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• GB/T 2423.24-1995 idt IEC 68-2-5:1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射

  GB/T2423.24-1995idtIEC68-2-5:1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射太陽輻射試驗是一項會直接危害試驗人員健康的試驗，為此試驗前必須仔細(xì)閱讀GB/T2424.14-1995[電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則】第9章的內(nèi)容免費下載地址：www.010bjlh.com[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射

  陽光輻射老化試驗箱產(chǎn)品說明本陽光輻射老化試驗箱可用于新材料的選擇，改進(jìn)現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化等試驗。設(shè)備可以很好的模擬在不同環(huán)境條件內(nèi)，材料曝露在陽光下所產(chǎn)生的變化。本陽光輻射老化試驗箱提供相對濕度控制功能，對于許多對濕度敏感的材料而言，這項功能是很重要的，且許多的測試協(xié)議也要求進(jìn)行濕度控制。陽光輻射老化試驗箱適用標(biāo)準(zhǔn)本陽光輻射老化試驗箱嚴(yán)格按GB/T16422.2-99的技術(shù)參數(shù)設(shè)計制造。同時符合ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2421等標(biāo)準(zhǔn)，GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射陽光輻射老化試驗箱具有的功能：全光譜氙燈；多種供選擇的過濾系統(tǒng)；太陽眼輻照度控制；水噴淋功能；相對濕度控制；黑板/或試驗箱空氣溫度控制系統(tǒng)；滿足要求的試驗方法；不規(guī)則形狀固定架；價格合理可更換的氙燈管。氙燈耐氣候試驗箱模擬全陽光光譜的光源設(shè)備采用全光譜的氙弧燈來模擬陽光中的破壞性光波，包括UV，可見光和紅外光。根據(jù)所需的效果，氙燈的光通常要經(jīng)過過濾來產(chǎn)生一個合適的光譜，例如直射的陽光光譜、透過玻璃窗的陽光光譜或UV光譜。每種過濾器會產(chǎn)生不同的光能分布。燈管的使用壽命取決于所使用的輻照度水平，一般燈管壽命為1000小時。燈管的更換方便快捷。長效的過濾器為保持所需的光譜提供保障。當(dāng)你將產(chǎn)品曝露在室外的直接陽光下時，一天當(dāng)中產(chǎn)品經(jīng)歷Zda光強度照射的時間也就是幾小時。即使是這樣，Z嚴(yán)重的曝曬也只發(fā)生在夏季中Z炎熱的幾周內(nèi)。氙燈耐氣候試驗設(shè)備可以加速你的試驗過程，因為通過程序控制，設(shè)備可以將你的產(chǎn)品每天24小時的曝露在相當(dāng)于夏季中午陽光的光照環(huán)境下。所經(jīng)受的曝曬在平均光照強度和光照小時/天數(shù)方面都大大高于室外曝曬。因而，可以加速獲得試驗結(jié)果。氙燈耐氣候試驗箱光強度的控制光輻照度是指照射在平面上光能的比率。設(shè)備必須能控制光的輻照強度，以達(dá)到加速試驗和重現(xiàn)試驗結(jié)果的目的。光輻照度的變化會影響材料質(zhì)量惡化的速度，而光波波長的變化（例如光譜的能量分布）則同時會對材料降解的速度和類型產(chǎn)生影響。設(shè)備的輻照裝有光感應(yīng)探頭，又稱太陽眼，一種高精度的光控系統(tǒng)，它可以對因燈管老化或任何其他變化造成的光能量下降及時做出補償。太陽眼允許在測試過程中選取適當(dāng)?shù)墓廨椪斩?，甚至能選擇等同于夏季中午陽光的光輻照度。太陽眼可以在輻照室內(nèi)連續(xù)監(jiān)測光輻照度，并可通過調(diào)節(jié)燈管的功率，極ng確將輻照度保持在工作設(shè)定值。由于長時間工作，當(dāng)輻照度下降到低于設(shè)定值時，需要更換一只新的燈管，以保證輻照度的正常。氙燈耐氣候試驗箱雨水侵蝕和濕氣的影響由于經(jīng)常遭到來自雨水的沖刷，木材的涂料層，包括油漆和著色劑，會出現(xiàn)相應(yīng)的侵蝕現(xiàn)象。這種雨水沖刷動作可將材料表面有防降解作用的涂料層沖刷掉，從而將材料本身直接暴露在UV和水分的破壞性影響性之下。本設(shè)備的雨水噴淋功能可以再現(xiàn)這種環(huán)境條件，以增強某些涂料氣候老化試驗的相關(guān)性。噴淋循環(huán)完全由程序控制，并可以在有光照循環(huán)或無光照循環(huán)下進(jìn)行。除了模擬濕氣導(dǎo)致的材料降解外，還能有效地模擬溫度劇變和雨水侵蝕過程。噴水循環(huán)系統(tǒng)水質(zhì)采用去離子水（固體含量小于20ppm），具有儲水箱水位顯示，在工作室頂部安裝了兩個噴頭，噴出的水具有可回收性，噴水壓力在0.12～0.15Mpa之間可調(diào)。濕氣也是造成部分材料破壞的主要因素，濕氣的含量越高越會加速對材料的破壞。濕度可以影響室內(nèi)外產(chǎn)品的降解，例如各種紡織品。