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備...

以電子束為熱源使用各種熔解用坩堝，對(duì)高融點(diǎn)活性金屬進(jìn)行熔解/精煉、制備鑄錠的電子束熔煉爐。 適合研究開(kāi)發(fā)及少量生產(chǎn)、省空間設(shè)計(jì)的小型熔煉爐。 可按照用途選擇坩堝種類(lèi)、材料供給系統(tǒng)和電子槍輸出功率。