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使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析
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本文由 安捷倫科技（中國(guó)）有限公司 整理匯編
2016-07-18 00:00 674閱讀次數(shù)
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電子和半導(dǎo)體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析，以Z*程度提高工作效率并縮短昂貴的停機(jī)時(shí)間。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，生產(chǎn)出的設(shè)備越來(lái)越小巧，而其生產(chǎn)工藝也越來(lái)越復(fù)雜精細(xì)。因存在顆粒物和化學(xué)污染物引起的高成本停機(jī)對(duì)正常生產(chǎn)操作的影響越來(lái)越大。任何污染物的出現(xiàn)都需要停止生產(chǎn)過(guò)程，同時(shí)準(zhǔn)確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設(shè)法補(bǔ)救。Zda限度縮短完成這一過(guò)程所需的時(shí)間，實(shí)際上能夠節(jié)省數(shù)百萬(wàn)美元之多。
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使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析- 電子和半導(dǎo)體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析，以Z*程度提高工作效率并縮短昂貴的停機(jī)時(shí)間。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，生產(chǎn)出的設(shè)備越來(lái)越小巧，而其生產(chǎn)工藝也越來(lái)越復(fù)雜精細(xì)。因存在顆粒物和化學(xué)污染物引起的高成本停機(jī)對(duì)正常生產(chǎn)操作的影響越來(lái)越大。任何污染物的出現(xiàn)都需要停止生產(chǎn)過(guò)程，同時(shí)準(zhǔn)確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設(shè)法補(bǔ)救。Zda限度縮短完成這一過(guò)程所需的時(shí)間，實(shí)際上能夠節(jié)省數(shù)百萬(wàn)美元之多。
[詳細(xì)]
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2016-07-18 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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- 使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析
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2016-06-28 00:00
其它
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2024-09-18 18:09
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- TOC在電子，半導(dǎo)體和電子行業(yè)的應(yīng)用
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2024-09-18 18:06
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 微型 ATR FTIR 化學(xué)成像用于聚合物的故障排除和質(zhì)量控制
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2024-09-18 18:06
課件
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- FTIR在材料和半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和發(fā)展[詳細(xì)]
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2024-09-29 04:15
標(biāo)準(zhǔn)
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- 使用FTIR和EDX對(duì)變色和著色成分進(jìn)行分析
- 在變色分析中，使用FTIR可快速分析源于有機(jī)物的變色，而使用EDX則可快速分析源于無(wú)機(jī)物的變色。在著色材料分析中，F(xiàn)TIR可對(duì)主成分進(jìn)行有效地測(cè)定，EDX則可對(duì)顏料進(jìn)行有效地識(shí)別。綜上所述，組合使用FTIR和EDX可進(jìn)行非破壞性分析，有助于對(duì)變色和著色的成分進(jìn)行快速分析。本文向您介紹組合使用FTIR和EDX，從有機(jī)物和無(wú)機(jī)物兩個(gè)方面對(duì)變色及著色原因進(jìn)行分析的示例。[詳細(xì)]
