- 2025-01-10 10:52:40光學(xué)顯微鏡透鏡
- 光學(xué)顯微鏡透鏡是顯微鏡中的關(guān)鍵組件,由高透光率、低色散的玻璃或石英等材料制成。它能夠?qū)⑽⑿∥矬w放大并投影到觀察者的視野中,使觀察者能夠清晰地看到物體的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)。透鏡的質(zhì)量直接影響顯微鏡的分辨率和成像質(zhì)量。通過精密的設(shè)計和制造,光學(xué)顯微鏡透鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高倍率、高分辨率的成像,廣泛應(yīng)用于科研、教育、醫(yī)療等領(lǐng)域,為科學(xué)研究和臨床診斷提供有力支持。
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光學(xué)顯微鏡透鏡問答
- 2023-03-13 14:18:29惠州光學(xué)透鏡廠家定制直發(fā)
- 透鏡在光學(xué)系統(tǒng)中的作用是:聚焦、準(zhǔn)直、成像,惠州市一粟光電可生產(chǎn):平凸透鏡、平凹透鏡、雙凸透鏡、雙凹透鏡、彎月透鏡、膠合透鏡、柱面透鏡等等,擁有近十年的光學(xué)產(chǎn)品加工經(jīng)驗和完整的棱鏡透鏡加工產(chǎn)線。 可按客戶要求鍍增透膜減少鏡片表面的反射.這樣可以減少光能量的損失、成像更清楚。 透鏡可廣泛應(yīng)用于安防、車載、數(shù)碼相機、激光、光學(xué)儀器等各個領(lǐng)域,隨著市場不斷的發(fā)展,透鏡技術(shù)也越來越應(yīng)用廣泛。(lens)透鏡是根據(jù)光的折射規(guī)律制成的。透鏡是由透明物質(zhì)(如玻璃、水晶等)制成的一種光學(xué)元件。透鏡是折射鏡,其折射面是兩個球面(球面一部分),或一個球面(球面一部分)一個平面的透明體。它所成的像有實像也有虛像。
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- 2022-12-08 11:49:09微透鏡的大視野3D成像
- 微透鏡(a) 為微透鏡的大視野3D圖像,通過hitachi MAP 3D 將多張3D 圖像拼接而成。(b) 為(a)中紅框部分的形貌像。通過顏色標(biāo)尺很容易確定高度信息。(c)(d)是提取的圖.1(b)中劃線區(qū)域的結(jié)果,可以獲得每個透鏡(箭頭 0-1, 2-3)的水平距離、垂直高度以及頂部和底部的角度。所以,使用Hitachi Map 3D可以獲得大視野3D圖像和截面輪廓信息。(a)拼接后的3D圖像(x2k), (b)紅框內(nèi)的形貌圖(c)(b)中劃線區(qū)域的截面觀察機型:FlexSEM1000 觀察條件:5 kV, 2000倍, 30Pa 軟件:Hitachi Map 3DMaterial【大視野3D觀察】FlexSEM1000
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- 2022-11-08 10:08:09非接觸式透鏡厚度測量利器光纖微裂紋檢測儀(OLI)
- 在光學(xué)領(lǐng)域,透鏡是光學(xué)系統(tǒng)中最重要的組成元件,現(xiàn)代的光學(xué)儀器對透鏡的成像質(zhì)量和光程控制有很高的要求。尤其在透鏡的制造要求上,加工出的透鏡尺寸,其公差必須控制在允許范圍內(nèi),因此需要在生產(chǎn)線上形成對透鏡厚度實時、自動、精準(zhǔn)的檢測,這對提高產(chǎn)線的生產(chǎn)效率和控制產(chǎn)品的質(zhì)量具有重要意義。目前,測量透鏡中心厚度的方法主要分為接觸式測量和非接觸式測量。接觸式測量有很多弊端,如不能準(zhǔn)確找到透鏡的中心點(最高點或最低點),測量時需要來回移動透鏡,效率不高,容易劃傷透鏡的玻璃表面。而非接觸測量一般采用光學(xué)的方法,能有效避免這些測量缺陷,由東隆科技自研的光纖微裂紋檢測儀(OLI)不僅可以快速精準(zhǔn)測試出透鏡的厚度,而且也不會對透鏡表面造成劃傷。