本文由 武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 1605閱讀次數(shù)

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• GB/T 11606-2007 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法

  GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法規(guī)定了分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法的總則及方法。適用于所有分析儀器在研究、開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷(xiāo)售過(guò)程中，為保證產(chǎn)品質(zhì)量和制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，所需儀器環(huán)境試驗(yàn)的選擇。試驗(yàn)項(xiàng)目有：電源電壓與頻率試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、磁場(chǎng)試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、長(zhǎng)霉試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)和碰撞試驗(yàn)共16項(xiàng)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法

  GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法代替GB/T11606.1-11606.17-1989分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法總則、電源頻率與電壓試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、磁場(chǎng)試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、長(zhǎng)霉試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)各部分內(nèi)容。藍(lán)煜機(jī)電設(shè)備有限公司先有100L高低溫試驗(yàn)箱優(yōu)惠促銷(xiāo)，一律出廠價(jià)促銷(xiāo)，數(shù)量有限，歡迎廣大用戶來(lái)電咨詢采購(gòu)。聯(lián)系人周生15558226566[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB 11606.11-89《分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 砂塵試驗(yàn)》

  GB11606.11-89《分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法砂塵試驗(yàn)》規(guī)定了分析儀器三種砂塵試驗(yàn)條件和試驗(yàn)方法。三種試驗(yàn)方法分別為L(zhǎng)a試驗(yàn)：用來(lái)檢驗(yàn)儀器對(duì)砂塵的密封性能；Lb試驗(yàn)：用來(lái)檢驗(yàn)在砂塵的靜態(tài)作用下儀器的工作能力；Lc：用來(lái)檢驗(yàn)砂塵的動(dòng)態(tài)作用下儀器的工作能力及儀器表面的耐磨性能。試驗(yàn)采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的砂塵試驗(yàn)箱。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 11606.1-1989分析環(huán)境試驗(yàn)方法

  GB/T11606.1-1989分析環(huán)境試驗(yàn)方法規(guī)定了分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法的總則及方法。適用于所有分析儀器在研究、開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷(xiāo)售過(guò)程中，為保證產(chǎn)品質(zhì)量和制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，所需儀器環(huán)境試驗(yàn)的選擇。試驗(yàn)項(xiàng)目有：高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)，恒定濕熱試驗(yàn)，鹽霧試驗(yàn)，碰撞試驗(yàn)，跌落試驗(yàn)等[詳細(xì)]

  2018-11-17 10:00

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• GB 11606.7 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 交變濕熱試驗(yàn)

  GB11606.7-1989分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB 11606.7-1989 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 交變濕熱試驗(yàn)

  GB 11606.7-1989 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 交變濕熱試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:24

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• GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：太陽(yáng)輻射

  GB/T12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：太陽(yáng)輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電氣等特性受到太陽(yáng)輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗(yàn)箱可模擬太陽(yáng)光的全光譜，可以滿足太陽(yáng)輻射的試驗(yàn)要求，模擬過(guò)程主要是通過(guò)箱體內(nèi)的短弧氙燈實(shí)現(xiàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見(jiàn)資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2：2007(環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B：干熱)。本部分與IEC60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：--本部分的名稱改為：（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫）；--"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為："本部分"；--刪除了IEC60068-2-2：2007前言；--刪除了IEC60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容；[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢代替情況：被GB/T2423.2-2001代替[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：長(zhǎng)霉

  GB/T12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第11部分：長(zhǎng)霉規(guī)定了長(zhǎng)霉試驗(yàn)用的試驗(yàn)菌種，試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究長(zhǎng)霉對(duì)試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)、機(jī)械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價(jià)霉菌代謝產(chǎn)物（比如酶或酸性物質(zhì)）導(dǎo)致對(duì)零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴(yán)重程度。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的霉菌試驗(yàn)箱，[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：砂塵

  GB/T12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運(yùn)動(dòng)部件（如滑動(dòng)面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗(yàn)不能用來(lái)確定對(duì)粗粒砂塵的耐磨性。試驗(yàn)所需設(shè)備采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的砂塵試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)環(huán)境。砂塵試驗(yàn)箱模擬塵埃環(huán)境試驗(yàn)生產(chǎn)，用于各種汽車(chē)零部件做防塵及耐塵試驗(yàn)，測(cè)試部件包含有電氣防塵套、儀表、門(mén)鎖、車(chē)燈、轉(zhuǎn)向機(jī)構(gòu)等產(chǎn)品。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法：滴水、淋雨

