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• GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱

  GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）本部分等同采用IEC60068-2-30：2005《環(huán)境試驗第2-30部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）》[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）標準簡介本部分適用于確定元件、設備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運輸和貯存的適應性。如果本試驗用于檢驗帶包裝樣品在運輸和貯存過程中的性能時,應帶包裝一起進行試驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB_T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB_T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h+12h循環(huán)）本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備有限公司提供的高低溫交變濕熱試驗箱又名可程式恒溫恒濕試驗箱，來執(zhí)行。[詳細]

  2024-10-01 08:38

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• GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com北京北方利輝試驗設備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A；低溫

  GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A；低溫免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.2-2008代替GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B；高溫

  GB/T2423.2-2008代替GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B；高溫免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分；試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱

  GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應的試驗方法本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Db：交變濕熱試驗方法

  GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Db：交變濕熱試驗方法標準簡介本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應性。標準狀態(tài)：已作廢[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則》1975版。本標準介紹地面太陽輻射對設備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.10-2008代替GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動（正弦）

  GB/T2423.10-2008代替GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動（正弦）本部分等同采用IEC60068-2-6：1995《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動（正弦）》免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則》1975版。本標準介紹地面太陽輻射對設備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品 第2部分 試驗方法

  GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性上海覽浩儀器設備有限公司021-59788381[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標準代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導則》[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cb；設備用恒定濕熱

  GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb；設備用恒定濕熱本標準實施之日起，同時代替GB/T2423.9-1989免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法 下載

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載免費下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:02

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• GB/T2423.5-1995代替GB/T2423.5-81 GB/T2424.3-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Ea和導則：沖擊

  GB/T2423.5-1995代替GB/T2423.5-81GB/T2424.3-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Ea和導則：沖擊本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-27“環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊“1987年第3版免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab；恒定溫熱試驗

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫熱試驗代替GB/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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