本文由 上海科學儀器有限公司 整理匯編

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• GB/T 11606.1-1989分析環(huán)境試驗方法

  GB/T11606.1-1989分析環(huán)境試驗方法規(guī)定了分析儀器環(huán)境試驗方法的總則及方法。適用于所有分析儀器在研究、開發(fā)、設計、制造、銷售過程中，為保證產(chǎn)品質量和制定產(chǎn)品標準時，所需儀器環(huán)境試驗的選擇。試驗項目有：高溫試驗，低溫試驗，恒定濕熱試驗，鹽霧試驗，碰撞試驗，跌落試驗等[詳細]

  2018-11-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 11606-2007 分析儀器環(huán)境試驗方法

  GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗方法規(guī)定了分析儀器環(huán)境試驗方法的總則及方法。適用于所有分析儀器在研究、開發(fā)、設計、制造、銷售過程中，為保證產(chǎn)品質量和制定產(chǎn)品標準時，所需儀器環(huán)境試驗的選擇。試驗項目有：電源電壓與頻率試驗、低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、振動試驗、磁場試驗、氣壓試驗、沙塵試驗、長霉試驗、鹽霧試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、跌落試驗和碰撞試驗共16項。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 212-2008 煤炭工業(yè)分析方法

  GB/T 212-2008 煤炭工業(yè)分析方法[詳細]

  2015-07-31 00:00

  實驗操作

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• GB/T 12085.9-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：太陽輻射

  GB/T12085.9-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第9部分：太陽輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽輻射試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電氣等特性受到太陽輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗箱可模擬太陽光的全光譜，可以滿足太陽輻射的試驗要求，模擬過程主要是通過箱體內(nèi)的短弧氙燈實現(xiàn)。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標準的第2部分，GB/T2423標準的組成部分見資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2：2007(環(huán)境試驗第2-2部分：試驗試驗B：干熱)。本部分與IEC60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：--本部分的名稱改為：（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫）；--"本標準"一詞改為："本部分"；--刪除了IEC60068-2-2：2007前言；--刪除了IEC60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容；[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗B：高溫試驗方法

  GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗B：高溫試驗方法標準狀態(tài)：已作廢代替情況：被GB/T2423.2-2001代替[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.11-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：長霉

  GB/T12085.11-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉規(guī)定了長霉試驗用的試驗菌種，試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究長霉對試樣的光學、熱學、化學、機械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價霉菌代謝產(chǎn)物（比如酶或酸性物質）導致對零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴重程度。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的霉菌試驗箱，[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.6-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：砂塵

  GB/T12085.6-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗不能用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。試驗所需設備采用武漢尚測試驗設備有限公司的砂塵試驗箱模擬試驗環(huán)境。砂塵試驗箱模擬塵埃環(huán)境試驗生產(chǎn)，用于各種汽車零部件做防塵及耐塵試驗，測試部件包含有電氣防塵套、儀表、門鎖、車燈、轉向機構等產(chǎn)品。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：滴水、淋雨

  GB/T12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗條件要求暴露開始時水的溫度應低于試樣的溫度，在暴露試驗過程中，試樣應被安裝在旋轉工作臺易于操作的位置，工作臺繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉速度為1r/min~2r/min，在試驗前，應測量試驗所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的滴水試驗機和箱式淋雨試驗箱。滴水試驗和淋雨試驗要求按照該標準執(zhí)行。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.4-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：鹽霧

  GB/T12085.4-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是盡早對儀器表面和保護涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進行評估。GB/T12085.4-2010適宜于：評估光學及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現(xiàn)材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗對于光學儀器有重要意義，腐蝕會對儀器產(chǎn)生測量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測試驗設備有限公司的鹽霧腐蝕試驗箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗、醋酸鹽霧試驗、交變鹽霧試驗四種試驗。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.4-2008《環(huán)境試驗 交變濕熱》

  GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:第二部分：試驗方法試驗Db交變濕熱(12h＋12h循環(huán))為2008年頒布發(fā)行，等同于IEC60068-2-30：2005。由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化委員會提出并歸口，ZG電器科學研究院等起草。GB/T2423.4-2008適用于確定元件、設備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會在試驗樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運輸和存儲的適應性。對于小的，質量輕的樣品使用本試驗，在樣品表面產(chǎn)生凝露可能比較困難，用戶應考慮使用其他替代試驗，如GB/T2423.34-2005.高低溫交變濕熱試驗箱，即恒溫恒濕試驗箱能在規(guī)定的高溫之間循環(huán)變化，且容差和變化速率符合規(guī)定。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.5-1995 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 沖擊

  GB/T2423.5-1995標準規(guī)定的試驗目的是用來揭露機械弱點和（或）性能下降情況，并且利用這些資料，結合有關規(guī)范，來決定是否可以接收。GB/T2423.5-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗沖擊標準的沖擊不是用來模擬實際所遭受的沖擊，可能的話，加于樣品的試驗嚴酷等級和沖擊脈沖波形應能模擬樣品將要經(jīng)受到的實際運輸和工作環(huán)境的效應。[詳細]

  2018-10-08 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗碰撞

  GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞[詳細]

  2018-10-11 10:00

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• GB 12085.7-1989 環(huán)境試驗方法 淋雨試驗

  GB12085.7-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨試驗.pdf[詳細]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗方法

  GB/T11606-2007分析儀器環(huán)境試驗方法代替GB/T11606.1-11606.17-1989分析儀器環(huán)境試驗方法總則、電源頻率與電壓試驗、低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、振動試驗、磁場試驗、氣壓試驗、沙塵試驗、長霉試驗、鹽霧試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、跌落試驗、碰撞試驗各部分內(nèi)容。藍煜機電設備有限公司先有100L高低溫試驗箱優(yōu)惠促銷，一律出廠價促銷，數(shù)量有限，歡迎廣大用戶來電咨詢采購。聯(lián)系人周生15558226566[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

  GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Ca：恒定濕熱試驗方法標準簡介本標準規(guī)定了恒定濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的在本要求等。本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品、件、材料等在恒定濕熱條件下使用和貯存的適應性。標準狀態(tài)：已作廢[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.2-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱

  GB/T12085.2-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學和光學儀器的環(huán)境試驗，適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件，試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗環(huán)境所需試驗箱采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫濕熱試驗箱，通過箱體內(nèi)的相關系統(tǒng)結構模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.14-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：露、霜、冰

  GB/T12085.14-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗是通過迅速改變試驗箱（室）中的環(huán)境條件或將試樣從冷藏箱中轉移到已經(jīng)調(diào)好溫度的房間中來實現(xiàn)。正常使用情況下不會暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗前必須將儀器保護好后再暴露。因為試樣樣品需要進行轉移操作且轉移的兩個試驗箱溫度可調(diào)節(jié)，所以采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫沖擊試驗箱實現(xiàn)試驗條件。兩廂式高低溫沖擊試驗箱是通過吊籃帶動樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動，實現(xiàn)高低溫轉換。三廂式高低溫沖擊試驗箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗區(qū)組成，當試驗區(qū)與高溫區(qū)結合時，可以做高溫試驗、試驗區(qū)與低溫區(qū)結合時，可以做低溫試驗。[詳細]

  2024-09-28 01:53

  產(chǎn)品樣冊

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• 白酒分析方法GB/T 10345-2007

  白酒分析方法GB/T 10345-2007[詳細]

  2009-09-07 00:00

  安裝說明

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• GB/T 10345-2007 白酒分析方法

  本標準代替GB/T10345.1-10345.8-1989本標準與GB/T10345.1-10345.8-1989相比主要變化如下：將增加了乳酸乙酯、丁酸乙酯、丙酸乙酯、正丙醇、β苯乙醇、3-甲硫基丙醇、二元酸（庚二酸、辛二酸、壬二酸）二乙酯七個分析方法；氣相色譜法中的色譜柱增加了毛細管柱，色譜條件和分析步驟作了相應的修改。[詳細]

  2018-08-26 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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