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資料庫(kù)>GB/T 12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法:高壓、低壓、浸沒(méi)規(guī)定了高壓、低壓、浸沒(méi)試驗(yàn)
GB/T 12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法:高壓、低壓、浸沒(méi)規(guī)定了高壓、低壓、浸沒(méi)試驗(yàn)
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本文由 武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編
2018-10-08 10:00 962閱讀次數(shù)
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GB/T12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第8部分:高壓、低壓、浸沒(méi)規(guī)定了高壓、低壓、浸沒(méi)試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到環(huán)境氣體高壓、低壓或浸沒(méi)影響時(shí)的變化程度。GB/T12085.8-2010用于在使用期間可能遭到浸沒(méi)的儀器。浸沒(méi)試驗(yàn)應(yīng)使用軟水并在敞開(kāi)的水箱里或水壓室中進(jìn)行，浸沒(méi)的深度根據(jù)試樣的Z高部位決定，水溫應(yīng)在10℃~25℃之間，暴露期間試樣的溫度不得低于水溫，但也不可超過(guò)水溫10K。試驗(yàn)用設(shè)備采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的浸水試驗(yàn)箱，可根據(jù)客戶試驗(yàn)需要定制箱體大小，可用于光學(xué)儀器的浸水試驗(yàn)。
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GB/T 12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法:高壓、低壓、浸沒(méi)規(guī)定了高壓、低壓、浸沒(méi)試驗(yàn)- GB/T12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第8部分:高壓、低壓、浸沒(méi)規(guī)定了高壓、低壓、浸沒(méi)試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到環(huán)境氣體高壓、低壓或浸沒(méi)影響時(shí)的變化程度。GB/T12085.8-2010用于在使用期間可能遭到浸沒(méi)的儀器。浸沒(méi)試驗(yàn)應(yīng)使用軟水并在敞開(kāi)的水箱里或水壓室中進(jìn)行，浸沒(méi)的深度根據(jù)試樣的Z高部位決定，水溫應(yīng)在10℃~25℃之間，暴露期間試樣的溫度不得低于水溫，但也不可超過(guò)水溫10K。試驗(yàn)用設(shè)備采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的浸水試驗(yàn)箱，可根據(jù)客戶試驗(yàn)需要定制箱體大小，可用于光學(xué)儀器的浸水試驗(yàn)。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)
- GB/T12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。因?yàn)樵囼?yàn)要求氣壓可以調(diào)節(jié)并且溫度在23℃~40℃之間，普通的真空干燥箱不能達(dá)到試驗(yàn)的溫度要求，所以試驗(yàn)真空干燥箱需重新設(shè)計(jì)制造。適用于電子、塑膠、通訊、磁性材料、環(huán)氧樹(shù)脂、化工涂料、工礦企業(yè)、科研單位、大專院校、運(yùn)動(dòng)器材、大學(xué)試驗(yàn)室及高等院校等。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：太陽(yáng)輻射
- GB/T12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：太陽(yáng)輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電氣等特性受到太陽(yáng)輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗(yàn)箱可模擬太陽(yáng)光的全光譜，可以滿足太陽(yáng)輻射的試驗(yàn)要求，模擬過(guò)程主要是通過(guò)箱體內(nèi)的短弧氙燈實(shí)現(xiàn)。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
- GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)規(guī)定了低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤(pán)上、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。GB/T12085.5-2010試驗(yàn)?zāi)康脑嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到低溫、低氣壓所影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。試驗(yàn)采用設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱。對(duì)于電工、電子、食品、、建材、航天、儀表、電器、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高溫、低溫、干燥、高濕環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)耐干、耐寒、耐熱、耐濕性能測(cè)定有重要意義。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：長(zhǎng)霉
- GB/T12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第11部分：長(zhǎng)霉規(guī)定了長(zhǎng)霉試驗(yàn)用的試驗(yàn)菌種，試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究長(zhǎng)霉對(duì)試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)、機(jī)械和電氣的工作性能的影響程度，以及估價(jià)霉菌代謝產(chǎn)物（比如酶或酸性物質(zhì)）導(dǎo)致對(duì)零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴(yán)重程度。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的霉菌試驗(yàn)箱，[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：砂塵
- GB/T12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分：砂塵規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到塵影響的變化程度，特別是研究運(yùn)動(dòng)部件（如滑動(dòng)面、軸承、接觸器、控制裝置，齒輪）的故障或不能允許的表面磨損，本試驗(yàn)不能用來(lái)確定對(duì)粗粒砂塵的耐磨性。試驗(yàn)所需設(shè)備采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的砂塵試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)環(huán)境。砂塵試驗(yàn)箱模擬塵埃環(huán)境試驗(yàn)生產(chǎn)，用于各種汽車(chē)零部件做防塵及耐塵試驗(yàn)，測(cè)試部件包含有電氣防塵套、儀表、門(mén)鎖、車(chē)燈、轉(zhuǎn)向機(jī)構(gòu)等產(chǎn)品。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法：滴水、淋雨
- GB/T12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第7部分：滴水、淋雨規(guī)定了滴水、淋雨試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)特性受到滴水、淋雨所影響的變化程度。試驗(yàn)條件要求暴露開(kāi)始時(shí)水的溫度應(yīng)低于試樣的溫度，在暴露試驗(yàn)過(guò)程中，試樣應(yīng)被安裝在旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)易于操作的位置，工作臺(tái)繞垂直于灑水區(qū)域的軸向旋轉(zhuǎn)速度為1r/min~2r/min，在試驗(yàn)前，應(yīng)測(cè)量試驗(yàn)所需的滴水和淋雨的速度，并將其嵌入試樣所需占灑水區(qū)域的ZY位置。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的滴水試驗(yàn)機(jī)和箱式淋雨試驗(yàn)箱。滴水試驗(yàn)和淋雨試驗(yàn)要求按照該標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：鹽霧
- GB/T12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：鹽霧規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖潜M早對(duì)儀器表面和保護(hù)涂（鍍）層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評(píng)估。GB/T12085.4-2010適宜于：評(píng)估光學(xué)及其他功能性涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的能力；評(píng)估金屬及非金屬涂（鍍）層抵抗鹽霧腐蝕的效果；提早發(fā)現(xiàn)材料組合的不合理性。鹽霧腐蝕試驗(yàn)對(duì)于光學(xué)儀器有重要意義，腐蝕會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生測(cè)量極ng確度影響。所以鹽霧腐蝕采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱模擬鹽霧環(huán)境。檢測(cè)材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗(yàn)、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)、醋酸鹽霧試驗(yàn)、交變鹽霧試驗(yàn)四種試驗(yàn)。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨
- GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨[詳細(xì)]
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2014-09-02 00:00
實(shí)驗(yàn)操作
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- GB 12085.7-1989光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨
- 設(shè)備名稱型號(hào)工作室尺寸箱式淋雨試驗(yàn)箱LX-500800*800*800LX-0101000x1000x1000主要技術(shù)指標(biāo)1、噴水環(huán)半徑：375或500（mm）2、水管直徑：￠16mm3、噴孔徑：￠0.4mm4、孔徑間距：50mm5、擺管擺幅：90°,180°,270°6、直角轉(zhuǎn)臂：360°旋轉(zhuǎn)7、箱體全不銹鋼，可視鋼化玻璃門(mén)8、配有適中的圓形轉(zhuǎn)盤(pán)（放樣品用）轉(zhuǎn)速可調(diào)9、進(jìn)口變頻調(diào)速器參考資料：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細(xì)]
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2018-09-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：低溫、高溫、濕熱
- GB/T12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。GB/T12085.2-2010主要是規(guī)定光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件，試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。試驗(yàn)環(huán)境所需試驗(yàn)箱采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗(yàn)箱，通過(guò)箱體內(nèi)的相關(guān)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)模擬高溫、低溫、濕度條件。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：露、霜、冰
- GB/T12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第14部分：露、霜、冰規(guī)定了露、霜、冰的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電器等特性受到露、霜、冰影響的程度。露、霜、冰的暴露試驗(yàn)是通過(guò)迅速改變?cè)囼?yàn)箱（室）中的環(huán)境條件或?qū)⒃嚇訌睦洳叵渲修D(zhuǎn)移到已經(jīng)調(diào)好溫度的房間中來(lái)實(shí)現(xiàn)。正常使用情況下不會(huì)暴露在霜或冰凍條件中的儀器，試驗(yàn)前必須將儀器保護(hù)好后再暴露。因?yàn)樵嚇訕悠沸枰M(jìn)行轉(zhuǎn)移操作且轉(zhuǎn)移的兩個(gè)試驗(yàn)箱溫度可調(diào)節(jié)，所以采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫沖擊試驗(yàn)箱實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)條件。兩廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱是通過(guò)吊籃帶動(dòng)樣品在高溫、低溫區(qū)之前移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)高低溫轉(zhuǎn)換。三廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱是由高溫區(qū)、低溫區(qū)、試驗(yàn)區(qū)組成，當(dāng)試驗(yàn)區(qū)與高溫區(qū)結(jié)合時(shí)，可以做高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)區(qū)與低溫區(qū)結(jié)合時(shí)，可以做低溫試驗(yàn)。[詳細(xì)]
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2024-09-28 01:53
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨.pdf
- GB 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 淋雨.pdf[詳細(xì)]
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2015-05-29 00:00
課件
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- GB 12085.4 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧
- GB12085.4-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法鹽霧[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧
- GB 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧[詳細(xì)]
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2024-09-20 21:28
期刊論文
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- GB1208 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
- GB12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB12085 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
- GB12085.1-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法第：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)
- GB/T12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。試樣的各個(gè)部分都達(dá)到與試驗(yàn)箱（室）的溫差在3K之內(nèi)開(kāi)始試驗(yàn)。試樣上允許出現(xiàn)凝露，各試驗(yàn)步驟應(yīng)按照預(yù)定順序依次進(jìn)行，試驗(yàn)過(guò)程不允許中斷。試驗(yàn)環(huán)境模擬設(shè)備采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫濕熱試驗(yàn)箱。高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種復(fù)雜型的溫濕度試驗(yàn)設(shè)備，相較高低溫試驗(yàn)箱可做濕度試驗(yàn)，通過(guò)可程式系統(tǒng)模擬制造高溫、低溫、高低溫轉(zhuǎn)換、高低溫濕度等環(huán)境。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
- GB/T12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)規(guī)定了規(guī)定了振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械和電氣等特性受到振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫影響的變化程度。振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)可采用振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)實(shí)現(xiàn)，高溫、低溫綜合試驗(yàn)采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的高低溫試驗(yàn)箱。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)
- GB/T12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第19部分：溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)規(guī)定了溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。因?yàn)樵囼?yàn)有溫度要求且需要正弦和隨機(jī)振動(dòng)，普通的電磁振動(dòng)臺(tái)無(wú)法滿足溫度要求，所以采用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司的溫濕振三綜合試驗(yàn)箱模擬試驗(yàn)環(huán)境。可以模擬自然界溫度、濕度，且可以模擬正弦與隨機(jī)振動(dòng)波形，應(yīng)用極為廣泛。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
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