本文由 東莞市豪恩檢測(cè)儀器有限公司 整理匯編

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• GB/T 2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》

  GB/T2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》[詳細(xì)]

  2024-09-30 12:08

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

  GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞本標(biāo)準(zhǔn)代替GB2423.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Eb：碰撞試驗(yàn)方法》和GB2424.4-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程碰撞試驗(yàn)導(dǎo)則》免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

  GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊

  GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

  GB/T2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則GB/T2423的本部分規(guī)定了適用于在運(yùn)輸、貯存或使用期間可遭受滴水、沖水或浸水的電工電子產(chǎn)品的試驗(yàn)方法，是考核電工電子產(chǎn)品的外殼和遮蓋物等密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和件良好的工作性。本部分所規(guī)定的試驗(yàn)方法不適用于腐蝕試驗(yàn)。本部分不模擬水和試件之間的大溫差作用，例如由于壓力變化的熱沖擊而引起的進(jìn)水增多。本部分包括了以自然條件為基礎(chǔ)的人工淋雨試驗(yàn)，但通常情況下不考慮有強(qiáng)風(fēng)速的自然降雨。本部分對(duì)所選擇的試驗(yàn)和嚴(yán)酷等級(jí)的應(yīng)用給出了導(dǎo)則。本部分可作為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的引用依據(jù)。GB/T2423.38-2005免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)碰撞

  GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉 GB/T 2423.16-1999

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉GB/T2423.16-1999idtIEC68-2-10:1988[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對(duì)設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測(cè)的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強(qiáng)度。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB_T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則 自由跌落

  GB_T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則自由跌落本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的跌落試驗(yàn)臺(tái)又名跌落試驗(yàn)機(jī)來執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

  GBT2423.38-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則免費(fèi)下載http://www.010bjlh.com[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度

  GB/T2423.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則 地震試驗(yàn)方法

  GBT2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

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• GB-T2423.16-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉

  GB-T2423.16-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）

  GBT2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則振動(dòng)（正弦）[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分；試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh；寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則

  GB/T2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分；試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh；寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則本部分為GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)的第56部分本部分等同采用IEC60068-2-64：1993《環(huán)境試驗(yàn)第2部分；試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh；寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則》（英文版）[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)2008年12月30號(hào)發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法

  GBT2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-10 10:00

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則 地震試驗(yàn)方法

  GBT2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-10-04 00:25

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• GBT 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則長(zhǎng)霉

  GBT2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則長(zhǎng)霉[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

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