關(guān)于此項(xiàng)工作的更多詳細(xì)信息S次發(fā)表于 Optics Express 16129，2012 年 7 月2 日，第 20 卷，14 號(hào) [1] 高質(zhì)量多層光學(xué)鍍膜的設(shè)計(jì)師和制造商需要使用可靠的方法來(lái)準(zhǔn)確測(cè)量薄膜材料的光學(xué)常數(shù)他們通常使用紫外-可見(jiàn)-紅外分光光度計(jì)測(cè)得樣品在標(biāo)準(zhǔn)入射和接近標(biāo)準(zhǔn)入射情況下的透射率 (T) 和反射率 (R)了解所生成數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和任何誤差的來(lái)源（隨機(jī)或系統(tǒng)）將可以得到更可靠的樣品表征數(shù)據(jù) [2, 3] 測(cè)量數(shù)據(jù)集中每一個(gè)點(diǎn)的隨機(jī)誤差（隨機(jī)噪音）都會(huì)有所不同，文獻(xiàn) [2] 中已經(jīng)指出，隨機(jī)誤差對(duì)于表征結(jié)果影響很小但是，系統(tǒng)誤差一般來(lái)說(shuō)會(huì)造成光譜表征偏移，或?qū)е?T 和 R 曲線的大幅度波長(zhǎng)變化，尤其對(duì)于薄膜參數(shù)極ng確測(cè)定的影響更為顯著 [2] Agilent Cary 6000i 紫外-可見(jiàn)-近紅外