- 2025-01-21 09:29:42蔡司裂隙燈顯微鏡
- 蔡司裂隙燈顯微鏡是眼科領(lǐng)域常用的精密診斷設(shè)備,由德國蔡司公司制造。它利用裂隙光源和顯微鏡系統(tǒng),對(duì)眼部結(jié)構(gòu)進(jìn)行放大觀察,尤其適用于檢查角膜、虹膜、晶狀體等前節(jié)組織。該設(shè)備具有高清晰度、高放大倍數(shù)及良好的照明效果,能夠發(fā)現(xiàn)眼部微小病變,如角膜異物、角膜云翳、白內(nèi)障初期等。此外,蔡司裂隙燈顯微鏡設(shè)計(jì)人性化,操作簡便,是眼科醫(yī)生進(jìn)行臨床診斷、教學(xué)及科研的重要工具。
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蔡司裂隙燈顯微鏡問答
- 2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦顯微鏡-微納器件的表征分析
- 對(duì)微納器件進(jìn)行表征時(shí),常關(guān)注的便是器件的表面形貌和三維尺寸信息,比如粗糙度、深度、體積等,這些都是評(píng)價(jià)微納加工工藝的重要指標(biāo)。然而,在進(jìn)行表面三維的分析工作中,我們可能常遇到這樣的苦惱: 光學(xué)明場無法直接定位到亞微米級(jí)缺陷結(jié)構(gòu)! 樣品結(jié)構(gòu)太復(fù)雜,微弱信號(hào)無法捕獲,難以準(zhǔn)確測量尺度信息! 三維接觸式測量經(jīng)常會(huì)損傷柔軟樣品,導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確! 今天,友碩小編將從下面幾個(gè)角度來看看蔡司激光共聚焦顯微鏡如何幫助你更好地解決這些問題?! ∈Х治觯憾喑叨榷嗑S度原位分析! 器件表面往往存在一些特殊的結(jié)構(gòu)或缺陷,比如亞微米尺度的劃痕,這些特征難以在光學(xué)明場下被直接觀察到。C-DIC(圓微分干涉)觀察模式可以讓樣品表面亞微米尺度的微小起伏都可以呈現(xiàn)出浮雕效果,幫助我們快速定位并開展下一步的分析工作?! ?不同觀察方式下晶圓表面缺陷 在定位到感興趣區(qū)域后,可以直接切換到共聚焦模式,進(jìn)行表面三維形貌掃描,并進(jìn)行尺寸測量及分析,無需轉(zhuǎn)移樣品即可完成樣品多尺度多維度的表征?! 簿劢谷S圖像及深度測量 對(duì)于某些樣品,暗場和熒光模式也是一種很好定位方法,表面起伏的結(jié)構(gòu)在暗場下尤其明顯,如藍(lán)寶石這類能發(fā)熒光的晶圓,利用熒光成像也能幫助我們快速地定位到失效結(jié)構(gòu)。甚至,共聚焦還可以和電鏡或者雙束電鏡(FIB)(點(diǎn)擊查看)實(shí)現(xiàn)原位關(guān)聯(lián),在共聚焦顯微鏡下進(jìn)行定位后轉(zhuǎn)移樣品到電鏡下進(jìn)行更高分辨的表征分析?! ∩罟杩涛g:結(jié)構(gòu)深,信號(hào)弱,蔡司激光共聚焦顯微鏡有辦法! 深硅刻蝕的樣品通常為窄而深的溝壑結(jié)構(gòu)。接觸式測量(如臺(tái)階儀)無法接觸到溝壑底部測得信息,而由于結(jié)構(gòu)特殊造成了反射光信號(hào)損失,常規(guī)白光干涉或者顯微明場無法捕獲底面的微弱信號(hào)。因此,不得不對(duì)樣品進(jìn)行裂片分析,這不僅破壞了樣品,而且還使分析流程復(fù)雜化?! ∥骱髮W(xué)張先鋒老師用蔡司激光共聚焦顯微鏡對(duì)深163.905 μm,寬3.734μm的刻蝕坑進(jìn)行成像,高靈敏探測器、大功率激光及Z Brightness Correction技術(shù)可以幫助成功檢測到底部的微弱信號(hào),完成大深寬比(近50:1)樣品的三維形貌表征與測量,輕松實(shí)現(xiàn)無損檢測分析。
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- 2021-02-23 16:02:57蔡司電子顯微鏡納米級(jí)顆粒度分析解決方案
- 蔡司光學(xué)顯微鏡圖像對(duì)零配件和生產(chǎn)過程進(jìn)行清潔度檢測時(shí),需要確保機(jī)械組件在無摩擦狀態(tài)下工作。必須避免因裂紋引起的泄漏,減少噴嘴和過濾器堵塞以及防止泵和閥門發(fā)生故障。 降低維護(hù)成本和縮短機(jī)器設(shè)備停機(jī)時(shí)間。 電子顯微鏡圖像全自動(dòng)納米級(jí)顆粒度分析軟件 —— 蔡司 SmartPI 利用電子顯微鏡分析濾膜上多達(dá) 200,000 個(gè)顆粒,并可選擇地了解材料的化學(xué)組份信息 – SmartPI 讓這一切的全自動(dòng)化運(yùn)行得以實(shí)現(xiàn)。 光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡的疊加圖像(包含 EDX 分析)蔡司關(guān)聯(lián)顆粒度分析能夠在光學(xué)和電子顯微鏡下快速測量與分析多達(dá) 200 個(gè)關(guān)鍵顆粒并表征它們 — 快速。這套用于顆粒度 EDS 分析的 Correlative Particle Analyzer 系統(tǒng)符合 ISO 16232 和 VDA19 標(biāo)準(zhǔn)。
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- 2021-02-23 17:30:29蔡司三坐標(biāo)測量結(jié)果的穩(wěn)定可靠
- 眾所周知,溫度對(duì)三坐標(biāo)測量機(jī)及其它的測量設(shè)備的穩(wěn)定性、測量結(jié)果的可靠性都有影響,雖然蔡司三坐標(biāo)測量結(jié)果可以進(jìn)行溫度補(bǔ)償。而溫度的變化,如溫度隨時(shí)間以及空間的變化對(duì)測量精度的影響是很難進(jìn)行修正的。 ▲表一:常見材料的熱膨脹系數(shù) ▲表二:不同機(jī)型對(duì)溫度的要求 測量實(shí)驗(yàn)室的理想溫度通常為20°C。溫度波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致材料膨脹或收縮。越是對(duì)坐標(biāo)測量機(jī)準(zhǔn)度要求高,溫度的影響就越顯著?! ⊥ㄟ^表一和表二可見,不同的材料,由于其熱膨脹系數(shù)不同,溫度測量結(jié)果的影響是很大的?! ?/dd>
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- 2021-02-23 17:16:49蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測
- 蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡主要優(yōu)勢有:靈活的探測,4步工作流程,的分析性能將的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提效率。Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得可重復(fù)的分析結(jié)果。蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡是基于成熟的 Gemini 技術(shù)Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場與磁場對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。Gemini in-lens 的探測確保了信號(hào)探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。本文有蔡司顯微鏡廠家小編Pancy整理,更多關(guān)于蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡相關(guān)的咨詢
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- 2018-11-21 22:08:40“裂隙燈顯微鏡”的使用方法是什么?
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