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關(guān)于高低溫試驗(yàn)設(shè)備基本資料說(shuō)明

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2012-07-20 00:00 314閱讀次數(shù)

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GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.10-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語(yǔ)和定義14檢驗(yàn)項(xiàng)目15檢驗(yàn)用主要儀器及要求26檢驗(yàn)負(fù)載27檢驗(yàn)條件28檢驗(yàn)方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果710檢驗(yàn)周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗(yàn)第2-13部分:試驗(yàn)試驗(yàn)M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-40部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-41部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):49次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):無(wú)標(biāo)準(zhǔn)類別:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù):16頁(yè)主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)歸口單位:469-8全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]
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