這是因為當(dāng)材料試圖與周邊環(huán)境之間維持一個濕氣平衡的時候，材料本身承受的物理應(yīng)力增加了。因此，當(dāng)大氣中的濕度范圍越大時，材料所承受的整體應(yīng)力就更大。濕度對材料的耐候性和不褪色性的負(fù)面影響已被廣泛認(rèn)同。本設(shè)備的潮濕功能可以模擬室內(nèi)外濕氣對材料的影響。本設(shè)備加熱系統(tǒng)采用遠(yuǎn)紅外鎳鉻合金高速加溫電加熱器；高溫、濕度、光照完全獨立系統(tǒng)（互不干擾）；溫度控制輸出功率均由微電腦演算，以達(dá)高精度及GX率之用電效益。本設(shè)備加濕系統(tǒng)采用外置式鍋爐蒸汽式加濕器，具有水位自動補償、缺水報警系統(tǒng)，遠(yuǎn)紅外不銹鋼高速加溫電熱管，濕度控制均采用P.I.D＋S.S.R，系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制。氙燈耐氣候試驗箱溫度劇變屋頂、汽車部件以及金屬建筑物或構(gòu)件等的外層涂料會遭遇突然的溫度變化。例如，炎熱的夏天使得材料內(nèi)部的熱量堆積起來，而突然的驟雨又會使熱量迅速消散。這種劇烈的溫度變化沖擊，對許多材料都是一種挑戰(zhàn)和考驗。通過設(shè)備的水噴淋功能可以再現(xiàn)這種環(huán)境條件對材料的影響。來自于燈管發(fā)射的紅外線能重建熱量堆積過程，而冷水噴淋則產(chǎn)生溫度劇變的效果。在雨水噴淋循環(huán)過程中，不控制溫度。陽光輻射老化試驗箱詳細(xì)規(guī)格型號：SN--500單位：MM工作室尺寸：D500*W760*H500樣品托盤尺寸：450*720mm溫度范圍：40℃～80℃可調(diào)濕度范圍：50～90%RH可調(diào)黑板溫度：40～80℃±3℃溫度波動度：±0.5℃溫度均勻度：±2.0℃玻璃窗濾光器：3只氙燈燈源：進(jìn)口風(fēng)冷式燈管氙燈數(shù)量：3支降雨時間：0～9999min，連續(xù)降雨可調(diào)降雨周期：0～240min，間隔（斷）降雨可調(diào)噴水周期（噴水時間/不噴水時間）：18min/102min或12min/48min淋雨水壓：0.12～0.15Mpa噴水嘴孔徑：Ф0.8mm氙燈功率：1.8KW/每根加熱功率：2KW加濕功率：0.75KW樣品架與燈距離：230～280mm波長：290～800nm光照周期連續(xù)可調(diào)，時間：1～999h、m、s輻照度：290nm800nm波長之間的平均輻照度為550W/陽光輻射老化試驗箱電路控制系統(tǒng)本氙燈耐氣候試驗箱有多種的循環(huán)程式、黑板溫度及試驗箱空氣溫度和濕度可供選擇，并用于編程模擬不同的使用環(huán)境。曝露功能，溫度均由有微電腦自動演算，PID自整定功能的，薄膜按鍵式智能溫控儀進(jìn)行控制，操作簡單，快捷。時間可分為總時間、光照時間、噴淋和停噴時間分別設(shè)定，設(shè)定結(jié)束后，設(shè)備就會按所輸入的程序自動運行。光輻照度顯示器會隨時顯示當(dāng)前的光輻照強度。在試驗過程中出現(xiàn)異?；蛟囼灲Y(jié)束后設(shè)備會立刻發(fā)出警報，并自動終止試驗。溫濕度控制儀表采用（韓國）全進(jìn)口高精度數(shù)顯微電腦集成控制器；精度：0.1℃（顯示范圍）；解析度：±0.1℃；感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；控制方式：熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；所有電器均采用（施耐德）系列產(chǎn)品；溫濕度控制采用P.I.D＋S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制；具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為極ng確穩(wěn)定。陽光輻射老化試驗箱制冷、除濕系統(tǒng)控制壓縮機：全封閉法國泰康1.5HP×1；制冷方式：機械式單機制冷；冷凝方式：風(fēng)冷式；全系統(tǒng)管路均作通氣加壓48H撿漏測試；加溫、降溫系統(tǒng)完全獨立；內(nèi)螺旋式冷媒銅管；翅片斜率式蒸發(fā)器（帶自動除霜系統(tǒng)）；干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件；除濕系統(tǒng)：采用蒸發(fā)器盤管露點溫度層流接觸除濕方式。陽光輻射老化試驗箱保護(hù)系統(tǒng)風(fēng)機過熱保護(hù)；整體設(shè)備欠相/逆相保護(hù)；制冷系統(tǒng)過載保護(hù)；制冷系統(tǒng)超壓保護(hù)；超溫保護(hù)；水泵過熱，過流保護(hù)；其它還有漏電；缺水指示；故障報警后自動停機。陽光輻射老化試驗箱隨機資料說明書、保修卡；操作方法、注意事項、出貨基本配件、維修保養(yǎng)事項；售后服務(wù)1、安裝調(diào)試：我公司負(fù)責(zé)免費送貨至客戶指在地點,并派專業(yè)技術(shù)人員免費安裝調(diào)試，培訓(xùn)2～5名操作員到會操作為止。2、售后服務(wù)承諾：公司產(chǎn)品均保修一年，終身維護(hù)。若產(chǎn)品出現(xiàn)問題，在接到報修電話15分鐘響應(yīng)，48小時內(nèi)由我司專業(yè)維修人員上門處理。[詳細(xì)]

