本文由 武漢尚測試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：砂塵

  GB/T12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運(yùn)動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗不能用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。試驗所需設(shè)備采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的砂塵試驗箱模擬試驗環(huán)境。砂塵試驗箱模擬塵埃環(huán)境試驗生產(chǎn)，用于各種汽車零部件做防塵及耐塵試驗，測試部件包含有電氣防塵套、儀表、門鎖、車燈、轉(zhuǎn)向機(jī)構(gòu)等產(chǎn)品。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB12085.6-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 砂塵

  GB12085.6-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 砂塵[詳細(xì)]

  2014-11-25 00:00

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• GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：太陽輻射

  GB/T12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第9部分：太陽輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽輻射試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電氣等特性受到太陽輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗箱可模擬太陽光的全光譜，可以滿足太陽輻射的試驗要求，模擬過程主要是通過箱體內(nèi)的短弧氙燈實現(xiàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT12085.6-2010光學(xué)儀器環(huán)境試驗法：砂塵

  GBT12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第6部分：砂塵上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多標(biāo)準(zhǔn)下載請瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：長霉

  GB/T12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉規(guī)定了長霉試驗用的試驗菌種，試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。目的是研究長霉對試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)、機(jī)械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價霉菌代謝產(chǎn)物（比如酶或酸性物質(zhì)）導(dǎo)致對零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴(yán)重程度。試驗所需設(shè)備為武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的霉菌試驗箱，[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法：滴水、淋雨

  GB/T12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗條件要求暴露開始時水的溫度應(yīng)低于試樣的溫度，在暴露試驗過程中，試樣應(yīng)被安裝在旋轉(zhuǎn)工作臺易于操作的位置，工作臺繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉(zhuǎn)速度為1r/min~2r/min，在試驗前，應(yīng)測量試驗所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗所需設(shè)備為武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的滴水試驗機(jī)和箱式淋雨試驗箱。滴水試驗和淋雨試驗要求按照該標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：鹽霧

  GB/T12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。試驗?zāi)康氖潜M早對儀器表面和保護(hù)涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評估。GB/T12085.4-2010適宜于：評估光學(xué)及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現(xiàn)材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗對于光學(xué)儀器有重要意義，腐蝕會對儀器產(chǎn)生測量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的鹽霧腐蝕試驗箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗、醋酸鹽霧試驗、交變鹽霧試驗四種試驗。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨

  GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨[詳細(xì)]

  2014-09-02 00:00

  實驗操作

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• GB 12085.7-1989光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨

  設(shè)備名稱型號工作室尺寸箱式淋雨試驗箱LX-500800*800*800LX-0101000x1000x1000主要技術(shù)指標(biāo)1、噴水環(huán)半徑：375或500（mm）2、水管直徑：￠16mm3、噴孔徑：￠0.4mm4、孔徑間距：50mm5、擺管擺幅：90°,180°,270°6、直角轉(zhuǎn)臂：360°旋轉(zhuǎn)7、箱體全不銹鋼，可視鋼化玻璃門8、配有適中的圓形轉(zhuǎn)盤（放樣品用）轉(zhuǎn)速可調(diào)9、進(jìn)口變頻調(diào)速器參考資料：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細(xì)]

  2018-09-22 10:00

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• GB/T 12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱

  GB/T12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件，試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗環(huán)境所需試驗箱采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗箱，通過箱體內(nèi)的相關(guān)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：露、霜、冰

  GB/T12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗是通過迅速改變試驗箱（室）中的環(huán)境條件或?qū)⒃嚇訌睦洳叵渲修D(zhuǎn)移到已經(jīng)調(diào)好溫度的房間中來實現(xiàn)。正常使用情況下不會暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗前必須將儀器保護(hù)好后再暴露。因為試樣樣品需要進(jìn)行轉(zhuǎn)移操作且轉(zhuǎn)移的兩個試驗箱溫度可調(diào)節(jié)，所以采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的高低溫沖擊試驗箱實現(xiàn)試驗條件。兩廂式高低溫沖擊試驗箱是通過吊籃帶動樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動，實現(xiàn)高低溫轉(zhuǎn)換。三廂式高低溫沖擊試驗箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗區(qū)組成，當(dāng)試驗區(qū)與高溫區(qū)結(jié)合時，可以做高溫試驗、試驗區(qū)與低溫區(qū)結(jié)合時，可以做低溫試驗。[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:53

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• GB/T 12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：低溫、低氣壓綜合試驗

  GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗規(guī)定了低溫、低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記，適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤上、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。GB/T12085.5-2010試驗?zāi)康脑嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到低溫、低氣壓所影響的變化程度，包括測定水的冷凝和凍結(jié)對儀器或零部件的附加影響。試驗采用設(shè)備為武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的低溫恒定濕熱試驗箱。對于電工、電子、食品、、建材、航天、儀表、電器、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高溫、低溫、干燥、高濕環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時耐干、耐寒、耐熱、耐濕性能測定有重要意義。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨.pdf

  GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨.pdf[詳細(xì)]

  2015-05-29 00:00

  課件

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• GB 12085.4 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 鹽霧

  GB12085.4-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法鹽霧[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 鹽霧

  GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 鹽霧[詳細(xì)]

  2024-09-20 21:28

  期刊論文

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• 砂塵環(huán)境試驗試驗方法-GJB150.72-86

  砂塵環(huán)境試驗試驗方法-GJB150.72-86下載地址：http://www.lihui17.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法第：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗

  GB/T12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。試樣的各個部分都達(dá)到與試驗箱（室）的溫差在3K之內(nèi)開始試驗。試樣上允許出現(xiàn)凝露，各試驗步驟應(yīng)按照預(yù)定順序依次進(jìn)行，試驗過程不允許中斷。試驗環(huán)境模擬設(shè)備采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗箱。高低溫濕熱試驗箱是一種復(fù)雜型的溫濕度試驗設(shè)備，相較高低溫試驗箱可做濕度試驗，通過可程式系統(tǒng)模擬制造高溫、低溫、高低溫轉(zhuǎn)換、高低溫濕度等環(huán)境。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗

  GB/T12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。因為試驗要求氣壓可以調(diào)節(jié)并且溫度在23℃~40℃之間，普通的真空干燥箱不能達(dá)到試驗的溫度要求，所以試驗真空干燥箱需重新設(shè)計制造。適用于電子、塑膠、通訊、磁性材料、環(huán)氧樹脂、化工涂料、工礦企業(yè)、科研單位、大專院校、運(yùn)動器材、大學(xué)試驗室及高等院校等。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗

  GB/T12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗規(guī)定了規(guī)定了振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電氣等特性受到振動（正弦）與高溫、低溫影響的變化程度。振動（正弦）試驗可采用振動試驗臺實現(xiàn)，高溫、低溫綜合試驗采用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司的高低溫試驗箱。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB1208 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 術(shù)語、試驗范圍

  GB12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法術(shù)語、試驗范圍[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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