全部評(píng)論(1條)
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- 唐瓊利 2017-03-26 00:00:00
- 一、根據(jù)加工工藝分析缺陷性質(zhì) 1.工件中缺陷與加工工藝密切相關(guān)。 2.檢測(cè)前應(yīng)查閱有關(guān)工件的圖樣和資料，了解工件的材料、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、幾何尺寸、加工工藝等。 二、根據(jù)缺陷特征分析缺陷性質(zhì) 缺陷特征：缺陷的形狀、大小、密集程度等。 1.平面型缺陷（裂紋、夾層、折疊等） 垂直于缺陷檢測(cè)時(shí)，回波較高；平行于缺陷檢測(cè)時(shí)，回波較低，甚至無(wú)回波。 2.點(diǎn)狀缺陷（氣孔、小夾渣等） 在不同方向上檢測(cè)，缺陷回波的高度五明顯變化。 3.密集型缺陷（白點(diǎn)、密集氣孔、疏松等） 從不同方向探測(cè)，缺陷回波情況類似，都是密集相連。 三、根據(jù)缺陷波形分析缺陷性質(zhì) 1.靜態(tài)波形 一般聲阻抗小、表面光滑的缺陷，回波較高，波形陡直尖銳，如氣孔、白點(diǎn)等。反之，波形寬度大且?guī)т忼X狀，如夾渣等。 2.動(dòng)態(tài)波形 不同缺陷的動(dòng)態(tài)波形對(duì)探頭移動(dòng)的敏感程度不一樣。通常白點(diǎn)的敏感度較高，只要探頭稍一移動(dòng)，缺陷波立刻此起彼伏，十分活躍。
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熱門(mén)問(wèn)答
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2017-03-25 04:50:04
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2018-04-01 02:51:10
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2013-07-08 15:46:03
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- 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；或在50mm×50mm的探測(cè)面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號(hào)；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，其延伸長(zhǎng)度應(yīng)大于缺陷容許的Z大當(dāng)量直徑，延伸性缺陷的延伸長(zhǎng)度采用半波高度法測(cè)定。在測(cè)定延伸尺寸時(shí)應(yīng)考慮探頭的聲域特性進(jìn)行修正." 提問(wèn) 1、密集缺陷判定：上述中密集缺陷定義的在一定范圍內(nèi)5個(gè)或5個(gè)以上回波未定義當(dāng)量值，那么應(yīng)該怎么確定？？例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時(shí)在50聲程內(nèi)發(fā)現(xiàn)有2個(gè)很小的回波，但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個(gè)以上回波。應(yīng)該判定為密集嗎？？？？ 2、延伸缺陷判定：例如探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達(dá)記錄限，具有一定長(zhǎng)度（長(zhǎng)度很短），但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長(zhǎng)度很長(zhǎng)（該缺陷為非危害性缺陷）。那么該缺陷判定為延伸嗎？ 展開(kāi)
2013-02-24 08:59:15
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