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MadAFM原子力顯微鏡

來源:北京歐蘭科技發(fā)展有限公司 更新時(shí)間:2024-02-07 09:45:07 閱讀量:183
導(dǎo)讀:產(chǎn)品介紹MadAFM?是一款新型的樣品掃描原子力顯微鏡(AFM),設(shè)計(jì)用于簡便使用和簡單安裝。




產(chǎn)品介紹

MadAFM?是一款新型的樣品掃描原子力顯微鏡(AFM),設(shè)計(jì)用于簡便使用和簡單安裝。MadAFM?包括我們行業(yè)領(lǐng)先的閉環(huán)納米定位器,用于樣品和探針的精密位移平臺(tái)。Mad City Labs已經(jīng)設(shè)計(jì)和制造了超過25年的壓電閉環(huán)納米定位器。由于我們的專有PicoQ?傳感器,我們的納米定位器提供了可用的Z低噪聲和Z高分辨率。這些傳感器以其超低噪聲性能而聞名。我們的納米定位器通過我們的高性能共振探針AFM展現(xiàn)出了卓越的運(yùn)動(dòng)解耦,幾乎不可測(cè)量的平面外運(yùn)動(dòng)。除了XYZ納米定位器外,MadAFM?還集成了我們的智能控制、高穩(wěn)定性的電動(dòng)微定位器。這些微定位器允許樣品(XY)的長程運(yùn)動(dòng)、焦點(diǎn)控制和AFM頭部(Z)的位移定位。焦點(diǎn)、AFM頭部和探針定位器垂直對(duì)齊且同軸,可以直接通過1.6MP CMOS相機(jī)在樣品表面和懸臂之間獲得軸線視圖。樣品照明通過同軸白色LED進(jìn)行,而635nm激光對(duì)準(zhǔn)則通過相機(jī)輔助,手動(dòng)操作。MadAFM?可容納長寬高為50mm x 50mm x 40mm的樣品。MadAFM?支持多種顯微鏡模式(請(qǐng)參閱規(guī)格表),并包括AFMView?-OD軟件,用于處理所有硬件控制和數(shù)據(jù)采集。用戶友好的軟件具有自動(dòng)校準(zhǔn)和初始化功能,使即使是新手用戶也能快速上手。該軟件允許高級(jí)用戶訪問指定參數(shù)。MadAFM?與第三方分析軟件MountainsSPIP?和Gwyddion兼容。MadAFM?尺寸適合桌面,并且安裝簡單,用戶設(shè)置Z小。MadAFM?需要額外配置振動(dòng)和聲學(xué)隔離平臺(tái)。所有安裝均可由用戶自行完成。


特點(diǎn)


  • 低噪聲原子步進(jìn)性能

  • 經(jīng)過校準(zhǔn)的彎曲導(dǎo)向閉環(huán)納米定位器

  • 在掃描范圍內(nèi)平面外運(yùn)動(dòng)小于1納米

  • 專有的PicoQ?低噪聲傳感器

  • 長行程、高穩(wěn)定性的微定位

  • 自動(dòng)校準(zhǔn)和初始化

  • 自動(dòng)軟件和硬件設(shè)置

  • 對(duì)經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶可調(diào)參數(shù)

  • 用戶友好的探針更換

  • 簡單安裝,桌上型設(shè)計(jì)

  • 包括AFMView?軟件 - 硬件控制和數(shù)據(jù)采集

  • 圖像分析軟件選項(xiàng)

應(yīng)用
  • 原子力顯微鏡

  • 相位顯微鏡

  • 磁力顯微鏡

  • 電力顯微鏡

  • 橫向力顯微鏡

  • 掃描隧道顯微鏡

  • 開爾文探針顯微鏡

  • 導(dǎo)原子力顯微鏡

  • 電力顯微鏡

  • 壓電力顯微鏡

  • 納米光刻術(shù)

  • 生物原子力顯微鏡


技術(shù)指標(biāo)