  2018-09-22 10:00

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• GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射

  GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射目的是確定地面太陽輻射對設(shè)備和元器件產(chǎn)生的影響（熱、機械、化學(xué)、電氣等）。試驗應(yīng)該采用氙燈老化試驗箱進(jìn)行，因為氙燈老化試驗箱能模擬太陽光全光譜，廣泛用于確定電工、電子產(chǎn)品外殼、皮革等對大氣光照環(huán)境的適應(yīng)性。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• IEC 68-2-5 試驗方法 模擬地面上的太陽輻射

  IEC68-2-5:1975試驗方法模擬地面上的太陽輻射太陽輻射試驗是一項會直接危害試驗人員健康的試驗，為此試驗前必須仔細(xì)閱讀GB/T2424-141995((電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則》第9章的內(nèi)容。1目的確定地面太陽輻射對設(shè)備和元器件產(chǎn)生的影響(熱、機械、化學(xué)、電氣等)。2初始檢測按有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，對試驗樣品進(jìn)行外觀檢查，井進(jìn)行電性能和機械性能的檢測。3試驗設(shè)備11進(jìn)行試驗的試驗箱的光源在規(guī)定的照射測量平面上，輻射強度應(yīng)為1.120kW/m`土1000，此值包括經(jīng)試驗箱反射后被試驗樣品吸收的輻射，但不包括試驗箱發(fā)射的長波紅外線。輻射強度的測量見GB/T2424.14-1995第6.1條的規(guī)定。光譜能量分布及容差見表10注:如果只考慮太陽輻射的熱效應(yīng)，見GB/T2424.14-1995中2.2和2.33.3試驗箱內(nèi)的測溫裝置應(yīng)避免光源的輻射熱，溫度的測量在規(guī)定的照射平面(0~50mm的水平面上進(jìn)行，在試驗樣品與箱壁之問的ZX處或距離試驗樣品lm處(以短者為準(zhǔn))的一點或幾點作為溫度測量點。4條件試驗4.1試驗樣品應(yīng)放置在具有確定導(dǎo)熱率和熱容量的樣品支架或墊托物上，并應(yīng)與其他樣品相隔開以避免遮住輻射源或止次輻射熱，見GB/T2424.14-1995中4.6.4.2在整個試驗期間.箱內(nèi)輻照度、溫度、濕度和其他環(huán)境條件應(yīng)按有關(guān)規(guī)范要求，保持在與試驗程序相對應(yīng)的等級上。獲取標(biāo)準(zhǔn)全部內(nèi)容請點擊，或聯(lián)系科文，我們會熱忱為您服務(wù)。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB-T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輔射

  GB-T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輔射免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.24試驗Sa: 模擬地面上的太陽輻射

  GB/T2423.24-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽：[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標(biāo)準(zhǔn)簡介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.24-1995試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射--上海林頻

  上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地之一的閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)?，F(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備:鹽霧箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,高溫箱,低溫箱,高低溫交變濕熱箱,干燥箱,真空干燥箱,溫度沖擊箱,藥品穩(wěn)定箱,臭氧老化試驗箱,紫外耐候試驗箱,氙燈耐氣候試驗箱,換氣式老化試驗箱,砂塵試驗箱,箱式淋雨試驗箱,擺管淋雨試驗裝置,滴水試驗裝置,二氧化硫試驗箱,霉菌試驗箱,防銹油脂濕熱試驗箱,鹽霧試驗室,大型步入式試驗箱,溫度老化試驗室,溫濕度振動試驗箱,溫度快速變化試驗箱,單翼跌落試驗機,振動試驗設(shè)備.同時我廠還可以根據(jù)客戶需要設(shè)計非標(biāo)產(chǎn)品，歡迎廣大新老客戶前來公司洽談、指導(dǎo)!以上產(chǎn)品我司均嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)制造,符合的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗Ka》，鹽霧試驗方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、（GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）、GB/T4942.2-1993及外殼防護(hù)等級（IP代碼）GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，祥情請瀏覽：http://www.linpin.com.cn[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品 第2部分 試驗方法

  GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼?/a>

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼灤鍳B/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴(yán)酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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