本文由 東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-11 10:00 3174閱讀次數(shù)

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• GB2423.8 電工電子產(chǎn)品試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法:自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）

  GB2423.8電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法:自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）試驗(yàn)Ed:自由跌落EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:TestmethodsTestEd:Freefall引言：本試驗(yàn)分為兩種方法。**種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由中東，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設(shè)備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來實(shí)現(xiàn)的。方法一：自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）1目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的Zdi牢固等級(jí)。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。更多自由跌落試驗(yàn)方法請(qǐng)下載此文www.kowintest.com東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)銷售：自由跌落試驗(yàn)機(jī)，零跌落試驗(yàn)機(jī)，自由跌落測(cè)試機(jī)，零跌落試驗(yàn)臺(tái)，單翼跌落試驗(yàn)機(jī)，E字跌落試驗(yàn)機(jī)，雙翼跌落試驗(yàn)機(jī)，大型跌落試驗(yàn)機(jī)等。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則 自由跌落

  GB_T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則自由跌落本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的跌落試驗(yàn)臺(tái)又名跌落試驗(yàn)機(jī)來執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品 第2部分 試驗(yàn)方法

  GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司的高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分_試驗(yàn)方法_試驗(yàn)Cab_恒定濕

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分_試驗(yàn)方法_試驗(yàn)Cab_恒定濕[詳細(xì)]

  2011-07-19 00:00

  安裝說明

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• GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)M：低氣壓

  GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)M：低氣壓本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的低氣壓高低溫試驗(yàn)箱來執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓

  GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧

  GB_T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的智能型全自動(dòng)鹽霧試驗(yàn)箱來執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧

  GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)2008年12月30號(hào)發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L 沙法試驗(yàn)

  GBT2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)L沙法試驗(yàn)免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ZBM：高溫低氣壓綜合試驗(yàn)

  GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ZBM：高溫低氣壓綜合試驗(yàn)免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)代替GB/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧

  中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧【鹽霧試驗(yàn)方法是】本試驗(yàn)適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗(yàn)也適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量及均勻性。a）本試驗(yàn)不適合作為通用的鹽霧腐蝕試驗(yàn);b）本試驗(yàn)也不適用于在含鹽大氣中使用的單個(gè)試樣的評(píng)定。對(duì)于本設(shè)備以及零部件，試驗(yàn)Kb提供了更符合實(shí)際情況的試驗(yàn)條件以及單個(gè)試樣的評(píng)定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個(gè)別試樣采用本試驗(yàn)方法時(shí)，試樣應(yīng)當(dāng)作為整個(gè)組件或者設(shè)備的組成部分連同實(shí)際的保護(hù)性設(shè)備（箱體、蓋子、外套等）一起進(jìn)行試驗(yàn)。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場(chǎng)洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、太陽能光伏組件濕凍試驗(yàn)設(shè)備、溫度老化試驗(yàn)室及各類非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗(yàn)設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細(xì)節(jié)請(qǐng)致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請(qǐng)登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗(yàn)的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對(duì)產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ｂｂ和試驗(yàn)Ｂｄ與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品”。本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗(yàn)Ｂｅ，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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