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2018-11-28 21:10:48
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- 超聲波探傷中缺陷的定義如何理解?
- 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷:在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有5個或5個以上缺陷反射信號;或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內有5個或5個以上缺陷反射信號;延伸性缺陷:缺陷連續(xù)回波高度至少在一個方向上不得低于起始記錄當量值,... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷:在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有5個或5個以上缺陷反射信號;或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內有5個或5個以上缺陷反射信號;延伸性缺陷:缺陷連續(xù)回波高度至少在一個方向上不得低于起始記錄當量值,其延伸長度應大于缺陷容許的Z大當量直徑,延伸性缺陷的延伸長度采用半波高度法測定。在測定延伸尺寸時應考慮探頭的聲域特性進行修正." 提問 1、密集缺陷判定:上述中密集缺陷定義的在一定范圍內5個或5個以上回波未定義當量值,那么應該怎么確定??例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時在50聲程內發(fā)現(xiàn)有2個很小的回波,但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個以上回波。應該判定為密集嗎???? 2、延伸缺陷判定:例如探傷時發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達記錄限,具有一定長度(長度很短),但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長度很長(該缺陷為非危害性缺陷)。那么該缺陷判定為延伸嗎? 展開
2013-02-24 08:59:15
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- 工件厚度為400MM,用的是2.5P20Z直探頭。靈敏度為400MM處底波到達屏幕80%處,增加44dB即為400MM處2MM當量靈敏度。例如,在200MM處有一缺陷,降低4dB后,缺陷波到屏幕的80% 該缺陷大小可以這么算:4=40lg400a/2x200 0.1=lga a=1.25 這么計算的話對么??... 工件厚度為400MM,用的是2.5P20Z直探頭。靈敏度為400MM處底波到達屏幕80%處,增加44dB即為400MM處2MM當量靈敏度。例如,在200MM處有一缺陷,降低4dB后,缺陷波到屏幕的80% 該缺陷大小可以這么算:4=40lg400a/2x200 0.1=lga a=1.25 這么計算的話對么??? 還有在120MM處有一缺陷,降低8dB后,缺陷波到屏幕的80% 8=40lg400a/2x120 0.2=lg5a/6 a=1.9 在200MM處有一缺陷,降低2dB后,缺陷波到屏幕的80% 2=40lg400a/2x200 0.05=lga a=1.12 400后的a均代表未知缺陷大小。 我是探傷新手,學的時候本來就半懂不懂,現(xiàn)在算了半天,更加迷茫了,希望高手能指點迷津,謝謝了。如若算的不對,還請附上正確答案,過程越詳細越好,另贈高分,謝謝了,特急! 展開
2012-08-10 16:26:41
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- 超聲波探傷過程中發(fā)現(xiàn)缺陷,這么算對么
2017-08-10 10:17:02
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