本文由 北京鴻達(dá)天矩試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2014-11-11 00:00 406閱讀次數(shù)

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• GB 12085.10-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫

  GB 12085.10-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫[詳細(xì)]

  2014-11-11 00:00

  期刊論文

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• GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了規(guī)定了振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電氣等特性受到振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫影響的變化程度。振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)可采用振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)實(shí)現(xiàn)，高溫、低溫綜合試驗(yàn)采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫試驗(yàn)箱。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第19部分：溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)規(guī)定了溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。因?yàn)樵囼?yàn)有溫度要求且需要正弦和隨機(jī)振動(dòng)，普通的電磁振動(dòng)臺(tái)無(wú)法滿足溫度要求，所以采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)環(huán)境?？梢阅M自然界溫度、濕度，且可以模擬正弦與隨機(jī)振動(dòng)波形，應(yīng)用極為廣泛。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低溫、高溫、濕熱

  GB/T12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件，試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗(yàn)環(huán)境所需試驗(yàn)箱采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗(yàn)箱，通過(guò)箱體內(nèi)的相關(guān)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。因?yàn)樵囼?yàn)箱溫度Zdi要求-65℃，Z高要求63℃，所以高低溫試驗(yàn)箱（-70℃~150℃）可以滿足試驗(yàn)的溫度要求。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.13-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.13-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。GB/T12085.13-2010的目的是研究式樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)性能受到?jīng)_擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫影響的變化程度。試驗(yàn)其中一個(gè)環(huán)節(jié)高溫、低溫環(huán)境可采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)環(huán)境。高低溫試驗(yàn)箱通過(guò)試驗(yàn)箱內(nèi)的冷凍系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)模擬低溫和高溫環(huán)境，對(duì)于光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)有重要意義。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)規(guī)定了低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤上、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。GB/T12085.5-2010試驗(yàn)?zāi)康脑嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到低溫、低氣壓所影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。試驗(yàn)采用設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱。對(duì)于電工、電子、食品、、建材、航天、儀表、電器、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高溫、低溫、干燥、高濕環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)耐干、耐寒、耐熱、耐濕性能測(cè)定有重要意義。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。因?yàn)樵囼?yàn)要求氣壓可以調(diào)節(jié)并且溫度在23℃~40℃之間，普通的真空干燥箱不能達(dá)到試驗(yàn)的溫度要求，所以試驗(yàn)真空干燥箱需重新設(shè)計(jì)制造。適用于電子、塑膠、通訊、磁性材料、環(huán)氧樹脂、化工涂料、工礦企業(yè)、科研單位、大專院校、運(yùn)動(dòng)器材、大學(xué)試驗(yàn)室及高等院校等。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

  GB/T12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。GB/T12085.15-2010的目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。GB/T12085.15-2010屬于綜合試驗(yàn)（隨機(jī)振動(dòng)、高溫、低溫），所以試驗(yàn)采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱。模擬溫度、濕度、振動(dòng)條件進(jìn)行試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.102-2008溫度（低溫、高溫）低氣壓 振動(dòng)（正弦）綜合

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合為組合環(huán)境試驗(yàn)，試驗(yàn)要求更高，影響因素在多個(gè)方面。適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合作用下的貯存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性，有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分標(biāo)準(zhǔn)。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照試驗(yàn)程序依次進(jìn)行試驗(yàn)室溫度下的振動(dòng)試驗(yàn)、溫度試驗(yàn)和溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)，Z后再疊加以振動(dòng)（正弦）使試驗(yàn)樣品經(jīng)受溫度（低溫、高溫）、低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)。當(dāng)試驗(yàn)樣品已通過(guò)單一的振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)、溫度試驗(yàn)及低氣壓綜合試驗(yàn)時(shí)，可直接進(jìn)行溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱。該設(shè)備為高低溫濕交變熱試驗(yàn)箱的改進(jìn)型產(chǎn)品，增加了振動(dòng)試驗(yàn)，試驗(yàn)更全面。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨

  GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨[詳細(xì)]

  2014-09-02 00:00

  實(shí)驗(yàn)操作

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• GB 12085.7-1989光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨

  設(shè)備名稱型號(hào)工作室尺寸箱式淋雨試驗(yàn)箱LX-500800*800*800LX-0101000x1000x1000主要技術(shù)指標(biāo)1、噴水環(huán)半徑：375或500（mm）2、水管直徑：￠16mm3、噴孔徑：￠0.4mm4、孔徑間距：50mm5、擺管擺幅：90°,180°,270°6、直角轉(zhuǎn)臂：360°旋轉(zhuǎn)7、箱體全不銹鋼，可視鋼化玻璃門8、配有適中的圓形轉(zhuǎn)盤（放樣品用）轉(zhuǎn)速可調(diào)9、進(jìn)口變頻調(diào)速器參考資料：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細(xì)]

  2018-09-22 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 12085.2-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

  GBT 12085.2-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱[詳細(xì)]

  2014-09-15 00:00

  報(bào)價(jià)單

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• GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨.pdf

  GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨.pdf[詳細(xì)]

  2015-05-29 00:00

  課件

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• GB 12085.4 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧

  GB12085.4-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法鹽霧[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：太陽(yáng)輻射

  GB/T12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：太陽(yáng)輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電氣等特性受到太陽(yáng)輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗(yàn)箱可模擬太陽(yáng)光的全光譜，可以滿足太陽(yáng)輻射的試驗(yàn)要求，模擬過(guò)程主要是通過(guò)箱體內(nèi)的短弧氙燈實(shí)現(xiàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧

  GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧[詳細(xì)]

  2024-09-20 21:28

  期刊論文

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• GB-T2423.102 高溫），低氣壓，振動(dòng)（正弦）綜合

  GB-T2423.102高溫），低氣壓，振動(dòng)（正弦）綜合免費(fèi)下載地址：www.bjlihui17.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng) （正弦） 綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.22-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-53（1984），該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是組合試驗(yàn)的試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)。試驗(yàn)箱采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法

  GBT2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

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