本文由 北京鴻達(dá)天矩試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

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  GBT 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

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  GB2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級(jí)、預(yù)處理、初始測量、條件試驗(yàn)、恢復(fù)和Z后測量。本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。[詳細(xì)]

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