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使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析
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本文由 安捷倫科技（中國）有限公司 整理匯編
2016-06-28 00:00 649閱讀次數(shù)
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使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析
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使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析- 電子和半導體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析，以Z*程度提高工作效率并縮短昂貴的停機時間。隨著技術的不斷發(fā)展，生產(chǎn)出的設備越來越小巧，而其生產(chǎn)工藝也越來越復雜精細。因存在顆粒物和化學污染物引起的高成本停機對正常生產(chǎn)操作的影響越來越大。任何污染物的出現(xiàn)都需要停止生產(chǎn)過程，同時準確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設法補救。Zda限度縮短完成這一過程所需的時間，實際上能夠節(jié)省數(shù)百萬美元之多。
[詳細]
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2016-07-18 00:00
標準
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2016-06-28 00:00
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2024-09-18 18:09
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2024-09-29 04:15
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- 在變色分析中，使用FTIR可快速分析源于有機物的變色，而使用EDX則可快速分析源于無機物的變色。在著色材料分析中，F(xiàn)TIR可對主成分進行有效地測定，EDX則可對顏料進行有效地識別。綜上所述，組合使用FTIR和EDX可進行非破壞性分析，有助于對變色和著色的成分進行快速分析。本文向您介紹組合使用FTIR和EDX，從有機物和無機物兩個方面對變色及著色原因進行分析的示例。[詳細]
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2018-08-26 10:00
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電子半導體行業(yè)0.1微米顆粒檢測方案- 普洛帝測控 電子半導體行業(yè)0.1微米顆粒檢測方案[詳細]
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2024-09-17 03:38
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- 半導體行業(yè)中Z常用的兩種有機溶劑是異丙醇（IPA）和丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）。兩種有機溶劑都必須檢測痕量金屬污染物的含量，因為這些物質(zhì)的存在將會對存儲設備的可靠性產(chǎn)生不利影響。由于具有快速測定各種工藝化學品中超痕量濃度待測元素的能力，電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）已成為了質(zhì)量控制不可缺少的分析工具。本應用報告證明了NexION300ICP-MS去除干擾，從而在使用高溫等離子體的條件下通過一次分析就能夠很容易的對IPA和PGMEA中全部痕量水平的雜質(zhì)元素進行測定的能力。這一實驗在一次測定中同時使用標準模式和反應模式可以得到**的分析結果。[詳細]
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2018-08-17 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- 短波紅外相機在半導體行業(yè)的應用
- 短波紅外相機可以靠紅外線成像。這點是普通相機不能做到的。短波紅外的成像原理與可見光十分相似，不同的是短波紅外的波長可以“繞過”煙、霧、霾中的細小顆粒；相比中波紅外、長波紅外，短波紅外擁有更好的細節(jié)分辨和解析能力，能夠很好的識別出該目標是。這就使得短波紅外在霧霾、煙霧濃重的情況下，仍可對物體清晰成像。
現(xiàn)代潛艇的光電桅桿需要多光譜的成像與檢測。例如，可見光成像通常無法透過霧霾、塵、煙觀察目標，然而短波紅外卻很容易實現(xiàn)。這種情況下，短波紅外相機有著更好的成像效果。
短波紅外與中長波紅外的一項重要差異是，它利用反射光成像，而不是輻射熱成像。中長波相機無法看到海上目標的重要特征，比如說艦船的名字、船的特征等，短波紅外相機可以在此提供輔助
純凈的硅錠在室溫下是透明的，而摻雜型的硅錠在室溫下是不透明的，并且隨著溫度的升高，不透明度也隨之升高；
短波紅外相機的感光范圍是900-1700nm，而1200nm以上的光可以輕易的穿透摻雜型硅錠，這使得利用短波紅外在半導體材料的品質(zhì)檢測、硅錠和晶片成品的缺點或裂紋檢測以及晶元切割過程中的激光對準等方向上大有所為。
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2024-09-12 16:00
應用文章
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2024-09-16 07:42
安裝說明
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2008-04-24 00:00
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2004-08-03 00:00
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- 飛納臺式掃描電鏡在半導體行業(yè)中的應用
