M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳（C）到镅（Am）全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗證、市場領(lǐng)先的M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的zui新成員，M4 TORNADO P...

D8 DISCOVER是一款多功能X射線衍射儀，專為在環(huán)境條件和非環(huán)境條件下對各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計。它配備多種前沿技術(shù)組件，適用于定性相分析、定量相分析、結(jié)構(gòu)測定、微應變和微晶尺寸分析等多種應用

Dektak Pro? 以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak?系統(tǒng)，具有4?重復性的卓越表現(xiàn)，并提供200毫米平臺選項。

X射線衍射（XRD）是在環(huán)境或非環(huán)境條件下從幾乎任何類型的樣品中提取結(jié)構(gòu)信息的方法，而不論其形狀、大小或成分如何。 因此，對X射線衍射儀的最主要需求就是對開放的設(shè)計和模塊化，以及大限度的用戶友好...

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1 ——用于企業(yè)研發(fā)和故障分析中 300mm 晶圓應用的電動系統(tǒng)

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT 具有平面內(nèi)磁鐵的低成本臺式 CIPT 系統(tǒng)，適用于研究和開發(fā)

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進多模計量

FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實時多層堆疊特性和CD測量。 ...

FilmTek? 2000M TSV計量系統(tǒng)為半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關(guān)結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分...

FilmTek? 2000標準桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術(shù)，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有薄膜測量應用提供了業(yè)界領(lǐng)先的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識...

——第五代AFP具有業(yè)界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射

Bruker全自動原子力顯微鏡InSightCAP緊湊型高性能剖面儀和AFMBruker的InSightCAP自動原子力輪廓儀是專門為半導體制造商和供應商設(shè)計的CMP和蝕刻計量組合平臺。

Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD ——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)

Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD ——X射線測量滿足您的研發(fā)需求 Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發(fā)和質(zhì)量控制的新一代柔性 X 射...

bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan? 干涉儀，能夠為您帶來極佳...

VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。極具創(chuàng)新意義的設(shè)計成就了該系列譜儀極佳的靈活性和卓越的性能。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位A...