下面,讓我們學(xué)習(xí)下光纖微裂紋檢測儀(OLI)是如何高效的測量手機鏡頭的折射率和厚度。光纖微裂紋檢測儀(OLI)1、 OLI測量透鏡厚度使用光纖微裂紋檢測儀(OLI)測量凸透鏡中心厚度,如圖1.所示,準(zhǔn)備一根匹配好測試長度的光纖跳線,一端接入設(shè)備DUT口,另外一端垂直對準(zhǔn)透鏡,讓接頭和透鏡之間預(yù)留一定距離,同時使用OLI進行測量。圖1. 測量系統(tǒng)示意圖測量結(jié)果如圖2.所示,圖中共有3個峰值,第1個峰值為FC/APC接頭端面的反射,第2個峰值為空氣到透鏡第一個面的反射,第3個峰值為透鏡第二個面到空氣的反射。圖2.凸透鏡厚度測試結(jié)果圖峰值1和2之間的距離為3.876mm,峰值2和3之間的距離為20.52mm,圖2中測得各峰值間距是在設(shè)備默認(rèn)折射率n1=1.467下測得,而空氣的折射率n2=1玻璃透鏡的折射率n3=1.6,所以空氣段的實際長度為:L空=3.876*n1/n2=5.686mm,透鏡的實際厚度為L鏡=20.52*n1/n3=18.814mm。使用游標(biāo)卡尺測量凸透鏡的厚度為19.02mm,和測試結(jié)果偏差0.2mm,可能是玻璃透鏡的實際折射率與計算所用到的折射率1.6有偏差導(dǎo)致的。2、OLI測量鏡底折射率和厚度將圖1.測量系統(tǒng)中的凸透鏡換成手機攝像頭的玻璃鏡底,使用光纖微裂紋檢測儀(OLI)對3種不同厚度的玻璃鏡底進行測量,圖3.為測試玻璃鏡底實物圖,用游標(biāo)卡尺測量三種玻璃鏡底的厚度分別為0.7mm、1.5mm和2.0mm。圖3.玻璃鏡底實物圖光纖微裂紋檢測儀(OLI)測量結(jié)果如圖4.所示,為5次測量平均后的結(jié)果,從圖中可以看出三種鏡底的測試厚度分別為1.075mm、2.301mm、3.076mm。圖4.三種鏡底厚度測試結(jié)果圖三種玻璃鏡底的材質(zhì)一樣其折射率一致,圖4.中設(shè)備測得玻璃鏡底厚度與游標(biāo)卡尺測得厚度不一致,因為是在設(shè)備默認(rèn)折射率n1=1.467下測得、實際玻璃鏡底折射率為n鏡=1.075*1.467/0.7=2.253,將設(shè)備折射率修改為2.253直接得出三款玻璃鏡底的厚度為:0.699mm 、1.498mm、2.003mm,設(shè)備測得結(jié)果與游標(biāo)卡尺測量偏差不超過5um,證明OLI非接觸測試透鏡厚度十分精準(zhǔn)。3、結(jié)論使用光纖微裂紋檢測儀(OLI)非接觸測試各種透鏡的折射率和厚度,其測量精度在亞微米級別,相對于接觸式測量透鏡厚度,精度提升很大,同時也避免測量時透鏡表面被劃傷。將光纖微裂紋檢測儀(OLI)非接觸式測量透鏡厚度的方法應(yīng)用到生產(chǎn)車間內(nèi),可形成自動化檢測產(chǎn)線,無需人為干預(yù)即可準(zhǔn)確甄別出質(zhì)量不合格產(chǎn)品,極大提升生產(chǎn)效率。
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- 2022-04-19 10:44:29PF32-MLA微透鏡版SPAD陣列+TDC單光子計數(shù)相機新上市
- PF32不是一個單點的SPAD探測器,而是一個1024個單光子敏感SPAD像素陣列,具有超快的55ps時間分辨率、功能強大,高度緊湊的單光子計數(shù)探測器陣列。由于55ps TDC電路包圍著每個SPAD像素,導(dǎo)致標(biāo)準(zhǔn)版PF32單光子計數(shù)相機的光學(xué)填充因子只有1.5%。雖然55ps的時間分辨率和225kfps (8-bit)的吞吐量對于許多應(yīng)用至關(guān)重要,但1.5%的填充因子不免讓人覺得有些“捉襟見肘”,給科研人員帶來了極大的挑戰(zhàn)。為了有效的改善填充因子,Photon Force經(jīng)過持續(xù)不斷的努力,新推出了PF32-MLA微透鏡版本。