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2018-08-26 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電子半導(dǎo)體行業(yè)0.1微米顆粒檢測(cè)方案- 普洛帝測(cè)控 電子半導(dǎo)體行業(yè)0.1微米顆粒檢測(cè)方案[詳細(xì)]
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2024-09-17 03:38
應(yīng)用文章
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- NexION300S測(cè)定半導(dǎo)體行業(yè)中使用有機(jī)溶劑的雜質(zhì)
- 半導(dǎo)體行業(yè)中Z常用的兩種有機(jī)溶劑是異丙醇（IPA）和丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）。兩種有機(jī)溶劑都必須檢測(cè)痕量金屬污染物的含量，因?yàn)檫@些物質(zhì)的存在將會(huì)對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利影響。由于具有快速測(cè)定各種工藝化學(xué)品中超痕量濃度待測(cè)元素的能力，電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）已成為了質(zhì)量控制不可缺少的分析工具。本應(yīng)用報(bào)告證明了NexION300ICP-MS去除干擾，從而在使用高溫等離子體的條件下通過(guò)一次分析就能夠很容易的對(duì)IPA和PGMEA中全部痕量水平的雜質(zhì)元素進(jìn)行測(cè)定的能力。這一實(shí)驗(yàn)在一次測(cè)定中同時(shí)使用標(biāo)準(zhǔn)模式和反應(yīng)模式可以得到**的分析結(jié)果。[詳細(xì)]
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2018-08-17 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 短波紅外相機(jī)在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用
- 短波紅外相機(jī)可以靠紅外線成像。這點(diǎn)是普通相機(jī)不能做到的。短波紅外的成像原理與可見(jiàn)光十分相似，不同的是短波紅外的波長(zhǎng)可以“繞過(guò)”煙、霧、霾中的細(xì)小顆粒；相比中波紅外、長(zhǎng)波紅外，短波紅外擁有更好的細(xì)節(jié)分辨和解析能力，能夠很好的識(shí)別出該目標(biāo)是。這就使得短波紅外在霧霾、煙霧濃重的情況下，仍可對(duì)物體清晰成像。
現(xiàn)代潛艇的光電桅桿需要多光譜的成像與檢測(cè)。例如，可見(jiàn)光成像通常無(wú)法透過(guò)霧霾、塵、煙觀察目標(biāo)，然而短波紅外卻很容易實(shí)現(xiàn)。這種情況下，短波紅外相機(jī)有著更好的成像效果。
短波紅外與中長(zhǎng)波紅外的一項(xiàng)重要差異是，它利用反射光成像，而不是輻射熱成像。中長(zhǎng)波相機(jī)無(wú)法看到海上目標(biāo)的重要特征，比如說(shuō)艦船的名字、船的特征等，短波紅外相機(jī)可以在此提供輔助
純凈的硅錠在室溫下是透明的，而摻雜型的硅錠在室溫下是不透明的，并且隨著溫度的升高，不透明度也隨之升高；
短波紅外相機(jī)的感光范圍是900-1700nm，而1200nm以上的光可以輕易的穿透摻雜型硅錠，這使得利用短波紅外在半導(dǎo)體材料的品質(zhì)檢測(cè)、硅錠和晶片成品的缺點(diǎn)或裂紋檢測(cè)以及晶元切割過(guò)程中的激光對(duì)準(zhǔn)等方向上大有所為。
[詳細(xì)]
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2024-09-12 16:00
應(yīng)用文章
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- 特氟龍?jiān)诎雽?dǎo)體行業(yè)的主要應(yīng)用
- 特氟龍?jiān)诎雽?dǎo)體行業(yè)的主要應(yīng)用[詳細(xì)]
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2024-09-16 07:42
安裝說(shuō)明
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- FTIR talk‘問(wèn)答集’- 在日本藥典中規(guī)定怎樣使用FTIR？
- FTIR talk‘問(wèn)答集’- 在日本藥典中規(guī)定怎樣使用FTIR？[詳細(xì)]
