Bruker Dektak Pro布魯克臺(tái)階儀
bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100
布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200
布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500
Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀
ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供YL的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。
ContourX-200還配有操作和分析軟件Vision64。VisionXpress?提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。
優(yōu)質(zhì)的測(cè)量與分析功能
·易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果
·自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析
·最廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告
先進(jìn)計(jì)量設(shè)備
·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。
·通過使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能,設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。
·ContourX-200對(duì)于反射率從0.05%到100%的各種表面都非常易于測(cè)量。

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已咨詢1600次輪廓儀/白光干涉儀
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已咨詢1906次輪廓儀
報(bào)價(jià):¥1500000
已咨詢43次光學(xué)輪廓儀
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已咨詢8次三維白光干涉儀
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已咨詢16次三維白光干涉儀
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已咨詢6次三維白光干涉儀
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已咨詢20次三維白光干涉儀
Zeta-300支持3D量測(cè)和成像的功能,并提供整合隔離工作臺(tái)和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。
P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。
Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測(cè)量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
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晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量,結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍(lán)寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)PLS- F1000/ F1002 是一款專門測(cè)量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動(dòng)晶圓形貌檢測(cè)及分選機(jī)。