本文由 北京鴻達(dá)天矩試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf[詳細(xì)]

  2015-04-27 00:00

  期刊論文

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法[詳細(xì)]

  2014-05-05 00:00

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• GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合 循環(huán)試驗方法

  GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38（1974年、**版）試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則]GB2422-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語]GB242。.2-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則]本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗。GB/T2423-34-2005第4試驗設(shè)備的說明規(guī)定試驗樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個試驗箱或兩個試驗箱內(nèi)進(jìn)行。若采用一個試驗箱，則可以使用高低溫濕熱交變試驗箱進(jìn)行試驗，若需要更惡劣的試驗環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法引言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38《試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》GB2422-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語》GB2424.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則》本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。采用本標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)規(guī)定的細(xì)則a.條件試驗期間試驗樣品的狀態(tài)（例如電氣，機(jī)械負(fù)載或極化電壓）；b.與“干燥的標(biāo)準(zhǔn)條件"不同的預(yù)處理程序；c.與正常的試驗大氣條件不同的初始檢測條件；d.條件試驗前必須進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測；e.如果需要，條件試驗期間進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測及檢測的時間；f.條件試驗后進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測，首先檢測參數(shù)，以及與本標(biāo)準(zhǔn)不同的完成這些參數(shù)檢測的時間。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法.pdf

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法.pdf[詳細(xì)]

  2015-03-13 00:00

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  GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法.pdf[詳細(xì)]

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  2014-12-11 00:00

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  GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

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  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細(xì)]

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  安裝說明

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  2014-05-13 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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  2014-05-08 00:00

  專利

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  2015-05-14 00:00

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  2015-05-13 00:00

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  GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法[詳細(xì)]

  2014-06-28 00:00

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  GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細(xì)]

  2014-05-22 00:00

  安裝說明

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