MadAFM?運(yùn)動(dòng)控制

閉環(huán)納米定位器

(X. Y) 30 um, 65 um or 100 um, (Z) 15 um or 30 um

Mechanism, (X,Y,Z)
Piezo, flexure guided,
位置傳感器s (X,Y,,Z)
PicoQ
N納米定位器步長(30 um 行程)0.03 nm
定位噪聲水平(30 um 行程)2.7 picometers peak to peak
微動(dòng)定位器行程

25 mm (X, Y, Focus), 50 mm (Z)

樣品尺寸 (X,Y,Z)50 mm X 50mm X 40mm
樣品重量Up to 500 grams

MadAFM? 光學(xué)組件

激光器635 nm (Class II)
激光器準(zhǔn)直Manual
相機(jī)1.6 MP CMOS
物鏡焦距85mm
樣品照明Coaxial white LED

MadAFM? 控制器

ADC

模數(shù)轉(zhuǎn)換器

15 channels - (3) 24 bit for PicoQ sensors

DAC

數(shù)模轉(zhuǎn)換器

11 channels, - (3) 20 bit for X,Y,Z nanopositioning
外部信號(hào)信號(hào)接口 (I/O)14 channels,, 12 BNC ports (including 4 TTL), 2 on Microscope
鎖相放大器single channel, dual phase hybrid
納米定位器接頭DB-50
微定位器接頭DB-37
LED 指示燈Micropositioner / (XYZ) Focus / Laser on
軟件AFMView?-OD
微機(jī)接口USB 2.0

模式*

成像模式

Contact AFM, Intermittent AFM, Non-Contact AFM, Constant Height AFM, Lateral Force Microscopy, Phase Microscopy

電子模式

Scanning Tunneling Microscopy, Conductive AFM, I-V Spectroscopy, Electrical Force Microscopy, Kelvin Probe Microscopy, Piezoelectric Force Microscopy

機(jī)械模式

Force Modulation Microscopy, Nanolithography

作用力測(cè)量Force Distance Spectroscopy, Force Volume Imaging
磁力

Magnetic Force MIcroscopy

* 有些模式需要額外增加購置選項(xiàng)

附件

液體樣品Open Cell Kit / Closed Cell Kit

常規(guī)參數(shù)

MadAFM? 重量37 lbs / (16.8 kg)
Microscope 尺寸10" x 11.25" x 19" / (254 mm x 286 mm /483 mm)
控制器重量9 lbs / (4.1 kg)
控制器尺寸16.75" x 14" x 19: / (426 mm x 356 mm x 89 mm)
電源12 VDC / (PN: MCLPS1001)

計(jì)算機(jī)需求 (不提供)

CPU 需求3.1 GHz or equivalent
RAM 需求4 Gbytes or more
PC 連接1 x USB 2.0 and 1 x USB 3.0
操作系統(tǒng)Windows 8.1/10/11 - 32 bit and 64 bit



實(shí)測(cè)樣圖


Image of 312 pm atomic steps on Si(111) substrate measured using MadAFM? 6515, in contact mode. Image size 2 um x 2 um

Image of 1.5 nm atomic steps on SiC substrate measured using MadAFM? 6515, in contact mode. Image size 2 um x 2 um

Calibration grid with 110nm feature height. Contact mode using MadAFM? 6515. Image size: 30 um x 30um



Topographic image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM? 6515. Image size: 10 um x 10um.

Kelvin mode, image of alternating Au and Al lines, 25 nm lift height using MadAFM? 6515. Image size 10 um x 10um.

Topographic image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM?6515. Image size 10 um x 10um.

Electric Force Microscopy image of alternating Au and Al lines (35 nm height) using MadAFM?6515 Gold lines are grounded while Al lines are 1.0V. Image size 10 um x 10um.


相關(guān)產(chǎn)品

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  • MadPLL 用于AFM/NSOM的儀器實(shí)現(xiàn)(技術(shù)文檔)

  • 用 SPM-M Kit 組件自行搭建AFM/NSOM(技術(shù)文檔)

如果您對(duì)此處介紹的MadAFM原子力顯微鏡感興趣,敬請(qǐng)聯(lián)系北京發(fā)展有限公司。

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