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布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200

面議 (具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn))
德國(guó)布魯克 ContourX-200 歐洲 德國(guó) 2026-04-14 11:36:51
售全國(guó) 入駐:11年 等級(jí):銅牌 營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
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產(chǎn)品特點(diǎn):

·優(yōu)質(zhì)的測(cè)量與分析功能
·先進(jìn)計(jì)量設(shè)備
·ZG性能表面計(jì)量

產(chǎn)品詳情:



ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供YL的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。


ContourX-200還配有操作和分析軟件Vision64。VisionXpress?提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。


優(yōu)質(zhì)的測(cè)量與分析功能


·易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

·自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析

·最廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析

·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告


先進(jìn)計(jì)量設(shè)備


·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。

·通過使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能,設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。

·ContourX-200對(duì)于反射率從0.05%到100%的各種表面都非常易于測(cè)量。

x200規(guī)格.png



  • 熱點(diǎn)應(yīng)用
  • 儀器儀表

應(yīng)用方案

技術(shù)資料

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