本文由 武漢尚測試驗設備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 1220閱讀次數(shù)

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• GB/T 12085.2-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱

  GB/T12085.2-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學和光學儀器的環(huán)境試驗，適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件，試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗環(huán)境所需試驗箱采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫濕熱試驗箱，通過箱體內(nèi)的相關系統(tǒng)結構模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 12085.2-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

  GBT 12085.2-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱[詳細]

  2014-09-15 00:00

  報價單

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• GBT 12085.2-2010 光學儀器 低溫高溫濕熱

  GBT12085.2-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱[詳細]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.5-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：低溫、低氣壓綜合試驗

  GB/T12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗規(guī)定了低溫、低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記，適用于在高山地區(qū)或飛機儀表盤上、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。GB/T12085.5-2010試驗目的試樣的光學、熱學、化學和電學特性受到低溫、低氣壓所影響的變化程度，包括測定水的冷凝和凍結對儀器或零部件的附加影響。試驗采用設備為武漢尚測試驗設備有限公司的低溫恒定濕熱試驗箱。對于電工、電子、食品、、建材、航天、儀表、電器、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高溫、低溫、干燥、高濕環(huán)境下貯存、運輸、使用時耐干、耐寒、耐熱、耐濕性能測定有重要意義。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.10-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗

  GB/T12085.10-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗規(guī)定了規(guī)定了振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、機械和電氣等特性受到振動（正弦）與高溫、低溫影響的變化程度。振動（正弦）試驗可采用振動試驗臺實現(xiàn)，高溫、低溫綜合試驗采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫試驗箱。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.9-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：太陽輻射

  GB/T12085.9-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第9部分：太陽輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽輻射試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電氣等特性受到太陽輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗箱可模擬太陽光的全光譜，可以滿足太陽輻射的試驗要求，模擬過程主要是通過箱體內(nèi)的短弧氙燈實現(xiàn)。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB 12085.10-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 綜合振動(正弦)與高溫、低溫

  GB 12085.10-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 綜合振動(正弦)與高溫、低溫[詳細]

  2014-11-11 00:00

  期刊論文

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• GB/T 12085.11-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：長霉

  GB/T12085.11-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉規(guī)定了長霉試驗用的試驗菌種，試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究長霉對試樣的光學、熱學、化學、機械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價霉菌代謝產(chǎn)物（比如酶或酸性物質(zhì)）導致對零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴重程度。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的霉菌試驗箱，[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.6-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：砂塵

  GB/T12085.6-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗不能用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。試驗所需設備采用武漢尚測試驗設備有限公司的砂塵試驗箱模擬試驗環(huán)境。砂塵試驗箱模擬塵埃環(huán)境試驗生產(chǎn)，用于各種汽車零部件做防塵及耐塵試驗，測試部件包含有電氣防塵套、儀表、門鎖、車燈、轉向機構等產(chǎn)品。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：滴水、淋雨

  GB/T12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗條件要求暴露開始時水的溫度應低于試樣的溫度，在暴露試驗過程中，試樣應被安裝在旋轉工作臺易于操作的位置，工作臺繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉速度為1r/min~2r/min，在試驗前，應測量試驗所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的滴水試驗機和箱式淋雨試驗箱。滴水試驗和淋雨試驗要求按照該標準執(zhí)行。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.4-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：鹽霧

  GB/T12085.4-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是盡早對儀器表面和保護涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進行評估。GB/T12085.4-2010適宜于：評估光學及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現(xiàn)材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗對于光學儀器有重要意義，腐蝕會對儀器產(chǎn)生測量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測試驗設備有限公司的鹽霧腐蝕試驗箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗、醋酸鹽霧試驗、交變鹽霧試驗四種試驗。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.16-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗

  GB/T12085.16-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時的變化程度。因為試驗箱溫度Zdi要求-65℃，Z高要求63℃，所以高低溫試驗箱（-70℃~150℃）可以滿足試驗的溫度要求。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.13-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗

