本文由 北京鴻達天矩試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

2015-05-21 00:00 293閱讀次數(shù)

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  GBT 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf[詳細]

  2015-05-21 00:00

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  2018-09-04 10:00

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  GBT 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAM低溫低氣壓綜合試驗.pdf[詳細]

  2015-03-18 00:00

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  GBT2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ZAM低溫低氣壓綜合試驗.pdf[詳細]

  2018-09-04 10:00

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  GBT 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度低溫、高溫和振動正弦綜合試驗導(dǎo)則[詳細]

  2014-07-01 00:00

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  GBT 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M低氣壓試驗方法.pdf[詳細]

  2015-03-11 00:00

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  2014-05-15 00:00

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  2014-03-14 00:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。本低溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗綜合試驗方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗的基本要求，嚴(yán)酷等級，試驗程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存，運輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。更多資料信息請下載瀏覽附件[詳細]

  2018-08-19 10:00

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  GBT2423.35-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ZAfc散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動（正弦）綜合試驗方法[詳細]

  2018-09-04 10:00

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• GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品振動（正弦）試驗方法

  GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗振動（正弦）試驗方法1.目的：提供一種確定元器件、設(shè)備和其他產(chǎn)品承受規(guī)定等級正弦振動能力的標(biāo)準(zhǔn)方法。2.一般說明：本試驗的目的用來確定機械薄弱環(huán)節(jié)和（或）性能下降情況，并利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來決定樣品是否可以接收。在某些情況下，也可用來確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性和（或）研究它們的動態(tài)特性。也可根據(jù)經(jīng)受住本試驗中的各種嚴(yán)酷等級的能力來劃分元器件的等級。在振動試驗期間樣品是否處于工作狀態(tài)應(yīng)在有關(guān)規(guī)范中規(guī)定。必須強調(diào)指出，振動試驗總需一定程度的工程判斷，供需雙方應(yīng)充分認識這一點。本標(biāo)準(zhǔn)的正文部分首先論述了在規(guī)定點上控制試驗的方法，詳細給出了試驗程序，并且還對振動運動的要求，嚴(yán)酷等級《頻率范圍、振幅、耐久時間》的選擇作出規(guī)定-科文正弦波振動臺。固定點：樣品與夾具或與振動臺點接觸的部分，在使用中通常是固定樣品的地方。如果實際安裝結(jié)構(gòu)的一部分作夾具使用，則應(yīng)取安裝結(jié)構(gòu)和電磁振動臺點接觸的部分作固定點，而不應(yīng)取樣品和振動臺點接觸的部分作固定點。[詳細]

  2018-10-11 10:00

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• GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf

  GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf[詳細]

  2015-01-12 00:00

  應(yīng)用文章

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• GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗

  GBT 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM高溫低氣壓綜合試驗[詳細]

  2014-03-12 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗

  GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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  GBT2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M低氣壓試驗方法.pdf[詳細]

  2018-09-04 10:00

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  GBT 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBFc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf[詳細]

  2015-05-07 00:00

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