本文由 武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 18310.17-2003 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序 第2-17部分：試驗(yàn) 低溫

  GB/T18310.17-2003纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第2-17部分：試驗(yàn)低溫用于確定纖維光學(xué)器件承受實(shí)際使用、貯存和運(yùn)輸中可能遇到的持續(xù)低溫環(huán)境條件下的適應(yīng)性。試驗(yàn)采用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫試驗(yàn)箱。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評價試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 4857.9-2008 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第9部分：噴淋試驗(yàn)方法

  GB/T4857.9-2008包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第9部分：噴淋試驗(yàn)方法規(guī)定了對運(yùn)輸包裝件和單元貨物進(jìn)行噴淋試驗(yàn)時所采用試驗(yàn)設(shè)備的主要性能要求、試驗(yàn)程序及試驗(yàn)報告的內(nèi)容。也可用作對包裝件進(jìn)行其他試驗(yàn)之前的預(yù)定處理方法，研究水淋而造成包裝件強(qiáng)度降低的情況。試驗(yàn)原理：將試樣放在試驗(yàn)場地上，在一定溫度下用水按預(yù)定的時間及速率對試驗(yàn)樣品表面進(jìn)行噴淋，噴淋方法分為連續(xù)式（方法A）和間歇式（方法B）。試驗(yàn)采用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司的箱式淋雨試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

  免費(fèi)服務(wù)熱線：400-0000-217E-mail:info@hongzhan.com.hkhttp://www.bjhongzhan.com/GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅(jiān)信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營:溫度試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;低溫試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高低溫交變試驗(yàn)箱;濕熱試驗(yàn)箱;高溫高濕試驗(yàn)箱;恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;溫變試驗(yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境試驗(yàn)室;步入式高溫試驗(yàn)室;步入式高低溫試驗(yàn)室;步入式高低溫恒定濕熱試驗(yàn)室;步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室;高溫試驗(yàn)箱;真空干燥箱;耐候試驗(yàn)箱;紫外耐候試驗(yàn)箱;鹽霧試驗(yàn)箱;鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱；模擬運(yùn)輸振動臺;跌落試驗(yàn)臺;蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)等其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗(yàn)室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購![詳細(xì)]

  2018-08-31 10:11

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• GB/T 2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

  GB/T2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T2423的本部分規(guī)定了適用于在運(yùn)輸、貯存或使用期間可遭受滴水、沖水或浸水的電工電子產(chǎn)品的試驗(yàn)方法，是考核電工電子產(chǎn)品的外殼和遮蓋物等密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和件良好的工作性。本部分所規(guī)定的試驗(yàn)方法不適用于腐蝕試驗(yàn)。本部分不模擬水和試件之間的大溫差作用，例如由于壓力變化的熱沖擊而引起的進(jìn)水增多。本部分包括了以自然條件為基礎(chǔ)的人工淋雨試驗(yàn)，但通常情況下不考慮有強(qiáng)風(fēng)速的自然降雨。本部分對所選擇的試驗(yàn)和嚴(yán)酷等級的應(yīng)用給出了導(dǎo)則。本部分可作為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的引用依據(jù)。GB/T2423.38-2005免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 775.3-2006 絕緣子 試驗(yàn)方法 第3部分機(jī)械試驗(yàn)方法

  GB/T 775.3-2006 絕緣子 試驗(yàn)方法 第3部分機(jī)械試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-27 07:29

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• GB/T 2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

  GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》

  GB/T2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》[詳細(xì)]

  2024-09-30 12:08

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• GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第14部分：通用試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)

  GB/T2951.14-2008電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法第14部分：通用試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)規(guī)定了配電及通信用電纜和光纜，包括船舶及近海用電纜和光纜的聚合物絕緣和護(hù)套材料的試驗(yàn)方法。適用于電線、電纜和光纜的聚氯乙烯和聚乙烯絕緣和護(hù)套材料。試驗(yàn)采用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)?zāi)M。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

  GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 4857.4-2008 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第4部分 采用壓力試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行的抗壓和堆碼試驗(yàn)方法

  資料簡介：GB/T4857.4-2008包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第4部分采用壓力試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行的抗壓和堆碼試驗(yàn)方法本部分規(guī)定了對運(yùn)輸包裝件的耐壓試驗(yàn)以及使用相同試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行堆碼試驗(yàn)的試驗(yàn)原理、所用設(shè)備性能指標(biāo)、試驗(yàn)程序及試驗(yàn)報告的內(nèi)容。本部分適用于評定運(yùn)輸包裝件在受到壓力時的耐壓強(qiáng)度及包裝對內(nèi)裝物的保護(hù)能力。[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A；低溫

  GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A；低溫免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• JIS C5402-11-8-2002 電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測量.第11-8部分：氣候試驗(yàn).試驗(yàn)11h沙塵

  JISC5402-11-8-2002電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測量.第11-8部分：氣候試驗(yàn).試驗(yàn)11h沙塵了解更多信息請點(diǎn)擊：http://www.hongda17.cn北京鴻達(dá)天矩試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)研發(fā)：高低溫試驗(yàn)箱.恒溫恒濕試驗(yàn)箱.溫度沖擊試驗(yàn)箱.電熱鼓風(fēng)干燥箱等試驗(yàn)設(shè)備！[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T 13477.7-2002建筑密封材料試驗(yàn)方法 第7部分：低溫柔性的測定

  GB/T13477.7-2002建筑密封材料試驗(yàn)方法第7部分：低溫柔性的測定適用于測定單組分彈性溶劑型密封材料經(jīng)高溫和低溫循環(huán)處理后的低溫柔性。其他類型的密封材料也可參照采用。試驗(yàn)原理是在規(guī)定條件下，用?？?qū)⒚芊獠牧显嚇诱掣皆诨迳希?jīng)高溫和低溫循環(huán)處理后，在規(guī)定的低溫條件下彎曲試樣。報告密封材料開裂或粘接破壞情況。試驗(yàn)需要高低溫試驗(yàn)箱模擬高溫、低溫環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境。武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫試驗(yàn)箱主要測試塑料、橡膠及其他新型材料或在高溫、低溫或高低溫循環(huán)變化環(huán)境下耐老化性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗(yàn)樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉 GB/T 2423.16-1999

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉GB/T2423.16-1999idtIEC68-2-10:1988[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。GB/T12085.15-2010的目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫影響時的變化程度。GB/T12085.15-2010屬于綜合試驗(yàn)（隨機(jī)振動、高溫、低溫），所以試驗(yàn)采用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱。模擬溫度、濕度、振動條件進(jìn)行試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 230.1-2009金屬材料洛氏硬度試驗(yàn) **部分：試驗(yàn)方法

  GB/T230.1-2009金屬材料洛氏硬度試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法：（A,B,C,D,E,F,G,H,K,N,T標(biāo)尺）[詳細(xì)]

  2018-10-15 10:00

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