  GB/T12085.13-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗規(guī)定了沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。GB/T12085.13-2010的目的是研究式樣的光學、熱學、力學、化學和電學性能受到?jīng)_擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫影響的變化程度。試驗其中一個環(huán)節(jié)高溫、低溫環(huán)境可采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫試驗箱模擬試驗環(huán)境。高低溫試驗箱通過試驗箱內(nèi)的冷凍系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)模擬低溫和高溫環(huán)境，對于光學和光學儀器環(huán)境試驗有重要意義。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.18-2011光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法第：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗

  GB/T12085.18-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試樣的各個部分都達到與試驗箱（室）的溫差在3K之內(nèi)開始試驗。試樣上允許出現(xiàn)凝露，各試驗步驟應按照預定順序依次進行，試驗過程不允許中斷。試驗環(huán)境模擬設備采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫濕熱試驗箱。高低溫濕熱試驗箱是一種復雜型的溫濕度試驗設備，相較高低溫試驗箱可做濕度試驗，通過可程式系統(tǒng)模擬制造高溫、低溫、高低溫轉換、高低溫濕度等環(huán)境。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB 12085.7-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨

  GB 12085.7-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨[詳細]

  2014-09-02 00:00

  實驗操作

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• GB 12085.7-1989光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨

  設備名稱型號工作室尺寸箱式淋雨試驗箱LX-500800*800*800LX-0101000x1000x1000主要技術指標1、噴水環(huán)半徑：375或500（mm）2、水管直徑：￠16mm3、噴孔徑：￠0.4mm4、孔徑間距：50mm5、擺管擺幅：90°,180°,270°6、直角轉臂：360°旋轉7、箱體全不銹鋼，可視鋼化玻璃門8、配有適中的圓形轉盤（放樣品用）轉速可調(diào)9、進口變頻調(diào)速器參考資料：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細]

  2018-09-22 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.14-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：露、霜、冰

  GB/T12085.14-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗是通過迅速改變試驗箱（室）中的環(huán)境條件或?qū)⒃嚇訌睦洳叵渲修D移到已經(jīng)調(diào)好溫度的房間中來實現(xiàn)。正常使用情況下不會暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗前必須將儀器保護好后再暴露。因為試樣樣品需要進行轉移操作且轉移的兩個試驗箱溫度可調(diào)節(jié)，所以采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫沖擊試驗箱實現(xiàn)試驗條件。兩廂式高低溫沖擊試驗箱是通過吊籃帶動樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動，實現(xiàn)高低溫轉換。三廂式高低溫沖擊試驗箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗區(qū)組成，當試驗區(qū)與高溫區(qū)結合時，可以做高溫試驗、試驗區(qū)與低溫區(qū)結合時，可以做低溫試驗。[詳細]

  2024-09-28 01:53

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 12085.21-2011光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗

  GB/T12085.21-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。因為試驗要求氣壓可以調(diào)節(jié)并且溫度在23℃~40℃之間，普通的真空干燥箱不能達到試驗的溫度要求，所以試驗真空干燥箱需重新設計制造。適用于電子、塑膠、通訊、磁性材料、環(huán)氧樹脂、化工涂料、工礦企業(yè)、科研單位、大專院校、運動器材、大學試驗室及高等院校等。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.15-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗

  GB/T12085.15-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗規(guī)定了寬帶隨機振動（數(shù)字控制）綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。GB/T12085.15-2010的目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫影響時的變化程度。GB/T12085.15-2010屬于綜合試驗（隨機振動、高溫、低溫），所以試驗采用武漢尚測試驗設備有限公司的溫濕振三綜合試驗箱。模擬溫度、濕度、振動條件進行試驗。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB 12085.7-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨.pdf

  GB 12085.7-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨.pdf[詳細]

  2015-05-29 00:00

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