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原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡的分類

更新時(shí)間:2025-10-22 13:49:14 類型:教程說(shuō)明 閱讀量:2558
導(dǎo)讀:原子力顯微鏡(AFM)屬于掃描探針顯微技術(shù)的一支,此類顯微技術(shù)都是利用特制的微小探針,來(lái)偵測(cè)探針與樣品表面之間的某種交互作用,如穿隧電流、原子力、磁力、近場(chǎng)電磁波等等。

  原子力顯微鏡(AFM)屬于掃描探針顯微技術(shù)的一支,此類顯微技術(shù)都是利用特制的微小探針,來(lái)偵測(cè)探針與樣品表面之間的某種交互作用,如穿隧電流、原子力、磁力、近場(chǎng)電磁波等等。

原子力顯微鏡的常見類別

  接觸式原子力顯微鏡:

  在接觸式原子力顯微鏡操作下,探針與樣品問(wèn)的作用力是原子間的排斥力,這是Z早被發(fā)展出來(lái)的操作模式,由于排斥力對(duì)距離非常敏感,所以接觸式原子力顯微鏡較容易得到原子解析度。在一般的接觸式量測(cè)中,探針與樣品問(wèn)的作用力很小,約為10^-6至10^-10N,但由于接觸面積極小,因此過(guò)大的作用力仍會(huì)損壞樣品表面,但較大的的作用力通??傻玫捷^佳的解析度。因此選擇適當(dāng)?shù)牡淖饔昧?,接觸式原子力顯微鏡的操作模式是十分重要的。

原子力顯微鏡的常見類別.jpg

  接觸式的原子力顯微鏡利用探針和樣品原子間的排斥力,原子力間的排斥力對(duì)距離的變化是非常敏感。是利用具有懸臂的探針接觸且輕壓表面,由于反作用力使得探針的懸臂產(chǎn)生偏折,而偏折量的大小代表反作用力的大小,所以掃描表面時(shí)利用維持相同的偏折量就可以描繪出3D的表面結(jié)構(gòu)。

  就原子力顯微鏡的操作模式比較起來(lái),接觸式原子力顯微鏡較能夠得到原子尺度的解析度,一般的接觸量測(cè)中,探針和試片間作用力約為10^-6~10^-9牛頓(N),但接觸 面積極小,相對(duì)形成過(guò)大的作用力可能損害樣品,尤其是軟性材質(zhì)。因此設(shè)定適當(dāng)?shù)淖饔昧κ欠浅V匾摹?/p>

  非接觸式原子力顯微鏡:

  為了解決接觸式原子力顯微鏡可能損壞樣品的缺點(diǎn),便有非接觸式原子力顯微鏡發(fā)展出來(lái),這是利用原子間的長(zhǎng)距離吸引力來(lái)運(yùn)作。凡德瓦爾力對(duì)距離的變化非常小,因此必須使用調(diào)變技術(shù)來(lái)增強(qiáng)訊號(hào)對(duì)雜訊比,便能得到等作用力圖像,這也就是樣品的高度影像。一般非接觸式原子力顯微鏡只有約50nm(10^-9m)的解析度,不過(guò)在真空環(huán)境下操作,其解析度可達(dá)原子級(jí)的解析度,是原子力顯微鏡中解析度Z佳的操作模式。

  此為輕敲式原子力顯微鏡的衍生,一樣利用探針跳動(dòng)來(lái)掃描,但是探針始終都不接觸表面,而是利用表面上所存在的凡得瓦爾力吸引會(huì)改變振幅的大小做回饋,因此若是原子力顯微鏡在大氣中操作時(shí),試片表面常會(huì)吸附一層水,所以在討論探針和試片交互作用時(shí),必須考慮探針與試片表面水膜間的毛細(xì)孔現(xiàn)象。非接觸式由于不是直接接觸表面,所以所呈現(xiàn)的影像解析度較差,大約只能達(dá)50nm。

  輕敲式原子力顯微鏡:

  輕敲式原子力顯微鏡則是將非接觸式加以改良,其原理系將探針與樣品距離加近,然后增大振幅,使探針在振盪至波谷時(shí)接觸樣品,由于樣品的表面高低起伏,使得振幅改變,再利用類似非接觸式的迴饋控制方式,便能取得高度影像。由于接觸式原子力顯微鏡掃描容易刮傷試片表面,所以后來(lái)改用驅(qū)動(dòng)探針跳動(dòng)來(lái)掃描試片,如此接觸試片表面時(shí)探針施予的力量不但小了許多,且只有正向作用力,但是此時(shí)系統(tǒng)不再利用探針懸臂的偏折量來(lái)作回饋,而是探針跳動(dòng)時(shí)懸臂的振幅量來(lái)回饋。

原子力顯微鏡與其他顯微鏡的不同

  原子力顯微鏡,激光共聚焦顯微鏡,掃描電鏡無(wú)論是在產(chǎn)品功能上還是在產(chǎn)品性能上都相差很多,其中包括:

  1、掃描驅(qū)動(dòng)方式不同:

  ①激光共聚焦:激光轉(zhuǎn)鏡控制激光掃描范圍和掃描速度。

  ②原子力顯微鏡:壓電位移傳感器驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)X、Y 方向掃描。

 ?、蹝呙桦婄R:電磁線圈控制電子束掃描范圍和掃描速度。

  2、工作環(huán)境差別:

  ①激光共聚焦和原子力顯微鏡可以在大氣環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試樣品。

  ②一般掃描電鏡必須在高真空環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試樣品。

原子力顯微鏡.jpg

  3、應(yīng)用范圍差別:

 ?、偌す夤簿劢梗簬妆?幾千倍,樣品制備簡(jiǎn)單。

 ?、谠恿︼@微鏡:幾萬(wàn)倍~幾千萬(wàn)倍,要求樣品非常平坦,樣品制備很難。

 ?、蹝呙桦婄R :幾倍~幾十萬(wàn)倍,樣品制備稍微復(fù)雜一些,但總體也很簡(jiǎn)單。

  4、立體成像的差別:

 ?、偌す夤簿劢梗和ㄟ^(guò)納米精度步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)樣品在Z軸方向逐層成像,軟件將設(shè)定的各層圖像合成清晰立體圖像。

 ?、谠恿︼@微鏡:成像的本質(zhì)就是測(cè)量表面每個(gè)像素點(diǎn)的高低,描繪出立體形貌。

  ③掃描電鏡:?jiǎn)螏瑘D像具有很大景深,但屬于二維圖像,通過(guò)立體對(duì)技術(shù)可實(shí)現(xiàn)三維成像。


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