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GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨.pdf

本文由北京鴻達天矩試驗設備有限公司整理匯編

2015-05-29 00:00 301閱讀次數

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GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨.pdf

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GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨.pdf

GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨.pdf[詳細]
2015-05-29 00:00
課件
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GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨

GB 12085.7-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨[詳細]
2014-09-02 00:00
實驗操作
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GB 12085.7-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨

設備名稱型號工作室尺寸箱式淋雨試驗箱LX-500800*800*800LX-0101000x1000x1000主要技術指標1、噴水環(huán)半徑：375或500（mm）2、水管直徑：￠16mm3、噴孔徑：￠0.4mm4、孔徑間距：50mm5、擺管擺幅：90°,180°,270°6、直角轉臂：360°旋轉7、箱體全不銹鋼，可視鋼化玻璃門8、配有適中的圓形轉盤（放樣品用）轉速可調9、進口變頻調速器參考資料：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細]
2018-09-22 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：滴水、淋雨

GB/T12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗條件要求暴露開始時水的溫度應低于試樣的溫度，在暴露試驗過程中，試樣應被安裝在旋轉工作臺易于操作的位置，工作臺繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉速度為1r/min~2r/min，在試驗前，應測量試驗所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的滴水試驗機和箱式淋雨試驗箱。滴水試驗和淋雨試驗要求按照該標準執(zhí)行。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GBT 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨

GBT12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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GBT 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水淋雨

GBT12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水淋雨[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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GBT12085.7 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨

GBT12085.7-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨[詳細]
2018-10-10 10:00
產品樣冊
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GB 12085.4 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法鹽霧

GB12085.4-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法鹽霧[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.9-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：太陽輻射

GB/T12085.9-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第9部分：太陽輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽輻射試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電氣等特性受到太陽輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗箱可模擬太陽光的全光譜，可以滿足太陽輻射的試驗要求，模擬過程主要是通過箱體內的短弧氙燈實現。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB 12085.4-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法鹽霧

GB 12085.4-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法鹽霧[詳細]
2024-09-20 21:28
期刊論文
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GB 12085.7-1989 環(huán)境試驗方法淋雨試驗

GB12085.7-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法淋雨試驗.pdf[詳細]
2018-08-19 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.11-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：長霉

GB/T12085.11-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第11部分：長霉規(guī)定了長霉試驗用的試驗菌種，試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。目的是研究長霉對試樣的光學、熱學、化學、機械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價霉菌代謝產物（比如酶或酸性物質）導致對零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴重程度。試驗所需設備為武漢尚測試驗設備有限公司的霉菌試驗箱，[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.6-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：砂塵

GB/T12085.6-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗不能用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。試驗所需設備采用武漢尚測試驗設備有限公司的砂塵試驗箱模擬試驗環(huán)境。砂塵試驗箱模擬塵埃環(huán)境試驗生產，用于各種汽車零部件做防塵及耐塵試驗，測試部件包含有電氣防塵套、儀表、門鎖、車燈、轉向機構等產品。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.4-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：鹽霧

GB/T12085.4-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是盡早對儀器表面和保護涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進行評估。GB/T12085.4-2010適宜于：評估光學及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗對于光學儀器有重要意義，腐蝕會對儀器產生測量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測試驗設備有限公司的鹽霧腐蝕試驗箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗、醋酸鹽霧試驗、交變鹽霧試驗四種試驗。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.2-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：低溫、高溫、濕熱

GB/T12085.2-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學和光學儀器的環(huán)境試驗，適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件，試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗環(huán)境所需試驗箱采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫濕熱試驗箱，通過箱體內的相關系統結構模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.14-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：露、霜、冰

GB/T12085.14-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗是通過迅速改變試驗箱（室）中的環(huán)境條件或將試樣從冷藏箱中轉移到已經調好溫度的房間中來實現。正常使用情況下不會暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗前必須將儀器保護好后再暴露。因為試樣樣品需要進行轉移操作且轉移的兩個試驗箱溫度可調節(jié)，所以采用武漢尚測試驗設備有限公司的高低溫沖擊試驗箱實現試驗條件。兩廂式高低溫沖擊試驗箱是通過吊籃帶動樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動，實現高低溫轉換。三廂式高低溫沖擊試驗箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗區(qū)組成，當試驗區(qū)與高溫區(qū)結合時，可以做高溫試驗、試驗區(qū)與低溫區(qū)結合時，可以做低溫試驗。[詳細]
2024-09-28 01:53
產品樣冊
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GB12085.6-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵

GB12085.6-1989 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法砂塵[詳細]
2014-11-25 00:00
應用文章
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光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨

光學儀器環(huán)境試驗方法第7部分：滴水、淋雨[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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GB/T 12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法：低溫、低氣壓綜合試驗

GB/T12085.5-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗規(guī)定了低溫、低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記，適用于在高山地區(qū)或飛機儀表盤上、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。GB/T12085.5-2010試驗目的試樣的光學、熱學、化學和電學特性受到低溫、低氣壓所影響的變化程度，包括測定水的冷凝和凍結對儀器或零部件的附加影響。試驗采用設備為武漢尚測試驗設備有限公司的低溫恒定濕熱試驗箱。對于電工、電子、食品、、建材、航天、儀表、電器、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高溫、低溫、干燥、高濕環(huán)境下貯存、運輸、使用時耐干、耐寒、耐熱、耐濕性能測定有重要意義。[詳細]
2018-10-08 10:00
產品樣冊
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GB1208 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術語、試驗范圍

GB12085.1-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術語、試驗范圍[詳細]
2018-09-14 10:00
產品樣冊
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該會員其他資料: 高低溫試驗箱制冷工作原理; GB/T 16422.3-1997塑料紫外光老化試驗方法; 光老化試驗常見光源介紹; 油漆人工光照老化國家標準; 高溫試驗箱試驗方法; 氙燈耐氣候試驗箱運用優(yōu)點; GB/T 2423.3-93 恒定濕熱試驗方法; 如何了解氙燈耐氣候試驗箱的特性？; 真空干燥試驗箱常見問題分析; GJB 150.3-96 設備環(huán)境試驗方法-高溫試驗

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