原子力顯微鏡培訓(xùn)交流會圓滿成功

2023年11月20日-21日，布魯克納米表征全國用戶會議--青島站，暨原子力顯微鏡培訓(xùn)，在青島大學(xué)分析測試中心成功舉辦。

Bruker 納米表面儀器，始終致力于為客戶提供納米表征的優(yōu)解決方案，二十多年來在納米表征領(lǐng)域穩(wěn)居領(lǐng)先的地位。不僅為納米表征領(lǐng)域的專家、學(xué)者和業(yè)界人士提供理論研究和成果分享的學(xué)術(shù)交流平臺，而且持續(xù)共享前沿的行業(yè)資訊和趨勢分析，同時為客戶提供更好的技術(shù)支持及學(xué)習(xí)培訓(xùn)。

本次會議參會師生多達(dá)58人，3位布魯克應(yīng)用專家做了6個精彩的主題報告；除了理論培訓(xùn)報告之外，本次會議還安排了上機(jī)實操和自由談?wù)?。“理?實操”，使得培訓(xùn)更加立體；更加直觀和真實的反映了Bruke AFM的“小針尖”解決“大問題”。

會議由布魯克納米表面部北方大區(qū)銷售經(jīng)理黃震文致辭開幕：

黃總就Bruker目前先進(jìn)儀器做了簡單介紹，并分享了新的應(yīng)用方面的科研成果，同時表明會持續(xù)的為客戶提供學(xué)習(xí)、支持和服務(wù)。

Bruker三位應(yīng)用專家報告主題依次如下:

1，納米尺度紅外光譜和成像技術(shù)及其在各領(lǐng)域的應(yīng)用--李勇君博士

2，AFM相關(guān)技術(shù)在能源轉(zhuǎn)換與存儲中的應(yīng)用--岳俊培博士

3，小針尖大戰(zhàn)洪荒之力—掃描探針顯微鏡在軟物質(zhì)及生物力學(xué)表征中的應(yīng)--劉陽博士

4，AFM成像技巧及探針選型--李勇君博士

5，力曲線及離線處理--岳俊培博士

6，基于AFM的電學(xué)測量，靜電力顯微鏡，開爾文探針顯微鏡以及導(dǎo)電原子力顯微--劉陽博士

在高密度的培訓(xùn)報告中間，本次會議還貼心的安排了茶歇環(huán)節(jié)；讓參會師生可以放松休息，補(bǔ)充能量，以便更好的學(xué)習(xí)培訓(xùn)內(nèi)容，吸收培訓(xùn)知識。

會議第二天為上機(jī)實操和自由探討，有自己帶來樣品需要應(yīng)用專家現(xiàn)場進(jìn)行測樣的，有針對科研方向不同的功能應(yīng)用部分探討的，有不同探針和不同模式下的掃描操作現(xiàn)場演示的，也有針對操作過程中遇到的問題進(jìn)行現(xiàn)場答疑解惑的…

Bruker AFM不僅可以掃描樣品表面三維形貌結(jié)構(gòu)（納米至微米尺度的三維測量），還可以測量摩擦力和其它表面力 (LFM)，全線性相位成像 (±180°)，磁場力 (MFM，TR-MFM)，靜電力及表面電勢 (EFM/SKPM)，材料表面各向異性 (TR Mode)，壓電響應(yīng)（Piezo Response），力曲線/力曲線分布圖譜；

同時可以加載定量納米力學(xué)性能測試（Peakforce QNM），納米動態(tài)力學(xué)測試（nanoDMA)，納米刻蝕/操縱（Nanoman)，熱導(dǎo)率及溫度分布 (SThM)，納米級熱分析（NanoTA)，掃描電容顯微鏡 (SCM)，掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡(SSRM)，導(dǎo)電原子力顯微鏡（CAFM），峰值力隧道電流顯微鏡（Peakforce Tuna)，高分辨開爾文探針顯微鏡(Peakforce KPFM)，多維電學(xué)測量（Data Cube），電化學(xué)掃描探針顯微鏡 (ECSPM)，峰值力掃描電化學(xué)顯微鏡（Peakforce SECM)，溶液下電學(xué)測量，高低溫控制，光電流檢測（pc-AFM)，納米表面光電壓顯微鏡（nanoSPVM）

另外，Bruker專利技術(shù)“光誘導(dǎo)紅外光譜技術(shù)(AFM-IR)”將原子力顯微鏡與紅外結(jié)合，可以進(jìn)行表面化學(xué)成分的表征，化學(xué)成像空間分辨率優(yōu)于10nm。

Z后，Bruker應(yīng)用專家劉陽博士和參會師生進(jìn)行了合影留念（部分代表）。在此，特別感謝青島大學(xué)分析測試中心的場地支持和青島大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院孫童教授的鼎力幫助。

為期兩天的培訓(xùn)總是短暫的，魯克納米表面部和瑞科和利（北京）科技有限公司，會持續(xù)的舉辦相關(guān)的培訓(xùn)會或技術(shù)交流會，為我們師生在科研道路上提供更好的技術(shù)支持及學(xué)習(xí)資源，以助力科研成功順利，成果累累。

原子力顯微鏡AFM的應(yīng)用：在材料科學(xué)領(lǐng)域，在聚合物科學(xué)領(lǐng)域，在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域，在電化學(xué)領(lǐng)域，在生命科學(xué)領(lǐng)域，在化工領(lǐng)域，在醫(yī)藥研究領(lǐng)域等等，都能發(fā)揮極大的作用。

Bruker AFM是國際品牌，成像分辨率高，數(shù)據(jù)結(jié)果準(zhǔn)，測量功能模塊全；作為科研儀器的測量、參考、引用，受到國際廣大專家、評審和學(xué)者的認(rèn)可和推崇。

同時，有關(guān)Bruker AFM方面的任何問題：比如了解咨詢、使用問題、應(yīng)用問題、售后問題等等，都可以隨時溝通。我們會及時的對接，快速的反饋，妥善的處理，以滿足各位的需求和要求。

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