該微透鏡版本是PF32 SPAD陣列+TDC 單光子計數(shù)相機的升級版本——每個SPAD像素上都有一個小透鏡(微透鏡),從而有效地將待測光信號聚焦到每個SPAD像素上。這使得PF32-MLA微透鏡版SPAD陣列+TDC 單光子計數(shù)相機的有效填充因子提高到>12%(均值)。產(chǎn)品特點? 新增:有效填充因子提高到>12%(均值)? 32×32像素 SPAD + 時間相關(guān)單光子計數(shù)(TCSPC)陣列? 每像素具有獨立光子計數(shù)? 光子計數(shù) 和 TCSPC 雙工作模式? Typ, 55ps分辨率? 8bit/10bit TDC, 最大包含255/1,023個時間通道? 8bit/16bit 光子計數(shù)深度? 高達(dá)150k/225k fps傳感器操作和讀取? 同步數(shù)據(jù)采集和讀出(無幀間死時間)? 外部激光同步輸入,用于TDC STOP信號? 單5V電源(附帶)? USB3 接口產(chǎn)品應(yīng)用? 量子成像 Quantum Imaging? 熒光壽命成像 FLIM? 激光雷達(dá) LIDAR? 單光子成像產(chǎn)品參數(shù)如需了解更多詳情,請隨時咨詢我們的銷售工程師!東隆科技作為Photon Force國內(nèi)獨*家代理公司,在技術(shù)、服務(wù)、價格上都具有優(yōu)勢。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問題,歡迎隨時來電垂詢,我們將為您提供專業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。
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- 2022-12-30 11:34:24案例分析 | 利用光學(xué)顯微鏡和激光光譜的2合1解決方案對帶涂層的環(huán)狀螺旋彈簧執(zhí)行深度剖析和分層分析
- 除了同時進行視覺和化學(xué)檢查外,結(jié)合了光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)(LIBS)的2合1材料分析解決方案還可用于高效執(zhí)行深度剖析。深度剖析可以成為整個材料分析工作流程的其中一環(huán)。本文討論了用2合1解決方案對涂層材料進行快速深度剖析的方法。檢測具有多層涂層,或散裝材料內(nèi)有多種成分的部件或零件時,深度剖析是非常有效的方法。印刷電路板(電子)上的涂層和車輛(汽車和運輸)上的油漆和防腐蝕涂層就很適合進行深度剖析。2合1解決方案可以大幅節(jié)省材料分析的成本和時間。在生產(chǎn)、質(zhì)量控制、故障分析或研發(fā)過程中,如果數(shù)據(jù)足夠相關(guān)、準(zhǔn)確、可靠,那么決策者就能更快、更有信心地作出決策。介 紹金屬合金、汽車、航空航天、運輸和電子等行業(yè)的產(chǎn)品和應(yīng)用,以及金相學(xué)、地球科學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域都離不開材料分析[1-3]。面對日益激烈的競爭和日益嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn),如何選擇經(jīng)濟高效的方式來保障產(chǎn)品的質(zhì)量或研究結(jié)果的可靠性,以進行后續(xù)創(chuàng)新已然成為了一個嚴(yán)峻的問題。采用多種技術(shù)對材料進行目視檢查,然后確定其局部成分的方法,需耗費大量的時間和成本[1-3]。高分辨率、高對比度的顯微鏡可用于執(zhí)行目視檢查,化學(xué)/元素光譜分析可用于確定材料成分。制定具體應(yīng)用的后續(xù)行動方案之前,通常要先了解材料的微觀結(jié)構(gòu)和成分的可靠數(shù)據(jù)。如果時間和預(yù)算有限,迫使人們必須采取有效的方法來迅速做出正確決策時,獲取這些數(shù)據(jù)就更加重要了。