我們研究了將多角度光譜應(yīng)用到薄膜的光學(xué)表征和多層鍍膜逆向工程上。UMA 作為安捷倫的新型先進(jìn)分光光度附件（安裝在 Agilent Cary 5000 UV-Vis NIR 分光光度計(jì)上），可以提供多角度、s 偏振態(tài)和 p 偏振態(tài)下的反射率和透射率數(shù)據(jù)。驗(yàn)證了測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，并證實(shí)了從紫外到近紅外的寬光譜范圍內(nèi)，在入射角ZG達(dá)到 40°的情況下，所有的測(cè)量數(shù)據(jù)均具有很好的準(zhǔn)確性。與傳統(tǒng)的光譜分析相比，多角度光譜光度測(cè)定為研究人員提供了更多的實(shí)驗(yàn)信息。我們的研究表明，新的 UMA 分光光度計(jì)附件可以為各種光學(xué)鍍層的表征及逆向工程問(wèn)題的解決提供實(shí)驗(yàn)信息。