本文由 東莞市貝爾試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-09-13 10:00 686閱讀次數(shù)

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• GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）標準簡介本部分適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運輸和貯存的適應(yīng)性。如果本試驗用于檢驗帶包裝樣品在運輸和貯存過程中的性能時,應(yīng)帶包裝一起進行試驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB_T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h+12h循環(huán)）本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的高低溫交變濕熱試驗箱又名可程式恒溫恒濕試驗箱，來執(zhí)行。[詳細]

  2024-10-01 08:38

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• GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）本部分等同采用IEC60068-2-30：2005《環(huán)境試驗第2-30部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）》[詳細]

  2018-10-25 10:00

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• GBT 2423.4-2008 試驗Db： 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司于2013年9月24日發(fā)布GBT2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）僅供參考。[詳細]

  2018-10-23 10:31

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.4-2008交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運輸和貯存的適應(yīng)性。如果本試驗用于檢驗帶包裝樣品在運輸和貯存過程中的性能時,應(yīng)帶包裝一起進行試驗。試驗條件與環(huán)境可采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫交變濕熱試驗箱模擬試驗環(huán)境。GB/T2423.4-2008為GB/T2423的第4部分。等同采用IEC60068-2-30:2005《環(huán)境試驗第2-30部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）》（英文版）。主要做了以下編輯性修改:---刪除了國際標準的前言和引言;---增加了國家標準前言;---引用了采用國際標準的國家標準。本部分代替GB/T2423.4-1993,與其相比,主要不同之處有:---圖2改為圖2a）和圖2b）;---在降溫階段中,方法2允許相對濕度和溫度下降速率有較大的容差;---恢復(fù)條件相對濕度由原來的（75±3）%改為（75±2）%,溫度由實驗室溫度±2K改為實驗室溫度±1K;---增加了附錄A。本部分的附錄A為資料性附錄，高低溫交變濕熱試驗箱應(yīng)參照該標準制造。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱

  GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  GB2423.4-2008+電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：+交變濕熱(12h＋12h循環(huán))[詳細]

  2018-09-14 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用，運輸和貯存適應(yīng)性。如果本試驗檢驗帶包裝樣品在運輸和貯存過程中的性能時，應(yīng)帶包裝一起進行試驗。我們公司成立了自己的研發(fā)部門，綜合網(wǎng)絡(luò)部網(wǎng)上技術(shù)問題收集、技術(shù)人員現(xiàn)場常見問題歸納、研發(fā)部行業(yè)技術(shù)調(diào)研，所有問題融合總結(jié)創(chuàng)新突破。我們主打產(chǎn)品恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，冷熱沖擊試驗箱，紫外線老化試驗箱，步入式恒溫恒濕房等環(huán)境設(shè)備。[詳細]

  2018-11-09 10:00

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• GB-T2423.4-試驗Db交變濕熱12h＋12h循環(huán)

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱(12h＋12h循環(huán))GBT2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱(12h＋12h循環(huán))[詳細]

  2018-10-11 10:00

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• GB-T2423.4-2008試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  交變濕熱試驗箱[詳細]

  2018-11-20 10:00

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• GB/T 2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Db：交變濕熱試驗方法

  GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Db：交變濕熱試驗方法標準簡介本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應(yīng)性。標準狀態(tài)：已作廢[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.4-2008《環(huán)境試驗 交變濕熱》

  GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:第二部分：試驗方法試驗Db交變濕熱(12h＋12h循環(huán))為2008年頒布發(fā)行，等同于IEC60068-2-30：2005。由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化委員會提出并歸口，ZG電器科學(xué)研究院等起草。GB/T2423.4-2008適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運輸和存儲的適應(yīng)性。對于小的，質(zhì)量輕的樣品使用本試驗，在樣品表面產(chǎn)生凝露可能比較困難，用戶應(yīng)考慮使用其他替代試驗，如GB/T2423.34-2005.高低溫交變濕熱試驗箱，即恒溫恒濕試驗箱能在規(guī)定的高溫之間循環(huán)變化，且容差和變化速率符合規(guī)定。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分；試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱

  GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法 下載

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載免費下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:02

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標準簡介本標準等同采用IEC60068-2-68：2001，本標準描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗標準簡介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)相同，編寫格式與表達方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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