在超聲波探傷中一面顯示有缺陷，而在令一面卻沒有，是怎么回事？謝謝

陽光家園008 2012-05-07 13:43:52 351 瀏覽

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555mxc 2012-05-08 00:00:00

你是探什么啊?

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在超聲波探傷中一面顯示有缺陷，而在令一面卻沒有，是怎么回事？謝謝:

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有人說老師手里有一面顯微鏡，一面放大鏡，還有一面反射鏡為題材的作文:

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什么是超聲波探傷吸收性缺陷: 超聲波探傷中，在探傷同一試塊，為什么有的儀器顯示底波，有的連底波都不顯示

超聲波探傷儀探傷焊縫時(shí)出現(xiàn)缺陷有什么顯示:

鍛件超聲波探傷有缺陷怎么辦?:

一面像貝殼類，一面像元寶這屬于奇石嗎: 像貝殼類的那一面用手越搓越黑，不搓就會(huì)變回原來的色，元寶面越搓越黃，有的地方透光，這是什么石頭？

超聲波探傷中缺陷的定義如何理解？: 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號；或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，... 例如JB/T5000.15-2007中定義“密集區(qū)缺陷：在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號；或在50mm×50mm的探測面上發(fā)現(xiàn)同一深度內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上缺陷反射信號；延伸性缺陷：缺陷連續(xù)回波高度至少在一個(gè)方向上不得低于起始記錄當(dāng)量值，其延伸長度應(yīng)大于缺陷容許的Z大當(dāng)量直徑，延伸性缺陷的延伸長度采用半波高度法測定。在測定延伸尺寸時(shí)應(yīng)考慮探頭的聲域特性進(jìn)行修正." 提問 1、密集缺陷判定：上述中密集缺陷定義的在一定范圍內(nèi)5個(gè)或5個(gè)以上回波未定義當(dāng)量值，那么應(yīng)該怎么確定？？例如現(xiàn)有一工件在探傷靈敏度下時(shí)在50聲程內(nèi)發(fā)現(xiàn)有2個(gè)很小的回波，但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)有5個(gè)以上回波。應(yīng)該判定為密集嗎？？？？ 2、延伸缺陷判定：例如探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)工件有一缺陷在探傷靈敏度下未達(dá)記錄限，具有一定長度（長度很短），但在掃查靈敏度下發(fā)現(xiàn)該缺陷長度很長（該缺陷為非危害性缺陷）。那么該缺陷判定為延伸嗎？展開