- 飛納臺式掃描電鏡在半導體行業(yè)中的應用隨著近幾年半導體產(chǎn)業(yè)井噴式的增長，關鍵技術中掃描電鏡的使用也受到的重視，如今臺式電鏡的操作和維護越來越簡便，對國內(nèi)半導體廠商來說無疑增加了研發(fā)和生產(chǎn)的利器，目前臺式掃描電鏡在半導體行業(yè)中主要是用來做形貌觀測，更重要的是做元素分析等。飛納臺式掃描電鏡擁有方便的操作，較好的維護，而且能結合能譜進行快速的元素分析，可以明顯提高企業(yè)效率，是半導體行業(yè)的**選擇?，F(xiàn)在臺灣的臺積電，臺聯(lián)電紛紛登陸ZG，在武漢設廠，但是成品率，產(chǎn)值，效益都還很有待提高。大陸越來越有作為半導體代工工廠的能力了，如何扎實做好半導體工藝，提高半導體集成電路設計水平，是半導體/微電子行業(yè)未來的工作。半導體行業(yè)的市場現(xiàn)狀在日本，有人把半導體比喻為工業(yè)社會的稻米，是近代社會一日不可或缺的。在國防上，惟有扎實的電子工業(yè)基礎，才有強大的國防能力，1991年的波斯灣戰(zhàn)爭中，美國已經(jīng)把新一代電子武器發(fā)揮得淋漓盡致。自1970年后，美國與日本間發(fā)生多次貿(mào)易摩擦，Z后在許多項目中美國都妥協(xié)了，但是為了半導體，雙方均不肯輕易讓步，Z后兩國政府慎重其事地簽訂了協(xié)議，足證對此事的重視程度，這是因為半導體工業(yè)發(fā)展的成敗，關系著國家的命脈，不可不慎。而在臺灣，半導體工業(yè)是新竹科學園區(qū)的主要支柱，半導體公司也是Z賺錢的企業(yè)，臺灣如果要成為明日的科技硅島，半導體工業(yè)是必經(jīng)的途徑。經(jīng)過幾十年的調(diào)整，在國內(nèi)半導體行業(yè)景氣度也持續(xù)好轉(zhuǎn)。2016年，超過六成上市公司業(yè)績預增。其中，全志科技2015年年報顯示，實現(xiàn)營業(yè)利潤10883.00萬元，比上年同期增長11.02%；歸屬于母公司凈利潤12,797.54萬元，比上年同期增長15.99%。此外，中穎電子發(fā)布的一季報業(yè)績預告顯示，預計2016年13月份歸屬于上市公司股東的凈利潤為1300萬至1500萬元，同比增長84.14%至112.46%。其中，半導體及元件行業(yè)平均凈利潤增長率為14.38%。公司表示，報告期內(nèi)，因客戶需求同比增加，銷售同比呈現(xiàn)增長，且因去年同期的盈利基期相對較低，盈利同比則大幅增長。飛納臺式掃描電鏡在半導體存儲芯片中的應用1、光學導航下的半導體樣品，可以清楚的定位到某一個區(qū)域，飛納電鏡du家的光學導航，具有內(nèi)置彩色光學顯微鏡，不僅能實現(xiàn)快速定位到樣品感興趣位置，還能對樣品在光學下進行拍照，與電鏡下圖片進行對比：[詳細]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- FTIR 使用ATR真空全反射附件測量液體的兆赫...
- FTIR 使用ATR真空全反射附件測量液體的兆赫...[詳細]
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2024-09-20 13:34
標準
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- 無需樣品制備、用于高分子復合材料的全新微型 ATR FTIR 化學成像方法
- 聚合物尤其是高分子復合材料的微型 ATR 化學成像通常需要施加相當大的壓力以確保 ATR 晶體和樣品之間的良好接觸。為了確保此類薄樣品能夠承受壓力而不發(fā)生彎曲變形，通常需要詳細制定樣品制備過程以對截面材料提供支撐：將樣品包埋到樹脂內(nèi)，切割樹脂以及拋光接觸表面。[詳細]
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2016-07-01 00:00
操作手冊
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- 電子半導體材料檢測：飛納臺式掃描電鏡在電子半導體的應用方案
- 要應對如此多樣的材料及復雜的工藝，需要耗費大量的精力和時間。飛納電鏡可滿足您多樣化的材料檢測要求及復雜的制程工藝管控，為您提供簡單·時效·精確的半導體檢測方案[詳細]
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2025-02-25 11:03
應用文章
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- NexION300S ICP-MS測定半導體行業(yè)中使用有機溶劑的雜質(zhì)
- NexION300S ICP-MS測定半導體行業(yè)中使用有機溶劑的雜質(zhì)[詳細]
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2024-10-05 12:26
實驗操作
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- XOS-TAs 在電子半導體排放廢水監(jiān)測中的應用
- 背景介紹：電子半導體行業(yè)近幾年發(fā)展特別快，隨之而來的是生產(chǎn)過程中產(chǎn)生了大量的有毒有害廢水，包括酸堿廢水、含氟廢水、金屬廢水、有機廢水、氰化物廢水等，這些廢水必須經(jīng)過處理達標后才能排放。目前，電子半導體行業(yè)沒有針對性的污染物排放標準發(fā)布，其執(zhí)行的標準仍為《污染物綜合排放標準》，但是，電子半導體企業(yè)對廢水排放有嚴格的內(nèi)控指標。電子半導體企業(yè)除了監(jiān)控COD、氨氮等常規(guī)指標外，也非常重視砷、鉛等一類重金屬污染物的排放量。廈門某電子公司于2015年采購了一臺XOS總砷分析儀，用于排口廢水總砷監(jiān)測，測試數(shù)據(jù)通過MODBUS通訊(儀表自帶RS485接口)傳輸至PLC，實時上傳至當?shù)丨h(huán)保局。儀表從企業(yè)正常生產(chǎn)后開始運行，連續(xù)運行兩個多月無需維護，測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定，用戶反饋較好。更多關于該案例的詳情，以及XOS總砷分析儀的，請您下載后查看。[詳細]
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2018-08-26 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- XOS-TAs在電子半導體排放廢水監(jiān)測中的應用
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2024-09-26 03:34
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