在部分檢查中,如質(zhì)量控制(QC)和故障分析(FA),人們必須要能識別多層涂層,以及從基材到表面的成分變化情況[4-6]。這些需求廣泛分布于各行各業(yè),如電子(焊接和PCB表面涂層)和汽車/運輸和建筑(油漆和防腐蝕涂層)行業(yè),以及法醫(yī)領(lǐng)域(事故調(diào)查)。材料涂上涂層后,可以賦予零部件特定的機械或電氣性能,或者僅僅是保護它們免受磨損、風(fēng)化和腐蝕。涂層可以有多個層次,分別由多種材料構(gòu)成。檢測具有多層涂層,或從基材到表面有多種成分的零部件時,深度剖析可以確定每層材料或特定深度的成分。此外,甚至還可以顯示關(guān)鍵層是否存在。下面介紹使用徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS材料分析解決方案進行深度剖析和分層分析的情況。材料的深度剖面分析LIBS方法利用激光燒蝕,對涂層和組件材料進行微鉆(μ-drill)。微鉆的作用包括:深度剖析,以確定成分隨材料深度變化的情況;對多層油漆或涂層材料進行分層分析;表面清洗,以去除氧化物或污染物。圖1為在鋼合金上進行微鉆的示例。圖1:A) 示意圖顯示了具有多層涂層材料的橫截面和一個微鉆鉆孔,其中寬度和深度已標(biāo)明。B)帶有微鉆鉆孔的鋼材圖像(用紅色箭頭標(biāo)記)。涂層材料的分層分析一個由銅(Cu)制成,并涂有鎳(Ni)和銀(Ag)的環(huán)狀螺旋彈簧經(jīng)過了深度剖面分析。分析采用的是DM6 M LIBS解決方案的微鉆和LIBS功能。彈簧的各層和基材都經(jīng)過了分析。環(huán)狀螺旋彈簧是在兩端連接的盤狀彈簧,外觀呈圓形,常用于電機密封、皮帶驅(qū)動的電機和電氣連接器中。圖2顯示了環(huán)狀螺旋彈簧的照片和材料截面的示意圖。環(huán)狀螺旋彈簧的深度剖面分析數(shù)據(jù)如下所示。我們在彈簧材料上共進行了8次激光微鉆,以分析從表面到基材的成分。每次激光微鉆大約可以在焦點位置燒蝕5微米,具體視材料性質(zhì)而定。進行8次激光微鉆,并獲取3份光譜數(shù)據(jù)的總用時在1到2分鐘之間。圖2中的結(jié)果顯示了以下光譜:頂層是第1次激光微鉆時打開的,材質(zhì)是銀;下一層是第4次激光微鉆時打開的,材質(zhì)是鎳;第8次微鉆打開的材質(zhì)是銅。圖2:A) 涂有銀和鎳層的銅質(zhì)環(huán)狀螺旋彈簧的圖片,我們采用LIBS和微鉆對其進行深度剖析。B) 顯示銅質(zhì)彈簧材料截面的示意圖。為確定彈簧各層和基材的LIBS光譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫中的參考元素光譜的匹配程度,我們計算了兩者的匹配度。下表1為各層和基材材料的數(shù)值。然后我們選擇了與測量光譜匹配度最 高的元素參考光譜來確定材料成分。表1:對比LIBS獲得的環(huán)狀螺旋彈簧光譜與數(shù)據(jù)庫中特定元素Ag、Ni和Cu的參考光譜,其匹配度如上表所示。小 結(jié)本文介紹了使用徠卡顯微系統(tǒng)DM6 M LIBS材料分析解決方案對帶涂層的環(huán)狀螺旋彈簧(電機或電子元件)進行深度剖析的方法。對材料進行微鉆后,即可獲得彈簧的2個涂層和基材的光譜,整個過程僅需1到2分鐘。材料分析對各類產(chǎn)品開發(fā)(R&D)、質(zhì)量控制(QC)、故障分析(FA)和技術(shù)應(yīng)用都很重要,并且廣泛應(yīng)用于許多行業(yè)和領(lǐng)域中。通常這種分析的時間和預(yù)算都是有限的,但獲得可靠結(jié)果和保障產(chǎn)品質(zhì)量始終非常重要[1-3]。對于具有多層涂層,或材料內(nèi)部包含多種成分的部件執(zhí)行檢查、質(zhì)量控制或FA時,有時需要做深度剖析。比如,油漆和防腐涂層就需要進行深度剖析。深度剖析可以確定各層材料或特定深度的成分。相關(guān)產(chǎn)品徠卡DM6 M LIBS
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