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2008-04-24 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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- 半導(dǎo)體行業(yè)中的超純水質(zhì)控
- 半導(dǎo)體行業(yè)中的超純水質(zhì)控[詳細(xì)]
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2004-08-03 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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- 飛納臺(tái)式掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用
- 飛納臺(tái)式掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用隨著近幾年半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)井噴式的增長(zhǎng)，關(guān)鍵技術(shù)中掃描電鏡的使用也受到的重視，如今臺(tái)式電鏡的操作和維護(hù)越來(lái)越簡(jiǎn)便，對(duì)國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體廠商來(lái)說(shuō)無(wú)疑增加了研發(fā)和生產(chǎn)的利器，目前臺(tái)式掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)中主要是用來(lái)做形貌觀測(cè)，更重要的是做元素分析等。飛納臺(tái)式掃描電鏡擁有方便的操作，較好的維護(hù)，而且能結(jié)合能譜進(jìn)行快速的元素分析，可以明顯提高企業(yè)效率，是半導(dǎo)體行業(yè)的**選擇?，F(xiàn)在臺(tái)灣的臺(tái)積電，臺(tái)聯(lián)電紛紛登陸ZG，在武漢設(shè)廠，但是成品率，產(chǎn)值，效益都還很有待提高。大陸越來(lái)越有作為半導(dǎo)體代工工廠的能力了，如何扎實(shí)做好半導(dǎo)體工藝，提高半導(dǎo)體集成電路設(shè)計(jì)水平，是半導(dǎo)體/微電子行業(yè)未來(lái)的工作。半導(dǎo)體行業(yè)的市場(chǎng)現(xiàn)狀在日本，有人把半導(dǎo)體比喻為工業(yè)社會(huì)的稻米，是近代社會(huì)一日不可或缺的。在國(guó)防上，惟有扎實(shí)的電子工業(yè)基礎(chǔ)，才有強(qiáng)大的國(guó)防能力，1991年的波斯灣戰(zhàn)爭(zhēng)中，美國(guó)已經(jīng)把新一代電子武器發(fā)揮得淋漓盡致。自1970年后，美國(guó)與日本間發(fā)生多次貿(mào)易摩擦，Z后在許多項(xiàng)目中美國(guó)都妥協(xié)了，但是為了半導(dǎo)體，雙方均不肯輕易讓步，Z后兩國(guó)政府慎重其事地簽訂了協(xié)議，足證對(duì)此事的重視程度，這是因?yàn)榘雽?dǎo)體工業(yè)發(fā)展的成敗，關(guān)系著國(guó)家的命脈，不可不慎。而在臺(tái)灣，半導(dǎo)體工業(yè)是新竹科學(xué)園區(qū)的主要支柱，半導(dǎo)體公司也是Z賺錢(qián)的企業(yè)，臺(tái)灣如果要成為明日的科技硅島，半導(dǎo)體工業(yè)是必經(jīng)的途徑。經(jīng)過(guò)幾十年的調(diào)整，在國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)景氣度也持續(xù)好轉(zhuǎn)。2016年，超過(guò)六成上市公司業(yè)績(jī)預(yù)增。其中，全志科技2015年年報(bào)顯示，實(shí)現(xiàn)營(yíng)業(yè)利潤(rùn)10883.00萬(wàn)元，比上年同期增長(zhǎng)11.02%；歸屬于母公司凈利潤(rùn)12,797.54萬(wàn)元，比上年同期增長(zhǎng)15.99%。此外，中穎電子發(fā)布的一季報(bào)業(yè)績(jī)預(yù)告顯示，預(yù)計(jì)2016年13月份歸屬于上市公司股東的凈利潤(rùn)為1300萬(wàn)至1500萬(wàn)元，同比增長(zhǎng)84.14%至112.46%。其中，半導(dǎo)體及元件行業(yè)平均凈利潤(rùn)增長(zhǎng)率為14.38%。公司表示，報(bào)告期內(nèi)，因客戶需求同比增加，銷(xiāo)售同比呈現(xiàn)增長(zhǎng)，且因去年同期的盈利基期相對(duì)較低，盈利同比則大幅增長(zhǎng)。飛納臺(tái)式掃描電鏡在半導(dǎo)體存儲(chǔ)芯片中的應(yīng)用1、光學(xué)導(dǎo)航下的半導(dǎo)體樣品，可以清楚的定位到某一個(gè)區(qū)域，飛納電鏡du家的光學(xué)導(dǎo)航，具有內(nèi)置彩色光學(xué)顯微鏡，不僅能實(shí)現(xiàn)快速定位到樣品感興趣位置，還能對(duì)樣品在光學(xué)下進(jìn)行拍照，與電鏡下圖片進(jìn)行對(duì)比：[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- FTIR 使用ATR真空全反射附件測(cè)量液體的兆赫...
