超聲波探傷中缺陷的定義如何理解？
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例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，其延伸長(zhǎng)度應(yīng)大于缺陷容許的Z大當(dāng)量直徑，延伸性缺陷的延伸長(zhǎng)度采用半波高度法測(cè)定。在測(cè)定延伸尺寸時(shí)應(yīng)考慮探頭的聲域特性進(jìn)行修正." 提問(wèn) 1、密集缺陷判定：上述中密集缺陷定義的在一定范圍內(nèi)5個(gè)或5個(gè)以上回波未定義當(dāng)量值，那么應(yīng)該怎么確定？？例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時(shí)在50聲程內(nèi)發(fā)現(xiàn)有2個(gè)很小的回波，但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個(gè)以上回波。應(yīng)該判定為密集嗎？？？？ 2、延伸缺陷判定：例如探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達(dá)記錄限，具有一定長(zhǎng)度（長(zhǎng)度很短），但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長(zhǎng)度很長(zhǎng)（該缺陷為非危害性缺陷）。那么該缺陷判定為延伸嗎？ 展開
全部評(píng)論(3條)
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- 和藹的s122 2013-02-25 00:00:00
- 五個(gè)以上回波可以判斷為密集，若是缺陷為非危害性，則不能判斷為延伸！
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- u收巖到px 2013-02-28 00:00:00
- 我的理解是，密集缺陷是單個(gè)缺陷的密集狀態(tài)，密集缺陷中的每一個(gè)缺陷反射都要滿足單個(gè)缺陷的定義，單個(gè)缺陷在標(biāo)準(zhǔn)中是有要求的。
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- ohayo16 2016-06-28 10:46:36
- 密集缺陷是單個(gè)缺陷的密集狀態(tài)，密集缺陷中的每一個(gè)缺陷反射都要滿足單個(gè)缺陷的定義，單個(gè)缺陷在標(biāo)準(zhǔn)中是有要求的。 超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波，在熒光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小。
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- 超聲波探傷中缺陷的定義如何理解？
- 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，其延伸長(zhǎng)度應(yīng)大于缺陷容許的Z大當(dāng)量直徑，延伸性缺陷的延伸長(zhǎng)度采用半波高度法測(cè)定。在測(cè)定延伸尺寸時(shí)應(yīng)考慮探頭的聲域特性進(jìn)行修正." 提問(wèn) 1、密集缺陷判定：上述中密集缺陷定義的在一定范圍內(nèi)5個(gè)或5個(gè)以上回波未定義當(dāng)量值，那么應(yīng)該怎么確定？？例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時(shí)在50聲程內(nèi)發(fā)現(xiàn)有2個(gè)很小的回波，但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個(gè)以上回波。應(yīng)該判定為密集嗎？？？？ 2、延伸缺陷判定：例如探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達(dá)記錄限，具有一定長(zhǎng)度（長(zhǎng)度很短），但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長(zhǎng)度很長(zhǎng)（該缺陷為非危害性缺陷）。那么該缺陷判定為延伸嗎？ 展開
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