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超聲波探傷怎么判斷缺陷大小

mumuli19780227 2018-11-15 01:48:24 754  瀏覽
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2018-11-28 21:10:48 355 0
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例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷:在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有5個或5個以上缺陷反射信號;或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內有5個或5個以上缺陷反射信號;延伸性缺陷:缺陷連續(xù)回波高度至少在一個方向上不得低于起始記錄當量值,... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷:在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有5個或5個以上缺陷反射信號;或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內有5個或5個以上缺陷反射信號;延伸性缺陷:缺陷連續(xù)回波高度至少在一個方向上不得低于起始記錄當量值,其延伸長度應大于缺陷容許的Z大當量直徑,延伸性缺陷的延伸長度采用半波高度法測定。在測定延伸尺寸時應考慮探頭的聲域特性進行修正." 提問 1、密集缺陷判定:上述中密集缺陷定義的在一定范圍內5個或5個以上回波未定義當量值,那么應該怎么確定??例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時在50聲程內發(fā)現(xiàn)有2個很小的回波,但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個以上回波。應該判定為密集嗎???? 2、延伸缺陷判定:例如探傷時發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達記錄限,具有一定長度(長度很短),但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長度很長(該缺陷為非危害性缺陷)。那么該缺陷判定為延伸嗎? 展開
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2012-08-10 16:26:41 480 3
超聲波探傷過程中發(fā)現(xiàn)缺陷,這么算對么
 
2017-08-10 10:17:02 394 1

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