  GB/T12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗(yàn)條件要求暴露開(kāi)始時(shí)水的溫度應(yīng)低于試樣的溫度，在暴露試驗(yàn)過(guò)程中，試樣應(yīng)被安裝在旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)易于操作的位置，工作臺(tái)繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉(zhuǎn)速度為1r/min~2r/min，在試驗(yàn)前，應(yīng)測(cè)量試驗(yàn)所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的滴水試驗(yàn)機(jī)和箱式淋雨試驗(yàn)箱。滴水試驗(yàn)和淋雨試驗(yàn)要求按照該標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：鹽霧

  GB/T12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖潜M早對(duì)儀器表面和保護(hù)涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評(píng)估。GB/T12085.4-2010適宜于：評(píng)估光學(xué)及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評(píng)估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現(xiàn)材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗(yàn)對(duì)于光學(xué)儀器有重要意義，腐蝕會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生測(cè)量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測(cè)材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗(yàn)、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)、醋酸鹽霧試驗(yàn)、交變鹽霧試驗(yàn)四種試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.4-2008《環(huán)境試驗(yàn) 交變濕熱》

  GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db交變濕熱(12h＋12h循環(huán))為2008年頒布發(fā)行，等同于IEC60068-2-30：2005。由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)提出并歸口，ZG電器科學(xué)研究院等起草。GB/T2423.4-2008適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會(huì)在試驗(yàn)樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運(yùn)輸和存儲(chǔ)的適應(yīng)性。對(duì)于小的，質(zhì)量輕的樣品使用本試驗(yàn)，在樣品表面產(chǎn)生凝露可能比較困難，用戶應(yīng)考慮使用其他替代試驗(yàn)，如GB/T2423.34-2005.高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，即恒溫恒濕試驗(yàn)箱能在規(guī)定的高溫之間循環(huán)變化，且容差和變化速率符合規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.5-1995 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 沖擊

  GB/T2423.5-1995標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)?zāi)康氖怯脕?lái)揭露機(jī)械弱點(diǎn)和（或）性能下降情況，并且利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來(lái)決定是否可以接收。GB/T2423.5-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)沖擊標(biāo)準(zhǔn)的沖擊不是用來(lái)模擬實(shí)際所遭受的沖擊，可能的話，加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和沖擊脈沖波形應(yīng)能模擬樣品將要經(jīng)受到的實(shí)際運(yùn)輸和工作環(huán)境的效應(yīng)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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• GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)碰撞

  GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB 12085.7-1989 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨試驗(yàn)

  GB12085.7-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法淋雨試驗(yàn).pdf[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T 2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

  GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了恒定濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)程序、嚴(yán)酷等級(jí)和對(duì)試驗(yàn)箱（室）的在本要求等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定電工電子產(chǎn)品、件、材料等在恒定濕熱條件下使用和貯存的適應(yīng)性。標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低溫、高溫、濕熱

  GB/T12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件，試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗(yàn)環(huán)境所需試驗(yàn)箱采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗(yàn)箱，通過(guò)箱體內(nèi)的相關(guān)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：露、霜、冰

  GB/T12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗(yàn)是通過(guò)迅速改變?cè)囼?yàn)箱（室）中的環(huán)境條件或?qū)⒃嚇訌睦洳叵渲修D(zhuǎn)移到已經(jīng)調(diào)好溫度的房間中來(lái)實(shí)現(xiàn)。正常使用情況下不會(huì)暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗(yàn)前必須將儀器保護(hù)好后再暴露。因?yàn)樵嚇訕悠沸枰M(jìn)行轉(zhuǎn)移操作且轉(zhuǎn)移的兩個(gè)試驗(yàn)箱溫度可調(diào)節(jié)，所以采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫沖擊試驗(yàn)箱實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)條件。兩廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱是通過(guò)吊籃帶動(dòng)樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)高低溫轉(zhuǎn)換。三廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗(yàn)區(qū)組成，當(dāng)試驗(yàn)區(qū)與高溫區(qū)結(jié)合時(shí)，可以做高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)區(qū)與低溫區(qū)結(jié)合時(shí)，可以做低溫試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:53

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