- FTIR 使用ATR真空全反射附件測(cè)量液體的兆赫...[詳細(xì)]
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2024-09-20 13:34
標(biāo)準(zhǔn)
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- 無(wú)需樣品制備、用于高分子復(fù)合材料的全新微型 ATR FTIR 化學(xué)成像方法
- 聚合物尤其是高分子復(fù)合材料的微型 ATR 化學(xué)成像通常需要施加相當(dāng)大的壓力以確保 ATR 晶體和樣品之間的良好接觸。為了確保此類(lèi)薄樣品能夠承受壓力而不發(fā)生彎曲變形，通常需要詳細(xì)制定樣品制備過(guò)程以對(duì)截面材料提供支撐：將樣品包埋到樹(shù)脂內(nèi)，切割樹(shù)脂以及拋光接觸表面。[詳細(xì)]
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2016-07-01 00:00
操作手冊(cè)
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- 電子半導(dǎo)體材料檢測(cè)：飛納臺(tái)式掃描電鏡在電子半導(dǎo)體的應(yīng)用方案
- 要應(yīng)對(duì)如此多樣的材料及復(fù)雜的工藝，需要耗費(fèi)大量的精力和時(shí)間。飛納電鏡可滿足您多樣化的材料檢測(cè)要求及復(fù)雜的制程工藝管控，為您提供簡(jiǎn)單·時(shí)效·精確的半導(dǎo)體檢測(cè)方案[詳細(xì)]
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2025-02-25 11:03
應(yīng)用文章
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- NexION300S ICP-MS測(cè)定半導(dǎo)體行業(yè)中使用有機(jī)溶劑的雜質(zhì)
- NexION300S ICP-MS測(cè)定半導(dǎo)體行業(yè)中使用有機(jī)溶劑的雜質(zhì)[詳細(xì)]
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2024-10-05 12:26
實(shí)驗(yàn)操作
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- XOS-TAs 在電子半導(dǎo)體排放廢水監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用
- 背景介紹：電子半導(dǎo)體行業(yè)近幾年發(fā)展特別快，隨之而來(lái)的是生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生了大量的有毒有害廢水，包括酸堿廢水、含氟廢水、金屬?gòu)U水、有機(jī)廢水、氰化物廢水等，這些廢水必須經(jīng)過(guò)處理達(dá)標(biāo)后才能排放。目前，電子半導(dǎo)體行業(yè)沒(méi)有針對(duì)性的污染物排放標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布，其執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)仍為《污染物綜合排放標(biāo)準(zhǔn)》，但是，電子半導(dǎo)體企業(yè)對(duì)廢水排放有嚴(yán)格的內(nèi)控指標(biāo)。電子半導(dǎo)體企業(yè)除了監(jiān)控COD、氨氮等常規(guī)指標(biāo)外，也非常重視砷、鉛等一類(lèi)重金屬污染物的排放量。廈門(mén)某電子公司于2015年采購(gòu)了一臺(tái)XOS總砷分析儀，用于排口廢水總砷監(jiān)測(cè)，測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)MODBUS通訊(儀表自帶RS485接口)傳輸至PLC，實(shí)時(shí)上傳至當(dāng)?shù)丨h(huán)保局。儀表從企業(yè)正常生產(chǎn)后開(kāi)始運(yùn)行，連續(xù)運(yùn)行兩個(gè)多月無(wú)需維護(hù)，測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定，用戶反饋較好。更多關(guān)于該案例的詳情，以及XOS總砷分析儀的，請(qǐng)您下載后查看。[詳細(xì)]
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2018-08-26 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- XOS-TAs在電子半導(dǎo)體排放廢水監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用
- XOS-TAs在電子半導(dǎo)體排放廢水監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用[詳細(xì)]
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2024-09-26 03:34
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